Soft X-ray spectroscopy at the synchrotron radiation station “Kosmos”

Cover Page

Cite item

Full Text

Open Access Open Access
Restricted Access Access granted
Restricted Access Subscription Access

Abstract

The synchrotron radiation metrology station Kosmos operates in the soft X-ray range and, along with metrology studies, provides the possibility of measuring EXAFS and XANES spectra in the energy range of 2–10 keV. Tuning according to the energy scale is performed with the use of glitches, which allows for increased reproducibility of the results. The new monochromator covering the energy range of up to 480 eV was used in the measurement of the XANES spectra of test samples near the K edge of Al (1559 eV) and the L edge of copper (932.7 eV). The designs of both monochromators and examples of spectra are presented.

About the authors

A. D. Nikolenko

G.I. Budker Institute of Nuclear Physics of the Siberian Branch of the Russian Academy of Sciences; Center for Collective Use "Siberian Ring Photon Source", Federal Research Center G.K. Boreskov Institute of Catalysis of the Siberian Branch of the Russian Academy of Sciences

Email: a.d.nikolenko@inp.nsk.su
Novosibirsk, Russia; Koltsovo, Russia

A. D. Fedorenko

Center for Collective Use "Siberian Ring Photon Source", Federal Research Center G.K. Boreskov Institute of Catalysis of the Siberian Branch of the Russian Academy of Sciences; A.V. Nikolaev Institute of Inorganic Chemistry of the Siberian Branch of the Russian Academy of Sciences

Koltsovo, Russia; Novosibirsk, Russia

M. S. Platunov

Center for Collective Use "Siberian Ring Photon Source", Federal Research Center G.K. Boreskov Institute of Catalysis of the Siberian Branch of the Russian Academy of Sciences

Koltsovo, Russia

P. A. Piminov

G.I. Budker Institute of Nuclear Physics of the Siberian Branch of the Russian Academy of Sciences; Center for Collective Use "Siberian Ring Photon Source", Federal Research Center G.K. Boreskov Institute of Catalysis of the Siberian Branch of the Russian Academy of Sciences

Novosibirsk, Russia; Koltsovo, Russia

E. A. Simonov

G.I. Budker Institute of Nuclear Physics of the Siberian Branch of the Russian Academy of Sciences

