ВЛИЯНИЕ ТОКОВ УТЕЧКИ НА РЕЗИСТИВНОЕ ПЕРЕКЛЮЧЕНИЕ И ПРОЦЕДУРУ ФОРМОВКИ МЕМРИСТИВНЫХ ОКРАМ-УСТРОЙСТВ
- Авторы: Андреева Н.В1, Рындин Е.А1, Мазинг Д.С1, Усикова А.А2, Романов А.А1, Айвазян В.М1, Петров М.О1
-
Учреждения:
- Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» им. В. И. Ульянова (Ленина)
- Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе Российской академии наук
- Выпуск: Том 168, № 3 (2025)
- Страницы: 440-448
- Раздел: ЭЛЕКТРОННЫЕ СВОЙСТВА ТВЕРДЫХ ТЕЛ
- URL: https://journals.rcsi.science/0044-4510/article/view/317337
- DOI: https://doi.org/10.7868/S3034641X25090161
- ID: 317337
Цитировать
Аннотация
Об авторах
Н. В Андреева
Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» им. В. И. Ульянова (Ленина)
Email: nvandr@gmail.com
Санкт-Петербург, Россия
Е. А Рындин
Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» им. В. И. Ульянова (Ленина)Санкт-Петербург, Россия
Д. С Мазинг
Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» им. В. И. Ульянова (Ленина)Санкт-Петербург, Россия
А. А Усикова
Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе Российской академии наукСанкт-Петербург, Россия
А. А Романов
Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» им. В. И. Ульянова (Ленина)Санкт-Петербург, Россия
В. М Айвазян
Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» им. В. И. Ульянова (Ленина)Санкт-Петербург, Россия
М. О Петров
Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» им. В. И. Ульянова (Ленина)Санкт-Петербург, Россия
Список литературы
- L. Ye, Z. Gao, J. Fu et al., Front. Phys. 10, 839243 (2022).
- P. Yao, H. Wu, B. Gao et al., Nature 577, 641 (2020).
- F. Kiani, J. Yin, Z. Wang et al., Sci. Adv. 7, eabj4801 (2021).
- Y. Zhong, J. Tang, X. Li et al., Nat. Electron. 5, 672 (2022).
- C. Li, M. Hu, Y. Li et al., Nat. Electron. 1, 52 (2018).
- R. Wang, T. Shi, X. Zhang et al., Nat. Commun. 13, 2289 (2022).
- C. Li, D. Belkin, Y. Li et al., Nat. Commun. 9, 2385 (2018).
- J. Rupp, D. Ielmini, and I. Valov, Resistive Switching: Oxide Materials, Mechanisms, Devices and Operations, Springer, Cham (2022), p. 383.
- W. Haensch, A. Raghunathan, K. Roy et al., Adv. Mater. 35, 2204944 (2023).
- M. Onen, T. Gokmen, T. K. Todorov et al., Front. Artif. Intell. 5, 891624 (2022).
- U. B¨ottger, M. von Witzleben, V. Havel et al., Sci. Rep. 10, 16391 (2020).
- M.L¨ubben, S.Wiefels, R.Waser et al., Adv. Electron. Mater. 4, 1700458 (2018).
Дополнительные файлы
