Femtosekundnaya lazernaya zapis' mikrobitov dlya lyuminestsentnoy opticheskoy pamyati v sapfire

Cover Page

Cite item

Full Text

Open Access Open Access
Restricted Access Access granted
Restricted Access Subscription Access

Abstract

Модификация объема синтетического оптического сапфира сфокусированными (NA = 0.55) фемтосекундными (150 фс) лазерными импульсами с длиной волны 525 нм демонстрирует формирование микрообластей размером 2 × 2 × 25 мкм3 с увеличением люминесценции в полосе 700–850 нм, связанной с образованием сложных комплексов вакансий F2 и F22+ и ионов Cr3+. При энергии в импульсе 5–22.5 нДж не происходит повреждения кристаллической решетки сапфира, что делает данный режим обработки перспективным при записи трехмерных микрокодов для люминесцентной оптической памяти с емкостью до 10 Гбит/см3 и их безошибочного считывания при однофотонной лазерной накачке.

References

  1. F. Chen and J. V. de Aldana, Laser Photonics Rev. 8, 251 (2014).
  2. Y. Shimotsuma, M. Sakakura, P. G. Kazansky, M. Beresna, J. Qiu, K. Miura, and J. Qiu, Adv. Mater. 22, 5438 (2010).
  3. A. Dostovalov, K. Bronnikov, V. Korolkov, S. Babin, E. Mitsai, A. Mironenko, M. Tutov, D. Zhang, K. Sugioka, J. Maksimovic, T. Katkus, S. Juodkazis, A. Zhizhchenko, and A. Kuchmizhak, Nanoscale 12, 13431 (2020).
  4. N. Skryabin, A. Kalinkin, I. Dyakonov, and S. Kulik, Micromachines 11, 1 (2020).
  5. D. Zayarny, JETP Lett. 103, 309 (2016).
  6. J. Zhang, M. Gecevicius, M. Beresna, and P. G. Kazansky, Phys. Rev. Lett. 112, 033901 (2014).
  7. Q.Wang, Y.-H. Lei, Y. Wang, Z.-T. Liu, Y.-H. Yu, X.-Q. Liu, B.-R. Gao, K.-M. Xu, and L. Wang, Opt. Express 32, 46140 (2024).
  8. S. Fedotov, A. Lipatiev, T. Lipateva, S. Lotarev, E. Mel'nikov, and V. Sigaev, J. Am. Ceram. Soc. 104, 4297 (2021).
  9. S. Kudryashov, P. Danilov, N. Smirnov, E. Kuzmin, A. Rupasov, R. Khmelnitsky, G. Krasin, I. Mushkarina, and A. Gorevoy, Micromachines 14, 1300 (2023).
  10. H. Wang, Y. Lei, L. Wang, M. Sakakura, Y. Yu, G. Shayegarrad, and P. G. Kazansky, Laser Photonics Rev. 16, 2100563 (2022).
  11. P. Anderson, E. Aranas, Y. Assaf et al. (Collaboration), ACM Transactions on Storage 21, 1 (2025).
  12. S. Fedotov, A. Okhrimchuk, A. Lipatiev, A. Stepko, K. Piyanzina, G. Y. Shakhgildyan, M. Y. Presniakov, I. Glebov, S. Lotarev, and V. Sigaev, Opt. Lett. 43, 851 (2018).
  13. A. Saini, C. Christenson, T. Khattab, R. Wang, R. Twieg, and K. Singer, J. Appl. Phys. 121, 043101 (2017).
  14. Z. Hu, X. Huang, Z. Yang, J. Qiu, Z. Song, J. Zhang, and G. Dong, Light Sci. Appl. 10, 140 (2021).
  15. X. Huang, Q. Guo, D. Yang, X. Xiao, X. Liu, Z. Xia, F. Fan, J. Qiu, and G. Dong, Nat. Photonics 14, 82 (2020).
  16. S. Kudryashov, P. Danilov, N. Smirnov et al. (Collaboration), Nanomaterials 13, 192 (2023).
  17. W. Cheng, Z. Wang, X. Liu, Y. Cheng, and P. Polynkin, Opt. Lett. 48, 751 (2023).
  18. R. Babunts, Y. A. Uspenskaya, A. Bundakova, G. Mamin, E. Mokhov, and P. Baranov, JETP Lett. 118, 629 (2023).
  19. G. Wang, H. Zuo, H. Zhang, Q. Wu, M. Zhang, X. He, Z. Hu, and L. Zhu, Mater. Des. 31, 706 (2010).
  20. V. Kurlov, in Sapphire: Properties, Growth and Applications, Pergamon, Elsevier Science Ltd., Oxford, UK (2001), p. 8259.
  21. G. Katyba, K. Zaytsev, I. Dolganova, I. Shikunova, N. Chernomyrdin, S. Yurchenko, G. Komandin, I. Reshetov, V. Nesvizhevsky, and V. Kurlov, Progress in Crystal Growth and Characterization of Materials 64, 133 (2018).
