Optoelectronic Measurement System for a High-Temperature Dilatometer


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

A new optoelectronic measurement system for a high-temperature dilatometer for measuring the thermal expansion of solid samples over a wide temperature range from 1000–3000 K is described. A new method is proposed for measuring the elongation of a sample with corrections for the system parameters during the measurement process. Experimental results are reported.

Авторлар туралы

I. Bronshtein

St. Petersburg National Research University of Information Technologies, Mechanics, and Optics (ITMO)

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: kb@jupiter.spb.ru
Ресей, St. Petersburg

F. Inochkin

St. Petersburg Polytechnic University

Email: kb@jupiter.spb.ru
Ресей, St. Petersburg

S. Kruglov

St. Petersburg Polytechnic University

Email: kb@jupiter.spb.ru
Ресей, St. Petersburg

T. Kompan

Mendeleev All-Russia Institute of Metrology (VNIIM)

Email: kb@jupiter.spb.ru
Ресей, St. Petersburg

S. Kondrat’ev

Mendeleev All-Russia Institute of Metrology (VNIIM)

Email: kb@jupiter.spb.ru
Ресей, St. Petersburg

A. Korenev

Mendeleev All-Russia Institute of Metrology (VNIIM)

Email: kb@jupiter.spb.ru
Ресей, St. Petersburg

N. Pukhov

Mendeleev All-Russia Institute of Metrology (VNIIM)

Email: kb@jupiter.spb.ru
Ресей, St. Petersburg

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Springer Science+Business Media New York, 2016