О математической модели диффузии экситонов в полупроводнике с учетом их переменного времени жизни
- Авторы: Серегина Е.В.1, Степович М.А.2, Филиппов М.Н.3
-
Учреждения:
- Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана (национальный исследовательский университет), Калужский филиал
- Калужский государственный университет им. К.Э. Циолковского
- Институт общей и неорганической химии им. Н.С. Курнакова РАН
- Выпуск: № 3 (2023)
- Страницы: 74-78
- Раздел: Статьи
- URL: https://journals.rcsi.science/1028-0960/article/view/137726
- DOI: https://doi.org/10.31857/S1028096023030159
- EDN: https://elibrary.ru/LMVMMK
- ID: 137726
Цитировать
Аннотация
Описана зависимость от времени концентрации неравновесных неосновных носителей заряда, генерированных в однородном полупроводниковом материале остро сфокусированным электронным пучком, электронным зондом, после прекращения облучения мишени. Построена математическая модель нестационарной диффузии заряженных частиц, созданных электронным зондом низкой энергии в полупроводниковой мишени, при наличии двух независимых каналов рекомбинации сгенерированных носителей заряда в материале мишени. Применение низкоэнергетического электронного зонда позволило при моделировании использовать двухмерную математическую модель диффузии. В качестве начального условия в этой модели взято распределение концентрации неравновесных неосновных носителей заряда в условиях квазиравновесия, до выключения электронного облучения. При наличии двух независимых каналов рекомбинации профиль спада концентрации неравновесных неосновных носителей заряда в мишени после выключения электронного облучения описан суммой двух экспонент, зависящих от времени. Такой подход позволил получить решение дифференциального уравнения двухмерной диффузии носителей заряда с учетом их переменного эффективного времени жизни. Практическое приложение разработанной математической модели реализовано для метода времяпролетной катодолюминесценции при описании диффузии экситонов в монокристаллическом нитриде галлия с учетом зависимости концентрации сгенерированных экситонов от времени.
Об авторах
Е. В. Серегина
Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана(национальный исследовательский университет), Калужский филиал
Автор, ответственный за переписку.
Email: evfs@yandex.ru
Россия, 248000, Калуга
М. А. Степович
Калужский государственный университет им. К.Э. Циолковского
Email: evfs@yandex.ru
Россия, 248023, Калуга
М. Н. Филиппов
Институт общей и неорганической химии им. Н.С. Курнакова РАН
Email: evfs@yandex.ru
Россия, 119991, Москва
Список литературы
- Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение / Ред. Жу У., Уанга Ж.Л. М.: БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013. 582 с.
- Goldstein J.I., Newbury D.E., Michael J.R., Ritchie N.W., Scott J.H.J., Joy D.C. Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis. N.Y. Inc.: Springer-Verlag, 2018. 550 p.
- Конников С.Г., Сидоров А.Ф. Электронно-зондовые методы исследования полупроводниковых материалов и приборов. М.: Энергия, 1978. 135 с.
- Якимов Е.Б. // Кристаллография. 2021. Т. 66. № 4. С. 540. https://www.doi.org/10.31857/S0023476121040226
- Yacobi B.G., Holt D.B. Cathodoluminescence microscopy of inorganic solids. N.Y.: Plenum Press, 1990. 354 pp.
- Соломонов В.И., Михайлов С.Г. Импульсная катодолюминесценция и ее применение для анализа конденсированных веществ. Екатеринбург: НИСО УрО РАН, 2003. 181 с.
- Saparin G.V., Obyden S.K., Ivannikov P.V. // Scanning. 1996. V. 18. № 4. P. 281. https://www.doi.org/10.1002/sca.1996.4950180404
- Noltemeyer M., Bertram F., Hempel T., Bastek B., Polyakov A., Christen J., Brandt M., Lorenz M., Grundmann M. // J. Mater. Research. 2012. V. 27. Iss. 17. P. 2225.
- Поляков А.Н., Noltemeyer M., Hempel T., Christen J., Степович М.А. // Прикладная физика. 2012. № 6. С. 41.
- Поляков А.Н., Noltemeyer M., Hempel T., Christen J., Степович М.А. // Поверхность. Рентген., синхротр. и нейтрон. исслед. 2012. № 11. С. 35.
- Polyakov A.N., Smirnova A.N., Stepovich M.A., Turtin D.V. // Lobachevskii J. Math. 2018. V. 39. № 2. P. 259.
- Stepovich M.A., Turtin D.V., Seregina E.V., Polyakov A.N. // J. Phys.: Conf. Ser. 2019. V. 1203. P. 012095.
- Поляков А.Н., Noltemeyer M., Hempel T., Christen J., Степович М.А. // Прикладная физика. 2015. № 4. С. 11.
- Михеев Н.Н., Петров В.И., Степович М.А. // Известия АН СССР. Серия физическая. 1991. Т. 55. № 8. С. 1474.
- Туртин Д.В., Степович М.А., Калманович В.В., Серегина Е.В. // Проблемы математического анализа: Межвузовский сборник. 2021. Вып. 110. С. 89.
- Seregina E.V., Polyakov A.N., Stepovich M.A // J. Phys.: Conf. Ser. 2018. V. 955. P. 012032.
- Степович М.А., Серегина Е.В., Поляков А.Н., Лямина О.И. // Информатика и кибернетика. 2018. № 1(11). С. 100.
- Серегина Е.В., Степович М.А., Макаренков А.М. // Итоги науки и техники. Сер. Соврем. мат. и ее прил. Темат. обз. 2021. Т. 200. № 1(11). С. 105. https://www.doi.org/10.36535/0233-6723-2021-200-105-114
- Амрастанов А.Н., Серегина Е.В., Степович М.А., Филиппов М.Н. // Поверхность. Рентген., синхротр. и нейтрон. исслед. 2018. № 8. С. 48. https://www.doi.org/10.1134/S0207352818080036
- Поляков А.Н., Noltemeyer M., Hempel T., Christen J., Степович М.А. // Известия РАН. Серия физическая. 2012. Т. 76. № 9. С. 1082.
- Properties of Group III Nitrides / Ed. by Edgar J.H. London: INSPEC, 1994. 302 p.
- Properties, Processing and Application of GaN and Related Semiconductors / Ed. Edgar J.H. London: INSPEC, 1999. 830 p.
- Новиков Ю.А., Раков А.В., Филиппов М.Н. // Измерительная техника. 2004. № 5. С. 13.
- Колмогоров А.Н., Фомин С.В. Элементы теории функций и функционального анализа. М.: Физматлит, 2004. 572 с.