Влияние флуенса электронов на концентрацию центров окраски в полых частицах оксида алюминия

Обложка

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

Исследовано влияние флуенса электронов с энергией 30 кэВ в диапазоне (1–7) × 1016 см–2 на концентрацию центров окраски в полых частицах оксида алюминия микронного размера в сравнении с объемными микрочастицами Al2O3. Анализ проводили по спектрам диффузного отражения в области от 250 до 2500 нм in situ. Радиационную стойкость исследуемых микросфер оценивали относительно микрочастиц Al2O3 из анализа разностных спектров диффузного отражения, полученных вычитанием спектров после облучения из спектров необлученных образцов. Изменения разностных спектров диффузного отражения микрочастиц и микросфер оксида алюминия показали, что с увеличением флуенса электронов наведенное поглощение увеличивается во всем спектре. Установлено, что радиационная стойкость микросфер оксида алюминия к воздействию электронов с энергией 30 кэВ при флуенсе (1–7) × 1016 см–2 больше по сравнению с радиационной стойкостью микрочастиц Al2O3. Увеличение радиационной стойкости полых частиц оксида алюминия обусловлено малой концентрацией радиационных дефектов анионной подрешетки.

Об авторах

В. Ю. Юрина

Амурский государственный университет; Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники

Автор, ответственный за переписку.
Email: viktoriay-09@mail.ru
Россия, 675027, Благовещенск; Россия, 634050, Томск

А. Н. Дудин

Амурский государственный университет

Email: v1ta1y@mail.ru
Россия, 675027, Благовещенск

В. В. Нещименко

Амурский государственный университет; Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники

Автор, ответственный за переписку.
Email: v1ta1y@mail.ru
Россия, 675027, Благовещенск; Россия, 634050, Томск