Novosibirsk, Russia

References

  1. Николенко А.Д., Авакян С.В., Афанасьев И.М. и др. // Поверхн. Рентген., синхротрон., нейтрон. иссл. 2012. № 5. С. 13
  2. Nikolenko A.D., Kovalen ko N.V., Legkodymov A.A. et al. // J. Surf. Invest.: X-ray, Synchrotron Neutron Tech. 2012. V. 6. No. 3. P. 388.
  3. Vishnyakov E.A., Shugarov A.S., Ivlyushkin D.V. et al. // AIP Conf. Proc. 2020. No. 2299. Art. No. 060007.
  4. Nusinov A.A., Zavertkin P.S., Ivlyushkin D.V. et al. // Russ. Meteorol. Hydrol. 2021. V. 46. No. 10. P. 711.
  5. Нусинов А.А., Алексеева А.В., Заверткин П.С. и др. // Гелиогеофиз. иссл. 2020.№26. С. 31.
  6. Liu D.G., Lee M.H., Lu Y.J. et al. // J. Phys. Conf. Ser. 2022. V. 2380. Art. No. 012041.
  7. Заверткин П.С., Ивлюшкин Д.В., Машковцев М.Р. и др. // Автометрия. 2019. Т. 55.№2. С. 5
  8. Zavertkin P.S., Ivlyushkin D.V., Mashkovtsev M.R. et al. // Optoelectron. Instrum. Data Process. 2019. V. 55. No. 2. P. 107.
  9. Трунова В.А., Зверева В.В., Полосьмак Н.В. и др. // Изв. РАН. Сер. физ. 2015. Т. 79. № 1. С. 122
  10. Trunova V.A., Zvereva V.V., Polosmak N.V. et al. // Bull. Russ. Acad. Sci. Phys. 2015. V. 79. No. 1. P. 109.
  11. Debret B., Andreani M., Delacour A. et al. // Earth Planet. Sci. Lett. 2017. V. 466. P. 1.
  12. Ingall E.D., Brandes J.A., Diaz J.M. et al. // J. Synchrotron Radiat. 2011. V. 18. P. 189.
  13. Валеев Р.Г., Бельтюков А.Н., Чукавин А.И. и др. // Изв. РАН. Сер. физ. 2019. Т. 83.№2. С. 217
  14. Valeev R.G., Beltyukov A.N., Chukavin A.I. et al. // Bull. Russ. Acad. Sci. Phys. 2019. V. 83. No. 2. P. 169.
  15. Caciuffo R., Melone S., Rustichelli F. et al. // Phys. Reports. 1987. V. 152. P. 1.
  16. Zabrodsky V.V., Aruev P.N., Filimonov V.V. et al. // Proc. SPIE. 2013. V. 8777. Art. No. 87770R.
  17. https://www.e2v.com/resources/account/download-datasheet/1436.
  18. Николенко А.Д., Федоренко А.Д., Забродский В.В. //Тр. XXVIII Межд. симп. .Нанофизика и наноэлектроника. (Нижний Новгород, 2024). С. 503.
  19. Полковников В.Н., Чхало Н.И., Шапошников Р.А., Николенко A.Д. // ЖТФ. 2023. Т. 93. № 7. С. 943
  20. Polkovnikov V.N., Chkhalo N.I., Shaposhnikov R.A., and Nikolenko A.D. // Tech. Phys. 2023. V. 68. No. 7. P. 877.
  21. Федоренко А.Д., Асанов И.П., Асанова Т.И. и др. // Изв. РАН. Сер. физ. 2023. Т. 87. № 5. С. 654
  22. Fedorenko A.D., Asanov I.P., Asanova T.I. et al. // Bull. Russ. Acad. Sci. Phys. 2023. V. 87. No. 5. P. 654.
  23. Syrokvashin M.M., Korotaev E.V., Nikolenko A.D. et al. // J. Surf. Invest. X-Ray. Synchrotron Neutron Tech. 2023. V. 17. No. 6. P. 1514.
  24. Золотарев К.В., Анчаров А.И., Винокуров З.С. и др. // Изв. РАН. Сер. физ. 2023. Т. 87. № 5. С. 614
  25. Zolotarev K.V., Ancharov A.I., Vinokurov Z.S. et al. // Bull. Russ. Acad. Sci. Phys. 2023. V. 87. No. 5. P. 541.
  26. Fedorenko A.D., Semushkina G.I., and Peregudova N.N. // J. Struct. Chem. 2021. V. 62. No. 6. P. 853.
  27. Korotaev E.V., Syrokvashin M.M., Filatova I.Y. et al. // Appl. Phys. A. 2020. V. 126. No. 7. Art. No. 537.
  28. Korotaev E.V., Syrokvashin M.M., Filatova I.Y. et al. // AIP Conf. Proc. 2020. V. 2299. Art. No. 080004.
  29. Knyazev Y.V., Platunov M., Ikkert O.P. et al. // Environ. Sci. Advances. 2024. V. 3. No. 6. P. 897.
  30. Vorfolomeeva A.A., Stolyarova S.G., Asanov I.P. et al. // Nanomaterials. 2023. V. 13. P. 153.
  31. Bauchspiess K.R., and Crozier E.D. // In: EXAFS and Near Edge Structure III. Springer Proceedings in Physics. V. 2. Berlin, Heidelberg: Springer, 1984. P. 514.
  32. Николенко А.Д., Федоренко А.Д., Чхало Н.И. // В кн.: Технологическая инфраструктура СКИФ. Т. 3. Сб. науч. тр. Новосибирск, 2022. С. 333.
  33. Федоренко А.Д. Рентгеноэлектронное и рентгеноспектральное исследование электронного строения стабильных нитроксильных радикалов и комплексов переходных металлов на их основе: Дис. . . канд. физ.-мат. наук. Новосибирск: ИНХ СО РАН, 2015. 133 с.
  34. Окотруб А.В. Рентгеновская флуоресцентная спектроскопия высокого разрешения с использованием органических кристаллованализаторов и анализ электронной структуры молекулярных и конденсированных соединений 2р-элементов. Дисс. . . докт. физ.-мат. наук. Новосибирск: ИНХ СО РАН, 2000. 295 с.

Supplementary files

Supplementary Files
Action
1. JATS XML
Download

Copyright (c) 2025 Russian Academy of Sciences

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).