The Determining Role of the (HF2) Ion in the Formation of Pores in Silicon in Its Electrochemical Etching with Hydrofluoric Acid Solutions


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

A model of the chemical interaction of Si with the (HF2) ion was propsoed to explain some experimental data on the formation of porous silicon.

Авторлар туралы

E. Abramova

Institute of Fine Chemical Technologies

Email: anavenko@yandex.ru
Ресей, Moscow, 119571

A. Khort

Institute of Fine Chemical Technologies

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: anavenko@yandex.ru
Ресей, Moscow, 119571

A. Yakovenko

Institute of Fine Chemical Technologies

Email: anavenko@yandex.ru
Ресей, Moscow, 119571

E. Slipchenko

Institute of Fine Chemical Technologies

Email: anavenko@yandex.ru
Ресей, Moscow, 119571

D. Kornilova

Institute of Fine Chemical Technologies

Email: anavenko@yandex.ru
Ресей, Moscow, 119571

M. Tsygankova

Institute of Fine Chemical Technologies

Email: anavenko@yandex.ru
Ресей, Moscow, 119571

V. Shvets

Institute of Fine Chemical Technologies

Email: anavenko@yandex.ru
Ресей, Moscow, 119571

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2018