Автор туралы ақпарат
Volkov, Y. O.
Шығарылым | Бөлім | Атауы | Файл |
Том 64, № 5 (2019) | Surface and Thin Films | Comparison of Transmission Electron Microscopy and X-Ray Reflectometry Data in the Study of the Structure of Silicon-Carbon Nanocomposite Films |