Theoretical study of electron exchange under grazing scattering on thin metal films

Capa

Citar

Texto integral

Acesso aberto Acesso aberto
Acesso é fechado Acesso está concedido
Acesso é fechado Somente assinantes

Resumo

Electron exchange during grazing scattering of hydrogen ions on thin metal films is considered. The main characteristic being studied is the yield fraction, i.e. the probability of the formation of a certain charge state of a scattered particle (in the case under consideration, H–) as a function of the velocity component parallel to the surface of the sample. Based on an analysis of the electron distribution in the space of wave vectors, using the generally accepted model of displacement of Fermi spheres, it was shown that the dependence of the probability of the formation of a negative hydrogen ion on the parallel velocity component should decrease monotonically.

Sobre autores

I. Gainullin

Lomonosov Moscow State University

Autor responsável pela correspondência
Email: ivan.gainullin@physics.msu.ru
Rússia, Moscow

Bibliografia

  1. Martynenko Yu. V. // Sov. Phys. Solid State. 1964. V. 3529. P. 2003.
  2. Yurasova V.E., Chernysh V.S., Kuvakin M.V., Shelyakin L.B. // JETP Lett. 1975. V. 21. № 3. P. 79.
  3. Xiao Y., Shi Y., Liu P., Zhu Y., Gao L., Guo Y., Chen L., Chen X., Esaulov V. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 2019. V. 450. P. 73. http://doi.org/10.1016/j.nimb.2018.11.022
  4. Mamedov N.V., Mamedov I.M. // Bull. Russ. Acad. Sci.: Phys. 2020. V. 84. P. 713. http://doi.org/10.3103/S1062873820060155
  5. Balakshin Y.V., Kozhemiako A.V., Evseev A.P., Minnebaev D.K., Elsehly E.M. // Moscow University Phys. Bull. 2020. V. 75. Р. 218. http://doi.org/10.3103/S0027134920030030
  6. Shemukhin A.A., Smirnov A.M., Evseev A.P., Vorobyeva E.A., Kozhemiako A.V., Minnebaev D.K., Balakshin Y.V., Nazarov A.V., Chernysh V.S. // Moscow University Phys. Bull. 2020. V. 75. P. 133. http://doi.org/10.3103/S0027134920020113
  7. Tolstogouzov A., Daolio S., Pagura C. // Surf. Sci. 1999. V. 441. P. 213. http://doi.org/10.1016/S0039-6028(99)00881-X
  8. Elovikov S.S., Zykova E.Yu., Mosunov A.S. et al. // Bull. Russ. Acad. Sci. Phys. 2002. V. 66. P. 558.
  9. Bogomolova L.D., Borisov A.M., Kurnaev V.A., Mashkova E.S. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 2003. V. 212. P. 164. http://doi.org/10.1016/S0168-583X(03)01730-0
  10. Zinoviev A.N., Babenko P.Y., Meluzova D.S., Shergin A.P. // JETP Lett. 2018. V. 108. P. 633. http://doi.org/10.1134/S0021364018210154
  11. Los J., Geerlings J.J.C. // Phys. Rep. 1990. V. 190. P. 133.
  12. Karaseov P.A., Karabeshkin K.V., Titov A.I., Shilov V.B., Ermolaeva G.M., Maslov V.G., Orlova A.O. // Semiconductors. 2014. V. 48. № 4. P. 446. http://doi.org/10.1134/S1063782614040125
  13. Andrianova N.N., Borisov A.M., Mashkova E.S., Shulga V.I. // J. Surf. Invest.: X-Ray, Synchrotron Neutron Tech. 2016. V. 10. P. 412. http://doi.org/10.1134/S1027451016020233
