Electron beam stimulated luminescence of helium ion irradiated hexagonal boron nitride

Yu. V. Petrov; Петров Ю. В.; O. F. Vyvenko; Вывенко О. Ф.; O. A. Gogina; Гогина О. А.; T. V. Sharov; Шаров Т. В.; S. Kovalchuk; Ковальчук С.; K. Bolotin; Болотин К.

doi:10.31857/S0367676523702484

Стимулированная электронным пучком люминесценция в облученном ионами гелия гексагональном нитриде бора

Авторы: Петров Ю.В.¹, Вывенко О.Ф.¹, Гогина О.А.¹, Шаров Т.В.¹, Ковальчук С.², Болотин К.²
Учреждения:
1. Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования “Санкт-Петербургский государственный университет”
2. Свободный Университет Берлина
Выпуск: Том 87, № 10 (2023)
Страницы: 1423-1429
Раздел: Статьи
URL: https://journals.rcsi.science/0367-6765/article/view/141837
DOI: https://doi.org/10.31857/S0367676523702484
EDN: https://elibrary.ru/PIVYRE
ID: 141837

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ
Доступ закрыт

Доступ предоставлен
Доступ закрыт

Только для подписчиков

Аннотация
Об авторах
Список литературы
Дополнительные файлы
Статистика

Аннотация

Изучено влияние облучения сфокусированными пучками ионов гелия и электронов на катодолюминесценцию гексагонального нитрида бора. Показано, что облучение ионами гелия приводит к уменьшению интенсивности катодолюминесценции в области 200–700 нм. Последующее продолжительное облучение электронами приводит к увеличению интенсивности полосы 2 эВ.

Список литературы

Bourrellier R., Meuret S., Tararan A. et al. // Nano Lett. 2016. V. 16. No. 7. P. 4317.
Castelletto S., Inam F.A., Sato S., Boretti A. // Beilstein J. Nanotechnol. 2020. V. 1. No. 1. P. 740.
Korona T., Chojecki M. // Int. J. Quant. Chem. 2019. V. 119. No. 14. Art. No. e25925.
Weston L., Wickramaratne D., Mackoit M. et al. // Phys. Rev. B. 2018. V. 97. No. 21. Art. No. 214104.
Turiansky M.E., Alkauskas A., Bassett L.C. et al. // Phys. Rev. Lett. 2019. V. 123. No. 12. Art. No. 127401.
Tran T.T., Kerem Bray, Ford M.J. et al. // Nature Nano-technol. 2016. V. 11. No. 1. P. 37.
Grosso G., Moon H., Lienhard B. et al. // Nature Commun. 2017. V. 8. No. 1. P. 1.
Choi S., Tran T.T., Elbadawi C. et al. // ACS Appl. Mater. Interfaces. 2016. V. 8. No. 43. P. 29642.
Guo N.J., Liu W., Li Z.P. et al. // ACS Omega. 2022. V. 7. No. 2. P. 1733.
Петров Ю.В., Гогина О.А., Вывенко О.Ф. и др. // ЖТФ. 2022. Т. 92. № 8. С. 1166.
Ziegler J.F., Ziegler M.D., Biersack J.P. // Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res. B. 2010. V. 268. No. 11–12. P. 1818.
Drouin D., Couture A.R., Joly D. et al. // J. Scan. Microsc. 2007. V. 29. No. 3. P. 92.
Uddin M.R., Majety S., Li J. et al. // J. Appl. Phys. 2014. V. 115. No. 9. Art. No. 093509.
Pons D., Bourgoin J.C. // J. Physics C. 1985. V. 18. No. 20. P. 3839.
Hoffman D.M., Doll G.L., Eklund P.C. // Phys. Rev. B. 1984. V. 30. No. 10. P. 6051.
Ngwenya T.B., Ukpong A.M., Chetty N. // Phys. Rev. B. 2011. V. 84. No. 24. Art. No. 245425.