Nickel oxide epitaxial films and diode structures based on them

封面

如何引用文章

全文:

开放存取 开放存取
受限制的访问 ##reader.subscriptionAccessGranted##
受限制的访问 订阅存取

详细

Epitaxial NiO films on LiNbO3 substrates were produced using magnetron sputtering. Optimal conditions for deposition of NiO films to achieve their high crystalline perfection were found. Optical properties of NiO films were studied in the wavelength range of 250...800 nm. The band gap of nickel oxide was determined. Semiconductor diode structures in the form of interdigital Schottky barrier contacts to the epitaxial NiO film were fabricated. The current-voltage characteristics of the diode structures demonstrate low dark currents and the possibility of creating photodetectors for the UV part of the spectrum with a long-wavelength boundary of 340 nm on their basis.

全文:

受限制的访问

作者简介

S. Averin

Fryazino branch Kotelnikov Institute of Radioengineering and Electronics of RAS

编辑信件的主要联系方式.
Email: sva278@ire216.msk.su
俄罗斯联邦, Vvedensii Squar. 1, Fryazino, Moscow oblast, 141190

V. Luzanov

Fryazino branch Kotelnikov Institute of Radioengineering and Electronics of RAS

Email: sva278@ire216.msk.su
俄罗斯联邦, Vvedensii Squar. 1, Fryazino, Moscow oblast, 141190

V. Zhitov

Fryazino branch Kotelnikov Institute of Radioengineering and Electronics of RAS

Email: sva278@ire216.msk.su
俄罗斯联邦, Vvedensii Squar. 1, Fryazino, Moscow oblast, 141190

L. Zaharov

Fryazino branch Kotelnikov Institute of Radioengineering and Electronics of RAS

Email: sva278@ire216.msk.su
俄罗斯联邦, Vvedensii Squar. 1, Fryazino, Moscow oblast, 141190

V. Kotov

Fryazino branch Kotelnikov Institute of Radioengineering and Electronics of RAS

Email: sva278@ire216.msk.su
俄罗斯联邦, Vvedensii Squar. 1, Fryazino, Moscow oblast, 141190

M. Temiryazeva

Fryazino branch Kotelnikov Institute of Radioengineering and Electronics of RAS

Email: sva278@ire216.msk.su
俄罗斯联邦, Vvedensii Squar. 1, Fryazino, Moscow oblast, 141190

E. Mirgorodskaya

Fryazino branch Kotelnikov Institute of Radioengineering and Electronics of RAS

Email: sva278@ire216.msk.su
俄罗斯联邦, Vvedensii Squar. 1, Fryazino, Moscow oblast, 141190

参考

  1. Gupta R.K., Hendi A.A., Cavas M. et al. // Phys. E. 2014. V. 56. P. 288.
  2. Choi J.-M., Im S. // Appl. Surface Sci. 2005. V. 244. № 1-4. P. 435.
  3. Steinebach H., Kannan S., Rieth L., Solzbacher F. // Sensors Actuators B: Chem. 2010. V. 151. P. 162.
  4. Sato H., Minami T., Takata S., Yamada T. // Thin Solid Films. 1993. V. 236. № 1-2. P. 27.
  5. Lou X.C., Zhao X.J., He X. // Solar Energy. 2009. V. 83.№ 12. P. 2103.
  6. Shinde V.R., Gujar T.P., Lokhande C.D. et al. // Mater. Chem. Phys. 2006. V. 96. № 2-3. P. 326.
  7. Park S.-W., Choi J.M., Kim E., Im S. // Appl. Surf. Sci. 2005. V. 244. № 1. P. 439.
  8. Ohta H., Hirano M., Nakahara K. et al. // Appl. Phys. Lett. 2003. V. 83. № 5. P. 1029.
  9. Kakehi Y., Nakao S., Satoh K., Kusaka T. // J. Crystal Growth. 2002. V. 237–239. Pt. 1. P. 591.
  10. Lindahl E., Lu J., Ottosson M., Carlsson J.-O. // J. Crystal Growth. 2009. V. 311. № 16. P. 4082.
  11. Wang Y., Ghanbaja J., Boulet P. et al. // Acta Materialia. 2019. V. 164. P. 648.
  12. Ahmed A.A., Devarajan M., Afzal N. // Sensors and Actuators A: Phys. 2017. V. 262. P. 78.
  13. Manjnatra K.N., Paul Sh. // Appl. Surface Sci. 2015. V. 352. P. 10.
  14. Лузанов В.А. // РЭ. 2020. Т. 65. № 12. С. 1206.
  15. Бланк Т.Б., Гольдберг Ю.А. // Физика и техника полупроводников. 2003. Т. 37. № 9. С. 1025.
  16. Lin D.Y., Chen W.L., Lin W.C. et al. // Phys. Stat. Solidi. 2006. V. C-3. № 6. P. 1983.
  17. Surender S., Probakaran K., Pradeep S. et al. // Opt. Mater. 2023. V. 136. Article No. 113462.
  18. Tauc J. // Mater. Res. Bull. 1968. V. 3. № 1. P. 37.
  19. Hadi A.A., Badr B.A., Mahdi R.O., Khashan K.S. // Optic-Int. J. Light and Electron Optics. 2020. V. 219. Article No. 165019.
  20. Averine S.V., Chan Y.C., Lam Y.L. // Solid-State Electron. 2001. V. 45. № 3. P. 441.
  21. Ahmed A.A., Hashim M.R., Abdalrheem R., Rashid M. // J. Alloys Comp. 2019. V. 798. P. 300.

补充文件

附件文件
动作
1. JATS XML
下载
2. Fig. 1. Swing curve for sample 2, NiO epitaxial layer thickness of 300 nm.

下载 (71KB)
索引源数据
3. Fig. 2. Surface fragment of NiO/LiNbO3 heterostructure (a) and its morphology (b); image obtained with an atomic force microscope.

下载 (376KB)
索引源数据
4. Fig. 3. Surface fragment of the original LiNbO3 substrate (AFM image); RMS height of irregularities RMS = 0.25 nm.

下载 (130KB)
索引源数据
5. Fig. 4. Transmission spectra of the investigated samples: 1 - LiNbO3 substrate only, 2-5 - heterostructures NiO film/LiNbO3 substrate with NiO layer of different thickness: d = 300 nm (2) sample 2, d = 320 nm (3) sample 3, d = 380 nm (4) sample 4, d = 525 nm (5) sample 5.

下载 (78KB)
索引源数据
6. Fig. 5. Graph of (αhν)2 = f (hν) for the determination of Eg in the deposited films, sample 2.

下载 (60KB)
索引源数据
7. Fig. 6. Diode MPM structure in section: width of NiAu counter-pin contacts and spacing of 10 μm, active diode area 500 × 500 μm2.

下载 (48KB)
索引源数据
8. Fig. 7. Volt-ampere characteristics of diode MFM structures at different NiO film thicknesses: d = 200 (1), 100 (2) and 50 nm (3).

下载 (69KB)
索引源数据

版权所有 © Russian Academy of Sciences, 2024

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».