Кристаллическая структура и диэлектрические свойства гетероэпитаксиальных пленок мультиферроика BiFeO3, выращенных на подложке Pt(001)/MgO(001)

Обложка

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

Изучены кристаллическое строение, диэлектрические и поляризационные свойства пленок BiFeO3, выращенных на подложке Pt(001)/MgO(001). Установлено, что полученные пленки являются однофазными, беспримесными, монокристаллическими и обладают высоким структурным совершенством.

Об авторах

А. В. Назаренко

Федеральное государственное бюджетное учреждение науки
“Федеральный исследовательский центр Южный научный центр Российской академии наук”

Автор, ответственный за переписку.
Email: avnazarenko1@gmail.com
Россия, Ростов-на-Дону

Я. Ю. Матяш

Федеральное государственное бюджетное учреждение науки
“Федеральный исследовательский центр Южный научный центр Российской академии наук”

Email: avnazarenko1@gmail.com
Россия, Ростов-на-Дону

П. В. Попов

Федеральное государственное бюджетное учреждение
“Всероссийский научно-исследовательский институт метрологической службы”

Email: avnazarenko1@gmail.com
Россия, Москва

А. В. Павленко

Федеральное государственное бюджетное учреждение науки
“Федеральный исследовательский центр Южный научный центр Российской академии наук”

Email: avnazarenko1@gmail.com
Россия, Ростов-на-Дону

Д. В. Стрюков

Федеральное государственное бюджетное учреждение науки
“Федеральный исследовательский центр Южный научный центр Российской академии наук”

