Influence of neutron irradiation on etching of SiC in KOH


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

The effect of reactor neutron irradiation on the etch rate of SiC in potassium hydroxide has been studied. In the case of high irradiation doses (1019–1021 cm–2), the etch rate of silicon carbide has been shown to drastically rise, especially in the [0001]Si direction. This considerably mitigates the orientation anisotropy of polar face etching. After high-temperature annealing (up to 1200–1400°C), a higher etch rate of irradiated crystals persists. The results have been explained by the high concentration of radiation-induced (partially clustered) defects they contain.

Об авторах

E. Mokhov

Ioffe Institute

Автор, ответственный за переписку.
Email: mokhov@mail.ioffe.ru
Россия, Politekhnicheskaya ul. 26, St. Petersburg, 184021

O. Kazarova

Ioffe Institute

Email: mokhov@mail.ioffe.ru
Россия, Politekhnicheskaya ul. 26, St. Petersburg, 184021

V. Soltamov

Ioffe Institute

Email: mokhov@mail.ioffe.ru
Россия, Politekhnicheskaya ul. 26, St. Petersburg, 184021

S. Nagalyuk

Ioffe Institute

Email: mokhov@mail.ioffe.ru
Россия, Politekhnicheskaya ul. 26, St. Petersburg, 184021

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2017

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).