World Metrology Day – May 20, 2019
| Edição | Título | Arquivo | |
| Volume 62, Nº 4 (2019) | The SI – Fundamentally Better (message from the BIPM and BIML Directors) |
 (Eng) |
|
| Milton M., Donnellan A. | |||
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| Volume 62, Nº 4 (2019) | The SI – Fundamentally Better (message from the BIPM and BIML Directors) |
(Eng) |
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| Milton M., Donnellan A. | |||
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