Email: avnazarenko1@gmail.com
Россия, Ростов-на-Дону

Список литературы

  1. Shimakawa Y., Azuma M., Ichikawa N. // Materials. 2011. V. 4. No. 1. P. 153.
  2. Ramesh R., Spaldin N.A. // Nature Mater. 2007. V. 6. P. 21.
  3. Kumar M., Shankar S., Brijmohan S. et al. // Phys. Lett. A. 2016. V. 381. P. 379.
  4. Kaur I., Verma N.K. // Mater. Sci. Semicond. Process. 2015. V. 33. P. 32.
  5. Lakshmi B.D., Paratap K., Parvatheeswara Rao B. et al. // Ceram. Int. 2015. V. 42. P. 2186.
  6. Royen, P., Swars, K. // Angew. Chem. 1957. V. 69. No. 24. P. 779.
  7. Заславский А.И., Тутов А.Г. // Докл. АН СССР. 1960. Т. 135. № 4. С. 815.
  8. Smolenskii G.A., Bokov V.A., Isupov V.A. et al. // Helv. Phys Acta. 1968. V. 41. P. 1187.
  9. Michel C., Moreau J.-M., Achenbach G.D. et al. // Solid State Comm. 1969. V. 7. No. 9. P. 701.
  10. Catalan G., Scott J.F. // Adv. Mater. 2009. V. 21. P. 2463.
  11. Sosnowska I., Neumaier T.P., Steichele E. // J. Physics C. 1982. V. 15. P. 4835.
  12. Sando D., Bartheemy A., Bibes M. // J. Phys. Cond. Matter. 2014. V. 26. Art. No. 473201.
  13. Xue J.M., Wan D.M., Wang J. // Solid State Ionics. 2002. V. 151. P. 403.
  14. Cushing B.L., Kolesnichenko V.L., O’Connor C.J. // Chem. Rev. 2004. V. 104. P. 3893.
  15. Matsumuto K., Yamaguchi K., Fuji T., Ueno A. // J. Appl. Phys. 1991. V. 69. P. 5918.
  16. Babooram K., Ye Z.-G. // Chem. Mater. 2006. V. 18. P. 532.
  17. Pechini M.P. Method of preparing lead and alkaline earth titanates and niobates and coating method using the same to form a capacitor. U.S. Patent № 3330697. 1967.
  18. Gulgun M.A., Nguyen M.H., Kriven W.M. // J. Amer. Ceram. Soc. 1999. V. 82. P. 556.
  19. Rajamathi M., Seshadri R. // Curr. Opin. Solid State Mater. Sci. 2002. V. 6. P. 337.
  20. Suslik K.S., Price G.J. // Annu. Rev. Mater. Sci. 1999. V. 29. P. 295.
  21. Patil K.C. // Bull. Mater. Sci. 1993. V. 16. P. 533.
  22. Jian Y., Juan Hao Ch. // Chin. Sci. Bull. 2008. V. 53. P. 2097.
  23. Singh A., Khan Z.R., Vilarinho P.M. et al. // Mater. Res. Bull. 2014. V. 49. P. 531.
  24. Картавцева М.С., Горбенко О.Ю., Кауль А.Р. и др. // Поверхн. Рентген., синхротрон. нейтрон. иссл. 2008. Т. 2. № 1. С. 3; Kartavtseva M.S., Gorbenko O.Yu., Kaul’ A.R. et al. // J. Surf. Invest. X-ray. Synchrotron. Neutron Techn. 2008. V. 2. No. 1. P. 1.
  25. Ternon C., Thery J., Baron T. et al. // Thin Solid Films. 2006. V. 515. No. 2. P. 481.
  26. Павленко А.В., Стрюков Д.В., Кубрин С.П. // ФТТ. 2022. № 2. С. 218; Pavlenko A.V., Stryukov D.V., Kubrin S.P. // Phys. Solid State. 2022. V. 64. No. 2. P. 212.
  27. Sharma S., Saravanan P., Pandey O.P. // J. Mater. Sci. Mater. Electron. 2016. V. 27. P. 5909.
  28. Wang D., Wang G., Murakami S. et al. // J. Adv. Dielectric. 2018. V. 8. No. 6. Art. No. 1830004.
  29. Nie P.-X., Wang Y.-P., Yang Y. et al. // Energy Harvest. Syst. 2015. V. 2. No. 3–4. P. 157.
  30. Li W., Wang Y., Nie P. et al. // Physica B. 2015. V. 466–467. P. 11.
  31. Raghavan C.M., Kim J.W., Kim H.J. et al. // J. Sol-Gel Sci. Technol. 2012. V. 64. P. 178.
  32. Lee M.H., Park J.S., Cho H.J. et al. // J. Korean Phys. Soc. 2012. V. 60. No. 2. P. 272.
  33. Ahn Y., Son J.Y. // J. Korean Ceram. Soc. 2022. V. 59. No. 6. P. 787.
  34. Pan T.-M., Chou Y.-C., Her J.-L. // Mater. Chem. Phys. 2022. V. 278. Art. No. 125699.
  35. Zhang Y., Yu S., Cheng J. // J. Eur. Ceram. Soc. 2010. V. 30. No. 2. P. 271.
  36. Jun Y.K., Moon W.T., Chang C.M., et al. // Solid State Commun. 2005. V. 135. P. 133.
  37. Singh S.K., Ishiwara H., Maruyama K. // J. Appl. Phys. 2006. V. 100. Art. No. 064102.
  38. Singh S.K., Maruyama K., Ishiwara H. // Appl. Phys. Lett. 2007. V. 91. Art. No. 112913.
  39. Jangid S., Barbar S.K., Roy M. Biosensors nanotechnology: advanced materials series. USA: Scrivener Publishing LLC, 2014. P. 433.
  40. Pavlovic N., D’Haen J., Modarresi H. et al. // J. Mater. Sci. 2015. V. 50. P. 4463.
  41. Venkateswarlu A.R., Varma G.D., Nath R. // AIP Advances. 2001. V. 1. Art. No. 042140.
  42. Reddy V.A., Pathak N.P., Nath R. // Thin Solid Films. 2013. V. 527. P. 358.
  43. Das S., Basu S., Mitra S., Chakravorty D. et al. // Thin Solid Films. 2010. V. 518. P. 4071.
  44. Gumiel C., Jardiel T., Calatayud D.G. et al. // J. Mater. Chem. C. 2020. V. 8. P. 4234.
  45. Gumiel C., Calatayud D.G. // Ceramica y Vidrio. 2022. V. 61. P. 708.
  46. Шилкина Л.А., Глазунова Е.В., Вербенко И.А. и др. // Вест. Луганск. нац. ун-та. им. В. Даля. 2019. № 7(25). С. 25.
  47. Мухортов В.М., Юзюк Ю.И. Гетероструктуры на основе наноразмерных сегнетоэлектрических пленок: получение, свойства и применение. Ростов-на-Дону: Изд-во ЮНЦ РАН, 2008. 224 с.
  48. Lee M. X-ray diffraction for materials research: from fundamentals to applications. N.Y.: Apple Academic Press, 2016. 302 p.

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML
2.

3.

Скачать (241KB)
4.

Скачать (49KB)
5.

Скачать (106KB)

© А.В. Назаренко, Я.Ю. Матяш, П.В. Попов, А.В. Павленко, Д.В. Стрюков, 2023

Данный сайт использует cookie-файлы

Продолжая использовать наш сайт, вы даете согласие на обработку файлов cookie, которые обеспечивают правильную работу сайта.

О куки-файлах