Спектральные особенности фотоэлектрического эффекта в смесевой донорно-акцепторной композиции фталоцианина цинка и фуллерена ZnPc: C70

Обложка

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

Изучены спектральные особенности ампер-ваттной чувствительности фотоэлектрических структур, включающих прозрачный ITO-электрод, фоточувствительный органический слой и алюминиевый электрод, сформированных на подложке из кварцевого стекла. В качестве активного фоточувствительного слоя использованы вакуумно-напыленные пленки как индивидуальных органических соединений фталоцианина цинка (материал ZnPc известен как обладающий донорными свойствами), фуллерена (C70-акцептора), так и донорно-акцепторной композиции ZnPc: C70. С помощью компьютерного моделирования для всех трех структур в широком спектральном диапазоне была определена структура полос поглощения. Это позволило рассчитать отраженную и поглощенную доли падающего на образцы излучения и объяснить особенности спектрального поведения ампер-ваттной чувствительности смесевой композиции ZnPc: C70. Показано, что в смесевой композиции максимальная фоточувствительность реализуется в области перекрытия полос поглощения донорных и акцепторных молекул.

Об авторах

В. В Лазарев

Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова ФНИЦ «Кристаллография и фотоника» Российской академии наук

Email: serguei.palto@gmail.com
119993, Moscow, Russia

А. Р Гейвандов

Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова ФНИЦ «Кристаллография и фотоника» Российской академии наук

Email: serguei.palto@gmail.com
119993, Moscow, Russia

С. П Палто

Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова ФНИЦ «Кристаллография и фотоника» Российской академии наук

Автор, ответственный за переписку.
Email: serguei.palto@gmail.com
119993, Moscow, Russia

Список литературы

  1. P. Peumans, S. Uchida, and S.R. Forrest, Nature 425, 158 (2003).
  2. H.-W. Lin, S.-Y. Ku, H.-C. Su et al., Adv. Mater. 17, 2489 (2005).
  3. A. J. Heeger, Adv. Mater. 26, 10 (2014).
  4. В. А. Миличко, А. С. Шалин, И. С. Мухин и др., УФН 186, 801 (2016).
  5. Y. Yuan, T. J. Reece, P. Sharma et al., Nature Mater. 11, 296 (2011).
  6. Y. Yuan, P. Sharma, Zh. Xiao et al., Energy & Environ. Sci. 5, 8558 (2012).
  7. В. А. Бендерский, Е. И. Кац, ЖЭТФ 154, 662 (2018).
  8. V. A. Benderskii and E. I. Kats, High Energy Chem. 52, 400 (2018).
  9. B. Kippelen and J.-L. Bredas, Energy Environ. Sci. 2, 251 (2009).
  10. K. Cnops, B. P. Rand, D. Cheyns et al., Nat.Commun. 5, 3406 (2014).
  11. K. J. Baeg, M. Binda, D. Natali et al., Adv. Mater. 25, 4267 (2013).
  12. E. Manna, T. Xiao, J. Shinaret et al., Electronics 4, 688 (2015).
  13. G. Yu, K. Pakbaz, and A. J. Heeger, Appl. Phys. Lett. 64, 3422 (1994).
  14. K. S. Nalwa, J. A. Carr, R. C. Mahadevapuram et al., Energy & Environ. Sci. 5, 7042 (2012).
  15. O. Hofmann, P. Miller, P. Sullivan et al., Sens. Actuators B. 106, 878 (2005).
  16. B. Kraabel, C. H. Lee, D. McBranch et al., Chem. Phys. Lett. 213, 389 (1993).
  17. K. Suemori, T. Miyata, T. Yokoyama et al., Appl. Phys. Lett. 86, 063509 (2005).
  18. F. Roth, C. Lupulescu, T. Arion et al., J. Appl. Phys. 115, 033705 (2014).
  19. Л. М. Блинов, В. В. Лазарев, С. Г. Юдин, Кристаллография 58, 908 (2013).
  20. C.-F. Lin, M. Zhang, S.-W. Liu et al., Int. J. Mol. Sci. 12, 476 (2011).
  21. G. Yu, J. Gao, J. C. Hummelen et al., Science. 270, 1789 (1995).
  22. S. R. Cowan, N. Banerji, W. L. Leong et al., Adv. Funct. Mater. 22, 1116 (2012).
  23. D. Beljonne, J. Cornil, L. Mussioli et al., Chem. Mater. 23, 591 (2011).
  24. R.-J. Baeg, M. Binda, D. Natali et al., Adv. Mater. 25, 4267 (2013).
  25. Э.А. Силиньш, М. В. Курик, В. Чапек, Электронные процессы в органических молекулярных кристаллах. Явления локации и поляризации. Зинатне, Рига (1988).
  26. http://emlab.utep.edu/ee5390fdtd.htm
  27. Хим. энцикл. в 5 т.; т. 5 Бол. Росс. Энцикл., Москва (1998), с. 195.
  28. A. B. P. Lever, S. R. Pickens, P. C. Minor et al., J. Am. Chem. Soc. 103, 6800 (1981).
  29. К. В. Зуев, Дисс. канд. техн. наук, РХТУ им. Д. И. Менделеева, Москва (2019).
  30. С. П. Палто, А. В. Алпатова, А. Р. Гейвандов и др., Оптика и спектроскопия 124, 210 (2018).
  31. В. В. Лазарев, Л. М. Блинов, С. Г. Юдин и др., ЖЭТФ 157, 156 (2020).
  32. H. Fujiwara and M. Kondo, Phys. Rev. B. 71, 075109 (2005).
  33. A. D. Raki'c, A. B. Djuriˇs'c, J. M. Elazar et al., Appl. Opt. 37, 5271 (1998).

© Российская академия наук, 2023

Данный сайт использует cookie-файлы

Продолжая использовать наш сайт, вы даете согласие на обработку файлов cookie, которые обеспечивают правильную работу сайта.

О куки-файлах