Investigation of the Hydrogen Etching Effect of the SiC Surface on the Formation of Graphene Films


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

We have studied the effect of temperature and etching duration of the 4H-SiC (0001) surface in hydrogen on the structural perfection of graphene films grown by thermal destruction. Several technological modes have been identified that enable etching of the substrate without changing the stoichiometric composition of the surface. It has been demonstrated that pregrowth etching in hydrogen at T = 1600°C with a duration of 1 min makes it possible to obtain a more uniform and structurally perfect graphene than etching at T = 1300°C with a 30 min duration.

Об авторах

S. Lebedev

Ioffe Institute

Автор, ответственный за переписку.
Email: lebedev.sergey@mail.ioffe.ru
Россия, St. Petersburg, 194021

I. Barash

Ioffe Institute

Email: lebedev.sergey@mail.ioffe.ru
Россия, St. Petersburg, 194021

I. Eliseyev

Ioffe Institute

Email: lebedev.sergey@mail.ioffe.ru
Россия, St. Petersburg, 194021

P. Dementev

Ioffe Institute

Email: lebedev.sergey@mail.ioffe.ru
Россия, St. Petersburg, 194021

A. Lebedev

Ioffe Institute; St. Petersburg State Electrotechnical University LETI

Email: lebedev.sergey@mail.ioffe.ru
Россия, St. Petersburg, 194021; St. Petersburg, 197376

P. Bulat

ITMO University

Email: lebedev.sergey@mail.ioffe.ru
Россия, St. Petersburg, 197101

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2019

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).