  22. S. Zhou, S. Yuan, Y. Liu, L. J. Guo, S. Liu, and H. Ding, Applied Surface Science 355, 1013 (2015).
  23. W. Wang, W. Yang, H. Wang, Y. Zhu, M. Yang, J. Gao, and G. Li, Vacuum 128, 158 (2016).
  24. G. Akselrod, M. Akselrod, E. Benton, and N. Yasuda, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms 247, 295 (2006).
  25. H. Fan, M. Ryu, R. Honda, J. Morikawa, Z.-Z. Li, L. Wang, J. Maksimovic, S. Juodkazis, Q.-D. Chen, and H.-B. Sun, Nanomaterials 9, 1414 (2019).
  26. S. Xu, H. Fan, Z.-Z. Li, J.-G. Hua, Y.-H. Yu, L. Wang, Q.-D. Chen, and H.-B. Sun, Opt. Lett. 46, 536 (2021).
  27. S. Juodkazis, K. Nishimura, H. Misawa, T. Ebisui, R. Waki, S. Matsuo, and T. Okada, Adv. Mater. 18, 1361 (2006).
  28. L. Capuano, R. Tiggelaar, J. Berenschot, J. Gardeniers, and G. Romer, Optics and Lasers in Engineering 133, 106114 (2020).
  29. M. S. Akselrod, S. S. Orlov, G. M. Akselrod, G. J. Sykora, K. J. Dillin, and T. H. Underwood, in Optical Data Storage 2007, International Society for Optics and Photonics, ed. by B. Bell and T. Shimano, SPIE, Portland, OR, USA (2007), v. 6620, p. 662003.
  30. B. D. Evans, G. J. Pogatshnik, and Y. Chen, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms 91, 258 (1994).
  31. M. S. Akselrod, A. E. Akselrod, S. S. Orlov, S. Sanyal, and T. H. Underwood, Journal of Fluorescence 13, 503 (2003).
  32. T. Mohanty, N. Mishra, F. Singh, S. Bhat, and D. Kanjilal, Radiat. Meas. 36, 723 (2003).
  33. J. Ma, M. E. Thomas, P. McGuiggan, and J. B. Spicer, Opt. Eng. 59, 087101 (2020).
  34. W. Zhu and G. Pezzotti, Journal of Raman J. Raman Spectrosc. 42, 2015 (2011).
  35. D. T. M. Phan, T. Hager, and W. J. Raman Spectrosc. 48, 453 (2017).
  36. E. Yu. Zykova, K. E. Ozerova, A. A. Tatarintsev, and A. N. Turkin, Opt. Spectrosc. 130, 1104 (2022).
  37. C. Guguschev, J. Gotze, and M. Gobbels, Am. Mineral. 95, 449 (2010).
  38. V. Kortov, V. Pustovarov, and T. Shtang, Radiat. Meas. 85, 51 (2016).
  39. S. V. Solov'ev, I. I. Milman, and A. I. Syurdo, Physics of the Solid State 54, 726 (2012).
  40. N. Lazareva, A. Rakevich, and E. Martynovich, Fundamental research 2 (part 12), 2585 (2015).
  41. E. Martynovich, A. Tokarev, and V. Grigorov, Opt. Commun. 53, 254 (1985).
  42. T. Toyoda, T. Obikawa, and T. Shigenari, Materials Science and Engineering B 54, 33 (1998).
  43. R. D. Simmonds, P. S. Salter, A. Jesacher, and M. J. Booth, Opt. Express 19, 24122 (2011).
  44. P. S. Salter and M. J. Booth, Light: Light Sci. Appl. 8, 110 (2019).
  45. Y. S. Gulina, J. Zhu, A. V. Gorevoy, N. I. Dolzhenko, P. A. Danilov, E. N. Rimskaya, and S. I. Kudryashov, JETP Lett. 121, 32 (2025).
  46. M. Chen, J. Shao, Y. Zhao, G. Hu, M. Zhu, Y. Chai, K. Zhang, and H. Ma, Opt. Mater. Express 12, 533 (2022).
  47. A. Major, F. Yoshino, I. Nikolakakos, J. Aitchison, and P. Smith, Opt. Lett. 29, 602 (2004).
  48. W. J. Gignac, R. S. Williams, and S. P. Kowalczyk, Phys. Rev. B 32, 1237 (1985).
  49. N. Smirnov, S. Kudryashov, A. Rudenko, D. Zayarny, and A. Ionin, Applied Surface Science 562, 150243 (2021).
  50. Физические величины: справочник, под ред. И. С. Григорьева, Е. З. Мейлихова, Энергоатомиздат, М. (1991).
  51. A. Vogel, J. Noack, G. Huttmann, and G. Paltauf, Applied Physics B 81, 1015 (2005).

Supplementary files

Supplementary Files
Action
1. JATS XML
Download

Copyright (c) 2025 Russian Academy of Sciences

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».