О математической модели диффузии экситонов в полупроводнике с учетом их переменного времени жизни

Обложка

Цитировать

Полный текст

Аннотация

Описана зависимость от времени концентрации неравновесных неосновных носителей заряда, генерированных в однородном полупроводниковом материале остро сфокусированным электронным пучком, электронным зондом, после прекращения облучения мишени. Построена математическая модель нестационарной диффузии заряженных частиц, созданных электронным зондом низкой энергии в полупроводниковой мишени, при наличии двух независимых каналов рекомбинации сгенерированных носителей заряда в материале мишени. Применение низкоэнергетического электронного зонда позволило при моделировании использовать двухмерную математическую модель диффузии. В качестве начального условия в этой модели взято распределение концентрации неравновесных неосновных носителей заряда в условиях квазиравновесия, до выключения электронного облучения. При наличии двух независимых каналов рекомбинации профиль спада концентрации неравновесных неосновных носителей заряда в мишени после выключения электронного облучения описан суммой двух экспонент, зависящих от времени. Такой подход позволил получить решение дифференциального уравнения двухмерной диффузии носителей заряда с учетом их переменного эффективного времени жизни. Практическое приложение разработанной математической модели реализовано для метода времяпролетной катодолюминесценции при описании диффузии экситонов в монокристаллическом нитриде галлия с учетом зависимости концентрации сгенерированных экситонов от времени.

Об авторах

Е. В. Серегина

Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана
(национальный исследовательский университет), Калужский филиал

Автор, ответственный за переписку.
Email: evfs@yandex.ru
Россия, 248000, Калуга

М. А. Степович

Калужский государственный университет им. К.Э. Циолковского

Email: evfs@yandex.ru
Россия, 248023, Калуга

М. Н. Филиппов

Институт общей и неорганической химии им. Н.С. Курнакова РАН

Email: evfs@yandex.ru
Россия, 119991, Москва

Список литературы

  1. Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение / Ред. Жу У., Уанга Ж.Л. М.: БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013. 582 с.
  2. Goldstein J.I., Newbury D.E., Michael J.R., Ritchie N.W., Scott J.H.J., Joy D.C. Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis. N.Y. Inc.: Springer-Verlag, 2018. 550 p.
  3. Конников С.Г., Сидоров А.Ф. Электронно-зондовые методы исследования полупроводниковых материалов и приборов. М.: Энергия, 1978. 135 с.
  4. Якимов Е.Б. // Кристаллография. 2021. Т. 66. № 4. С. 540. https://www.doi.org/10.31857/S0023476121040226
  5. Yacobi B.G., Holt D.B. Cathodoluminescence microscopy of inorganic solids. N.Y.: Plenum Press, 1990. 354 pp.
  6. Соломонов В.И., Михайлов С.Г. Импульсная катодолюминесценция и ее применение для анализа конденсированных веществ. Екатеринбург: НИСО УрО РАН, 2003. 181 с.
  7. Saparin G.V., Obyden S.K., Ivannikov P.V. // Scanning. 1996. V. 18. № 4. P. 281. https://www.doi.org/10.1002/sca.1996.4950180404
  8. Noltemeyer M., Bertram F., Hempel T., Bastek B., Polyakov A., Christen J., Brandt M., Lorenz M., Grundmann M. // J. Mater. Research. 2012. V. 27. Iss. 17. P. 2225.
  9. Поляков А.Н., Noltemeyer M., Hempel T., Christen J., Степович М.А. // Прикладная физика. 2012. № 6. С. 41.
  10. Поляков А.Н., Noltemeyer M., Hempel T., Christen J., Степович М.А. // Поверхность. Рентген., синхротр. и нейтрон. исслед. 2012. № 11. С. 35.
  11. Polyakov A.N., Smirnova A.N., Stepovich M.A., Turtin D.V. // Lobachevskii J. Math. 2018. V. 39. № 2. P. 259.
  12. Stepovich M.A., Turtin D.V., Seregina E.V., Polyakov A.N. // J. Phys.: Conf. Ser. 2019. V. 1203. P. 012095.
  13. Поляков А.Н., Noltemeyer M., Hempel T., Christen J., Степович М.А. // Прикладная физика. 2015. № 4. С. 11.
  14. Михеев Н.Н., Петров В.И., Степович М.А. // Известия АН СССР. Серия физическая. 1991. Т. 55. № 8. С. 1474.
  15. Туртин Д.В., Степович М.А., Калманович В.В., Серегина Е.В. // Проблемы математического анализа: Межвузовский сборник. 2021. Вып. 110. С. 89.
  16. Seregina E.V., Polyakov A.N., Stepovich M.A // J. Phys.: Conf. Ser. 2018. V. 955. P. 012032.
  17. Степович М.А., Серегина Е.В., Поляков А.Н., Лямина О.И. // Информатика и кибернетика. 2018. № 1(11). С. 100.
  18. Серегина Е.В., Степович М.А., Макаренков А.М. // Итоги науки и техники. Сер. Соврем. мат. и ее прил. Темат. обз. 2021. Т. 200. № 1(11). С. 105. https://www.doi.org/10.36535/0233-6723-2021-200-105-114
  19. Амрастанов А.Н., Серегина Е.В., Степович М.А., Филиппов М.Н. // Поверхность. Рентген., синхротр. и нейтрон. исслед. 2018. № 8. С. 48. https://www.doi.org/10.1134/S0207352818080036
  20. Поляков А.Н., Noltemeyer M., Hempel T., Christen J., Степович М.А. // Известия РАН. Серия физическая. 2012. Т. 76. № 9. С. 1082.
  21. Properties of Group III Nitrides / Ed. by Edgar J.H. London: INSPEC, 1994. 302 p.
  22. Properties, Processing and Application of GaN and Related Semiconductors / Ed. Edgar J.H. London: INSPEC, 1999. 830 p.
  23. Новиков Ю.А., Раков А.В., Филиппов М.Н. // Измерительная техника. 2004. № 5. С. 13.
  24. Колмогоров А.Н., Фомин С.В. Элементы теории функций и функционального анализа. М.: Физматлит, 2004. 572 с.

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML
2.

Скачать (489KB)
3.

Скачать (480KB)
4.

Скачать (60KB)

© Е.В. Серегина, М.А. Степович, М.Н. Филиппов, 2023

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).