  14. Zykova E.Y., Khaidarov A.A., Ivanenko I.P., Gainullin I.K. // J. Surf. Invest.: X-Ray, Synchrotron Neutron Tech. 2012. V. 6. P. 877. http://doi.org/10.1134/S102745101211016X
  15. Gainullin I.K. // Surf. Sci. 2019. V. 681. P. 158. http://doi.org/10.1016/j.susc.2018.11.003
  16. Gainullin I.K. // Physics-Uspekhi. 2020. V. 63. № 9. http://doi.org/10.3367/UFNe.2019.11.038691
  17. Gainullin I. K // Surf. Sci. 2018. V. 677. P. 324. http://doi.org/10.1016/j.susc.2018.08.007
  18. Winter H. // Phys. Rep. 2002. V. 367. P. 387. http://doi.org/10.1016/S0370-1573(02)00010-8
  19. Liu P., Gainullin I.K., Esaulov V.A. et al. // Phys. Rev. A. 2020. V. 101. P. 032706. http://doi.org/10.1103/PhysRevA.101.032706
  20. Shi Y., Yin L., Ding B. et al. // Phys. Rev. A. 2022. V. 105. P. 042807. http://doi.org/10.1103/PhysRevA.105.042807
  21. Van Wunnik J.N.M., Brako R., Makoshi K., Newns D.M. // Surf. Sci. 1983. V. 126. № 1–3. P. 618.
  22. Borisov A.G., Winter H. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 1996. V. 115. № 1–4. P. 1425. http://doi.org/10.1016/0168-583X(96)01518-2
  23. Усман Е.Ю., Гайнуллин И.К., Уразгильдин И.Ф. // Вестн. Моск. ун-та. 2005. № 2. С. 23.
  24. Amanbaev E.R., Shestakov D.K., Gainullin I.K. // J. Surf. Invest.: X-Ray, Synchrotron Neutron Tech. 2009. V. 3. P. 865. http://doi.org/10.1134/S1027451009060032
  25. Magunov A.A., Shestakov D.K., Gainullin I.K., Urazgil’din I.F. // J. Surf. Invest.: X-Ray, Synchrotron Neutron Tech. 2008. V. 2. P. 764. http://doi.org/10.1134/S1027451008050170
  26. Shestakov D.K., Polivnikova T.Yu., Gainullin I.K., Urazgildin I.F. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 2009. V. 267. P. 2596. http://doi.org/10.1016/j.nimb.2009.05.043
  27. Gainullin I.K., Urazgildin I.F. // Phys. Rev. B. 2006. V. 74. P. 205403. http://doi.org/10.1103/PhysRevB.74.205403
  28. Souda R., Ayzawa T., Hayami W., Otani S., Ishizawa Y. // Phys. Rev. B. 1990. V. 42. P. 7761. http://doi.org/10.1103/PhysRevB.42.7761
  29. Amanbaev E.R., Gainullin I.K., Zykova E.Yu., Urazgildin I.F. // Thin Solid Films. 2011. V. 519. P. 4737. http://doi.org/10.1016/j.tsf.2011.01.026
  30. Gainullin I.K. // Phys. Rev. A. 2019. V. 100. P. 032712. http://doi.org/10.1103/PhysRevA.100.032712
  31. Canário , Borisov , Gauyacq , Esaulov // Phys. Rev. B. 2005. V. 71. № 12. P. 121401. http://doi.org/10.1103/PhysRevB.71.121401
  32. Gainullin I.K., Usman E.Yu., Song Y.W., Urazgil’din I.F. // Vacuum. 2003. V. 72. P. 263. http://doi.org/10.1016/j.vacuum.2003.07.001
  33. Usman E.Yu., Urazgil’din I.F., BorisovA.G., Gauyacq J.P. // Phys. Rev. B. 2001. V. 64. P. 205405. http://doi.org/10.1103/PhysRevB.64.205405
  34. Gainullin I.K., Usman E.Y., Urazgil’din I.F. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 2005. V. 232. P. 22. http://doi.org/10.1016/j.nimb.2005.03.019
  35. Moskalenko S.S., Gainullin I.K. // J. Surf. Invest.: X-Ray, Synchrotron Neutron Tech. 2023. V. 17. P. 299. http://doi.org/10.1134/S1027451022060155
  36. Obreshkov B., Thumm U. // Phys. Rev. A. 2013. V. 87. P. 022903. http://doi.org/10.1103/PhysRevA.87.022903
