Квантовый размерный эффект блоховских волновых функций электронов сверхвысокой энергии в тонкой монокристаллической пленке

Обложка

Цитировать

Полный текст

Аннотация

Проведен расчет коэффициента отражения электронов сверхвысокой энергии (~1 МэВ) при их нормальном падении на тонкую монокристаллическую пленку. Показано, что и при столь высоких энергиях частиц заметно проявляется квантовый размерный эффект у сформировавшихся в пленке блоховских волн. Установлено, что при определенной энергии электронов возникают узкие брэгговские пики. Приведена формула, определяющая их положение и интенсивность на кривые отражения. Проведено сравнение коэффициентов отражения при средних, высоких и сверхвысоких энергиях частиц.

Об авторах

С. М. Шкорняков

Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова ФНИЦ “Кристаллография и фотоника” РАН

Автор, ответственный за переписку.
Email: shkornyakov@mail.ru
Россия, Москва

Список литературы

  1. Shishido F. // Tech. Rep. ISSP. Ser. A. 1973. № 616. P. 1.
  2. Пшеничнов Е.А. // ФТТ. 1962. Т. 4. Вып. 5. С. 1113.
  3. Schnupp P. // Phys. Stat. Sol. 1967. V. 21. P. 567.
  4. Schnupp P. // Solid State Electron. 1967. V. 10. P. 785.
  5. Lopez-Cruz E., Helman J.S. //Phys. Rev. B. 1974. V. 6. № 4. P. 1751.
  6. Van Rossum M.C.W., Nieuwenhuizen Th.M. // Rev. Mod. Phys. 1999. V. 71. № 1. P. 313.
  7. Barra F., Gaspard P. // J. Phys. A. 1999. V. 32. P. 3357.
  8. Драгунов В.П., Неизвестный И.Г., Гридчин В.Ф. Основы наноэлектроники. М.: Физматкнига-Логос, 2006. 494 с.
  9. Щука А.А. Наноэлектроника. М.: Физматкнига, 2007. 463 с.
  10. Мартинес-Дуарт Дж М., Мартин-Палма Р Дж., Агулло-Руеда Ф. Нанотехнологии для микро - и оптоэлектроники. Сер. Мир материалов и технологий. М.: Техносфера, 2007. 367 с.
  11. Li J., Chen M., Samad A. et al. // Nat. Mater. 2022. V. 21. P. 740.
  12. Hoang A.T., Hu L., Katiyar A.K., Ahn J.-H. // Matter. 2022. V. 5. P. 4116.
  13. Шкорняков С.М. // Поверхность. Рентген., синхротр. и нейтрон. исслед. 2022. № 2. С. 104. https://doi.org./10.31857/S1028096022020121 (Shkornyakov S.M. // J. Surf. Invest.: X-Ray, Synchrotron Neutron Tech. 2022. V. 16. №1. P. 181. https://doi.org./10.1134/S1027451022010311
  14. Шкорняков С.М. // Поверхность. Рентген., синхротр. и нейтрон. исслед. 2022. № 8. С. 102. https://doi.org./10.31857/S1028096022080143 (Shkornyakov S.M. // J. Surf. Invest.: X-Ray, Synchrotron Neutron Tech. 2022.V.16. № 4. P. 653. https://doi.org./10.1134/S1027451022040334)
  15. Шкорняков С.М. // Поверхность. Рентген., синхротр. и нейтрон. исслед. 2017. № 6. С. 83. https://doi.org./10.7868/S020735281706018X (Shkornyakov S.M. // J. Surf. Invest.: X-Ray, Synchrotron Neutron Tech. 2017. V. 11. № 3. P. 650. https://doi.org./10.1134/S1027451017030351)
  16. Хирш П., Хови А., Николсон Р., Пэшли Д., Уэлан М. Электронная микроскопия тонких кристаллов. М.: Мир, 1968. 574 с. (Hirsch P.B., Howie A., Nicholson R.B., Pashley D.W., Whelan M.J. Electron Microscopy of Thin Crystals.London, Butterworths, 1965.)

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML
Скачать
2. Рис. 1. Схема потенциальной энергии электрона в пленке: V0 – средняя внутренняя энергия; N – число параллельных поверхности монослоев в пленке; c – период одномерной решетки; t – амплитуда прошедшей волны; r – амплитуда отраженной волны

Скачать (99KB)
Метаданные
3. Рис. 2. График зависимости коэффициента отражения R от энергии падающих электронов Е в диапазоне около 1 МэВ. Параметры: c = 5 Å, y = –2, V0 = 0, N = 300

Скачать (98KB)
Метаданные
4. Рис. 3. Зависимость коэффициента отражения R от энергии падающих электронов Е в диапазоне около 1 МэВ в увеличенном масштабе по оси ординат

Скачать (106KB)
Метаданные
5. Рис. 4. Зависимость коэффициента отражения R от энергии падающих электронов Е в диапазоне около 1 МэВ при еще большем увеличении масштаба как по оси x, так и по оси y

Скачать (120KB)
Метаданные
6. Рис. 5. Кривые R(E) для трех диапазонов энергии падающих электронов: а – средней; б – высокой; в – сверхвысокой

Скачать (344KB)
Метаданные

© Российская академия наук, 2024

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».