Average decay rate constants and excitation energies for metal clusters sputtered by SF5+ and inert gas ions


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

Results from a comparative SIMS study of the fragmentation of metal clusters sputtered with atomic Xe+ and molecular SF5+ ions are presented. It is shown that the average decay rate constants and, hence, the excitation energies of clusters of the same stoichiometry do not depend on the type of bombarding ions.

Авторлар туралы

S. Maksimov

Institute of Ion-Plasma and Laser Technology

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: maksimov_s@yahoo.com
Өзбекстан, Tashkent, 100125

N. Dzhemilev

Institute of Ion-Plasma and Laser Technology

Email: maksimov_s@yahoo.com
Өзбекстан, Tashkent, 100125

S. Kovalenko

Institute of Ion-Plasma and Laser Technology

Email: maksimov_s@yahoo.com
Өзбекстан, Tashkent, 100125

V. Tugushev

Institute of Ion-Plasma and Laser Technology; Joint Institute for High Temperatures

Email: maksimov_s@yahoo.com
Өзбекстан, Tashkent, 100125; Moscow, 127412

O. Tukfatullin

Institute of Ion-Plasma and Laser Technology

Email: maksimov_s@yahoo.com
Өзбекстан, Tashkent, 100125

Sh. Khozhiev

Institute of Ion-Plasma and Laser Technology

Email: maksimov_s@yahoo.com
Өзбекстан, Tashkent, 100125

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Allerton Press, Inc., 2016