М. М. Михайлов

Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники

Email: v1ta1y@mail.ru
Россия, 634050, Томск

Список литературы

  1. Михайлов М.М. Радиационное и космическое материаловедение. Томск: Издательство Томского университета, 2008. 314 с.
  2. Акишин А.И. Космическое материаловедение. Методическое и учебное пособие. М.: НИИЯФ МГУ, 2007. 209 с.
  3. Михайлов М.М. Прогнозирование оптической деградации терморегулирующих покрытий космических аппаратов. Новосибирск: Сиб. изд. фирма РАН “Наука”, 1999. 192. c.
  4. Neshchimenko V.V., Chundong Li, Mikhailov M.M., Jinpeng Lv. // Nanoscale. 2018. V. 47. № 10. P. 22335. https://www.doi.org/10.1039/C8NR04455D
  5. Neshchimenko V.V., Chundong Li, Mikhailov M.M. // Dyes and Pigments. 2017. V. 145. P. 354. https://www.doi.org/10.1007/s11182-018-1566-4
  6. Mikhailov M.M., Neshchimenko V.V., Sokolovskiy A.N., Yurina V.Yu. // Progress in Organic Coatings. 2019. V. 131. P. 340. https://www.doi.org/10.1016/j.porgcoat.2019.03.001
  7. Bladh K.W., Bideaux R.A., Anthony-Morton E., Nichols B.G. The Handbook of Mineralogy III. Mineral Data Publishing, 1997. P. 628.
  8. Batra I.P. // J. Phys. C: Solid State Phys. 1982. V. 15. P. 5399. https://www.doi.org/10.1088/0022-3719/15/26/019
  9. Mo S.D., Xu Y.N., Ching W.Y. // J. Am. Ceram. Soc. 1997. V. 80. P. 1193.
  10. Arnal P.M., Comotti, M., Schüth F. // Angew. Chem. Int. Ed. 2006. V. 45. № 48. P. 8224. https://www.doi.org/10.1002/anie.200603507
  11. Wang Y.W., Tseng W.J. // J. Am. Ceram. Soc. 2008. V. 92. P. 32. https://www.doi.org/10.1111/j.1551-2916.2008.02653.x
  12. Serebryakova M.A., Zaikovskii A.V., Sakhapov S.Z., Smovzh D.V., Sukhinin G.I., Novopashin S.A. // Int. J. Heat Mass Transfer. 2017. V. 108. P. 1314. https://www.doi.org/10.1016/j.ijheatmasstransfer. 2016.12.098
  13. Aluker E.D., Gavrilov V.V., Chernov S. A. // Phys. Status Solidi B. 1992. V. 1. P. 283. https://www.doi.org/10.1002/pssb.2221710131
  14. Evans B.D., Pogatshnik G.J., Chen Y. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 1994. V. 91. P. 258. https://www.doi.org/10.1016/0168-583x(94)96227-8
  15. Crawford J.H. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 1986. V. 1. P. 159. https://www.doi.org/10.1016/0168-583x(84)90063-6
  16. Вертц Дж., Болтон Дж., Теория и практические приложения метода ЭПР. М.: Мир, 1975. 548 с.
  17. Raj S.S., Gupta S.K., Pathak N., Grover V., Tyagi A.K. // Adv. Powder Technol. 2017. V. 28. P. 1505. https://www.doi.org/10.1016/j.apt.2017.03.020
  18. Kim J.S., Kang H.I., Kim W.N., Kim J.I., Choi J.C., Park H.L., Kim G.C., Kim T.W., Hwang Y.H., Mho S.I., Jung M.-C., Han M. // Appl. Phys. Lett. 2003. V. 82. P. 2029. https://www.doi.org/10.1063/1.1564632
  19. Boumaza A., Favaro L., Ledion J., Sattonnay G., Brubach J.B., Berthet P., Huntz A.M., Roy P., Tetot R. // J. Solid State Chem. 2009. V. 182. P. 1171. https://www.doi.org/10.1016/j.jssc.2009.02.006
  20. Surdo A.I., Pustovarov V.A., Kortov V.S., Kishka A.S., Zinin E.I. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A. 2005. V. 543. P. 234. https://www.doi.org/10.1016/j.nima.2005.01.189
  21. Itou M.A., Fujiwara T.U // J. Phys. Chem. C. 2009. V. 113. P. 20949. https://www.doi.org/10.1021/JP908417M
  22. Watcharatharapong T., Thienprasert J.T., Limpijumnong S. // Integrated Ferroelectrics. 2014. V. 156. P. 79. https://www.doi.org/10.1080/10584587.2014.906290
  23. Pustovarov V.A., Perevalov T.V., Gritsenko V.A., Smirnova T.P., Yelisseyev A.P. // Thin Solid Films. 2011. V. 519. P. 6319. https://www.doi.org/10.1016/j.tsf.2011.04.014
  24. Wang L., Zhang L.D., Wang J.H., Feng Y.J., Feng K.M., Yang J.J., Liu N. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 2017. V. 406. P. 600. https://www.doi.org/10.1016/j.nimb.2017.02.073
  25. Caulfield K.J., Cooper R., Boas J.F. // Phys. Rev. B. 1993. V. 47. P. 55. https://www.doi.org/10.1103/PhysRevB.47.55
  26. Perevalov T.V., Tereshenko O.E., Gritsenko V.A., Pustovarov V.A., Yelisseyev A. P., Park C., Lee C. // J. Appl. Phys. 2010. V. 108. P. 013501. https://www.doi.org/10.1063/1.3455843
  27. Pustovarov V.A. Aliev V.S., Perevalov T.V., Gritsenko V.A., Eliseev A.P. // J. Exp. Theor. Phys. 2010. V. 111. P. 989. https://www.doi.org/10.1134/S1063776110120113
  28. Stashans A., Kotomin E., Calais J.-L. // Phys. Rev. B. 1994. V. 49 № 21. P. 14854. https://www.doi.org/10.1103/PhysRevB.49.14854
  29. Iurina V.Yu., Neshchimenko V.V., Chundong Li. // J. Surf. Invest.: X-Ray, Synchrotron Neutron Tech. 2020. V. 14. № 2. P. 253. https://www.doi.org/10.1134/S102745102002038X
  30. Косицын Л.Г., Михайлов М.М., Кузнецов Н.Я., Дворецкий М.И. // Приборы и техника эксперимента. 1985. № 4. С. 176.
  31. Dienes G.J., Welch. D.O., Fischer C.R., Hatcher R.D., Lazareth O., Samberg M. // Phys. Rev. B: Solid State. 1975. V. 11. P. 3060. https://www.doi.org/10.1103/PHYSREVB.11.3060

Дополнительные файлы


© В.Ю. Юрина, А.Н. Дудин, В.В. Нещименко, М.М. Михайлов, 2023

Данный сайт использует cookie-файлы

Продолжая использовать наш сайт, вы даете согласие на обработку файлов cookie, которые обеспечивают правильную работу сайта.

О куки-файлах