Спектральные особенности фотоэлектрического эффекта в смесевой донорно-акцепторной композиции фталоцианина цинка и фуллерена ZnPc: C70
- Авторы: Лазарев В.В1, Гейвандов А.Р1, Палто С.П1
-
Учреждения:
- Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова ФНИЦ «Кристаллография и фотоника» Российской академии наук
- Выпуск: Том 163, № 2 (2023)
- Страницы: 153-161
- Раздел: Статьи
- URL: https://journals.rcsi.science/0044-4510/article/view/145250
- DOI: https://doi.org/10.31857/S0044451023020025
- EDN: https://elibrary.ru/OPNGPY
- ID: 145250
Цитировать
Аннотация
Изучены спектральные особенности ампер-ваттной чувствительности фотоэлектрических структур, включающих прозрачный ITO-электрод, фоточувствительный органический слой и алюминиевый электрод, сформированных на подложке из кварцевого стекла. В качестве активного фоточувствительного слоя использованы вакуумно-напыленные пленки как индивидуальных органических соединений фталоцианина цинка (материал ZnPc известен как обладающий донорными свойствами), фуллерена (C70-акцептора), так и донорно-акцепторной композиции ZnPc: C70. С помощью компьютерного моделирования для всех трех структур в широком спектральном диапазоне была определена структура полос поглощения. Это позволило рассчитать отраженную и поглощенную доли падающего на образцы излучения и объяснить особенности спектрального поведения ампер-ваттной чувствительности смесевой композиции ZnPc: C70. Показано, что в смесевой композиции максимальная фоточувствительность реализуется в области перекрытия полос поглощения донорных и акцепторных молекул.
Об авторах
В. В Лазарев
Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова ФНИЦ «Кристаллография и фотоника» Российской академии наук
Email: serguei.palto@gmail.com
119993, Moscow, Russia
А. Р Гейвандов
Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова ФНИЦ «Кристаллография и фотоника» Российской академии наук
Email: serguei.palto@gmail.com
119993, Moscow, Russia
С. П Палто
Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова ФНИЦ «Кристаллография и фотоника» Российской академии наук
Автор, ответственный за переписку.
Email: serguei.palto@gmail.com
119993, Moscow, Russia
Список литературы
- P. Peumans, S. Uchida, and S.R. Forrest, Nature 425, 158 (2003).
- H.-W. Lin, S.-Y. Ku, H.-C. Su et al., Adv. Mater. 17, 2489 (2005).
- A. J. Heeger, Adv. Mater. 26, 10 (2014).
- В. А. Миличко, А. С. Шалин, И. С. Мухин и др., УФН 186, 801 (2016).
- Y. Yuan, T. J. Reece, P. Sharma et al., Nature Mater. 11, 296 (2011).
- Y. Yuan, P. Sharma, Zh. Xiao et al., Energy & Environ. Sci. 5, 8558 (2012).
- В. А. Бендерский, Е. И. Кац, ЖЭТФ 154, 662 (2018).
- V. A. Benderskii and E. I. Kats, High Energy Chem. 52, 400 (2018).
- B. Kippelen and J.-L. Bredas, Energy Environ. Sci. 2, 251 (2009).
- K. Cnops, B. P. Rand, D. Cheyns et al., Nat.Commun. 5, 3406 (2014).
- K. J. Baeg, M. Binda, D. Natali et al., Adv. Mater. 25, 4267 (2013).
- E. Manna, T. Xiao, J. Shinaret et al., Electronics 4, 688 (2015).
- G. Yu, K. Pakbaz, and A. J. Heeger, Appl. Phys. Lett. 64, 3422 (1994).
- K. S. Nalwa, J. A. Carr, R. C. Mahadevapuram et al., Energy & Environ. Sci. 5, 7042 (2012).
- O. Hofmann, P. Miller, P. Sullivan et al., Sens. Actuators B. 106, 878 (2005).
- B. Kraabel, C. H. Lee, D. McBranch et al., Chem. Phys. Lett. 213, 389 (1993).
- K. Suemori, T. Miyata, T. Yokoyama et al., Appl. Phys. Lett. 86, 063509 (2005).
- F. Roth, C. Lupulescu, T. Arion et al., J. Appl. Phys. 115, 033705 (2014).
- Л. М. Блинов, В. В. Лазарев, С. Г. Юдин, Кристаллография 58, 908 (2013).
- C.-F. Lin, M. Zhang, S.-W. Liu et al., Int. J. Mol. Sci. 12, 476 (2011).
- G. Yu, J. Gao, J. C. Hummelen et al., Science. 270, 1789 (1995).
- S. R. Cowan, N. Banerji, W. L. Leong et al., Adv. Funct. Mater. 22, 1116 (2012).
- D. Beljonne, J. Cornil, L. Mussioli et al., Chem. Mater. 23, 591 (2011).
- R.-J. Baeg, M. Binda, D. Natali et al., Adv. Mater. 25, 4267 (2013).
- Э.А. Силиньш, М. В. Курик, В. Чапек, Электронные процессы в органических молекулярных кристаллах. Явления локации и поляризации. Зинатне, Рига (1988).
- http://emlab.utep.edu/ee5390fdtd.htm
- Хим. энцикл. в 5 т.; т. 5 Бол. Росс. Энцикл., Москва (1998), с. 195.
- A. B. P. Lever, S. R. Pickens, P. C. Minor et al., J. Am. Chem. Soc. 103, 6800 (1981).
- К. В. Зуев, Дисс. канд. техн. наук, РХТУ им. Д. И. Менделеева, Москва (2019).
- С. П. Палто, А. В. Алпатова, А. Р. Гейвандов и др., Оптика и спектроскопия 124, 210 (2018).
- В. В. Лазарев, Л. М. Блинов, С. Г. Юдин и др., ЖЭТФ 157, 156 (2020).
- H. Fujiwara and M. Kondo, Phys. Rev. B. 71, 075109 (2005).
- A. D. Raki'c, A. B. Djuriˇs'c, J. M. Elazar et al., Appl. Opt. 37, 5271 (1998).