  37. Melkozerova J.A., Gainullin I.K. // J. Surf. Invest.: X-Ray, Synchrotron Neutron Tech. 2023. V. 12. P. 1175. http://doi.org/10.1134/S1027451022060143
  38. Gao L., Zhu Y., Shi Y., Liu P., Xiao Y., Li G., Liu Y., Esaulov V.A., Chen X., Chen L., Guo Y. // Phys. Rev. A. 2017. V. 96. P. 052705. http://doi.org/10.1103/PhysRevA.96.052705
  39. Klimov N.E., Gainullin I.K. // J. Surf. Invest.: X-Ray, Synchrotron Neutron Tech. 2023. V. 17. № 1. P. 72. http://doi.org/10.1134/S1027451023010123
  40. Shaw J., Zhang Y., Doerr D., Chakraborty H., Monismith D. // Phys. Rev. A. 2019. V. 98. P. 052705. http://doi.org/10.1103/PhysRevA.98.052705
  41. Shaw J., Monismith D., Zhang Y., Doerr D., Chakraborty H.S. // Atoms. 2020. V. 7. P. 89. http://doi.org/10.3390/atoms7030089
  42. Iglesias-García A., Romero M.A., García E.A., Goldberg E.C. // Phys. Rev. B. 2020. V. 102. P. 115406. http://doi.org/10.1103/PhysRevB.102.115406
  43. Gainullin I.K., Sonkin M.A. // Phys. Rev. A. 2015. V. 92. P. 022710. http://doi.org/10.1103/PhysRevA.92.022710
  44. Gainullin I.K. // Moscow University Phys. Bull. 2019. V. 74. P. 585. http://doi.org/10.3103/S0027134919060158
  45. Gainullin I.K. // Comp. Phys. Commun. 2017. V. 210. P. 72. http://doi.org/10.1016/j.cpc.2016.09.021
  46. Gainullin I.K., Sonkin M.A. // Comp. Phys. Commun. 2015. V. 188. P. 68. http://doi.org/10.1016/j.cpc.2014.11.005
  47. Gainullin I.K. // Phys. Rev. A. 2017. V. 95. P. 052705. http://doi.org/10.1103/PhysRevA.95.052705
  48. Gainullin I.K., Sonkin M.A. // Phys. Rev. A. 2015. V. 92. P. 022710. http://doi.org/10.1103/PhysRevA.92.022710
  49. Aleksandrov A.F., Gainullin I.K., Sonkin M.A. // J. Surf. Invest.: X-Ray, Synchrotron Neutron Tech. 2020. V. 14. P. 791. http://doi.org/10.1134/S1027451020040205
  50. Majorosi S., Czirják A. // Comp. Phys. Comm. 2016. V. 208. P. 9. http://doi.org/10.1016/j.cpc.2016.07.006
  51. Gainullin I.K., Klavsyuk A.L. // Bull. Russ. Acad. Sci. Phys. 2012. V. 76. P. 542. http://doi.org/10.3103/S1062873812050115
  52. Fu Y., Zeng J., Yuan J. // Comp. Phys. Commun. 2017. V. 210. P. 181. http://doi.org/10.1016/j.cpc.2016.09.016
  53. Gainullin I.K., Sonkin M.A. // Math. Models Comput. Simulations. 2019. V. 11. P. 964. http://doi.org/10.1134/S2070048219060048
  54. Lüdde H.J., Horbatsch M., Kirchner T. // Eur. Phys. 2018. V. 91. P. 99. http://doi.org/10.1140/epjb/e2018-90165-x
  55. Zhou S.P., Liu A.H., Liu F.C., Wang C.C., Ding D.J. // Chin. Phys. B. 2019. V. 28. P. 083101. http://doi.org/10.1088/1674-1056/28/8/083101
  56. Liu Q., Liu F., Hou C. // Proc. Comput. Sci. 2020. V. 171. P. 312. http://doi.org/10.1016/j.procs.2020.04.032
  57. Cohen J.S., Fiorentini G. // Phys. Rev. A. 1986. V. 33. P. 1590.
  58. Jennings P.J., Jones R.O., Weinert M. // Phys. Rev. B. 1988. V. 37. P. 6113.

Arquivos suplementares

Arquivos suplementares
Ação
1. JATS XML
Baixar

Declaração de direitos autorais © Russian Academy of Sciences, 2024

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».