МЕТОД ДЕТЕКТИРОВАНИЯ НАНОМЕТРОВЫХ КОЛЕБАНИЙ ДЛИНЫ В ВОЛОКОННО-ОПТИЧЕСКИХ СЕНСОРАХ С ПОМОЩЬЮ СЛЕДЯЩЕГО ТАНДЕМНОГО НИЗКОКОГЕРЕНТНОГО ИНТЕРФЕРОМЕТРА
- Авторы: Волков П.В.1, Горюнов А.В.1, Лукьянов А.Ю.1, Семиков Д.А.1, Тертышник А.Д.1
-
Учреждения:
- Институт физики микроструктур РАН
- Выпуск: № 6 (2023)
- Страницы: 69-73
- Раздел: ОБЩАЯ ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНАЯ ТЕХНИКА
- URL: https://journals.rcsi.science/0032-8162/article/view/233263
- DOI: https://doi.org/10.31857/S0032816223040067
- EDN: https://elibrary.ru/SUMVEN
- ID: 233263
Цитировать
Аннотация
Предложен метод детектирования изменений длины оптического резонатора, предназначенный для волоконно-оптических сенсоров, построенных по схеме интерферометра Фабри–Перо. Показана возможность детектирования колебаний длины резонатора на субнанометровом уровне в полосе частот 1.5–300 кГц. Чувствительность составила 0.3 нм по среднеквадратичному отклонению. Предложенная схема позволяет надежно выделять высокочастотные колебания на фоне медленных дрейфов длины сенсора, вызванных температурными колебаниями или деформациями.
Об авторах
П. В. Волков
Институт физики микроструктур РАН
Email: volkov@ipmras.ru
Россия, 603950, Нижний Новгород, ГСП-105
А. В. Горюнов
Институт физики микроструктур РАН
Email: volkov@ipmras.ru
Россия, 603950, Нижний Новгород, ГСП-105
А. Ю. Лукьянов
Институт физики микроструктур РАН
Email: volkov@ipmras.ru
Россия, 603950, Нижний Новгород, ГСП-105
Д. А. Семиков
Институт физики микроструктур РАН
Email: volkov@ipmras.ru
Россия, 603950, Нижний Новгород, ГСП-105
А. Д. Тертышник
Институт физики микроструктур РАН
Автор, ответственный за переписку.
Email: volkov@ipmras.ru
Россия, 603950, Нижний Новгород, ГСП-105
Список литературы
- Zhang Z., Liao C., Tang J., Bai Z., Guo K., Hou M., He J., Wang Y., Liu S., Zhang F., Wang Y. // J. Light. Technol. 2017. V. 35. № 18. P. 4067. https://doi.org/10.1109/JLT.2017.2710210
- Ma J., Jin W., Xuan H., Wang C., Ho H.L. // Opt. Lett. 2014. V. 39. № 16. P. 4769. https://doi.org/10.1364/OL.39.004769
- Liu Q., Jing Z., Liu Y., Li A., Xia Z., Peng W. // Opt. Express. 2019. V. 27. № 26. P. 38191. https://doi.org/10.1364/OE.381197
- Yu H., Luo Z., Zheng Y., Ma J., Li Z., Jiang X. // J. Light. Technol. 2019. V. 37. № 10. P. 2261. https://doi.org/10.1109/JLT.2019.2901845
- Tosi D. // J. Light. Technol. 2016. V. 34. № 15. P. 3622. https://doi.org/10.1109/JLT.2016.2575041
- Yang Y., Wang Y., and Chen K. // Opt. Express. 2021. V. 29. № 5. P. 6768. https://doi.org/10.1364/OE.415750
- Digonnet M.J.F., Akkaya O.C., Kino G.S., Solgaard O. // Imaging Applied Optics Technical Digest. 2012. Stu3F. 1. https://doi.org/10.1364/SENSORS.2012.Stu3F.1
- Zhou C., Letcher S.V., Shukla A. // The J. Acoust. Soc. Am. 1995. V. 98. № 2. P. 1042. https://doi.org/10.1121/1.413669
- Akkaya O.C., Akkaya O., Digonnet M.J.F., Kino G.S., Solgaard O. // J. Microelectromechanical Syst. 2012. V. 21. № 6. P. 1347. https://doi.org/10.1109/JMEMS.2012.2196494
- Kilic O., Digonnet M., Kino G., Solgaard O. // Meas. Sci. Technol. 2007. V. 18. № 10. P. 3049. https://doi.org/10.1088/0957-0233/18/10/S01
- Dandridge A., Tveten A., Giallorenzi T. // IEEE J. Quantum Electron. 1982. V. 18. № 10. P. 1647.
- Wang L., Zhang M., Mao X., Liao Y. // Interferometry XIII: Techniques and Analysis. 2006. V. 62921E. https://doi.org/10.1117/12.678455
- Chen K., Yu Z., Gong Z., Yu Q. // Opt. Lett. 2018. V. 43. № 20. P. 5038. https://doi.org/10.1364/OL.43.005038
- Volkov P., Semikov D., Goryunov A., Luk’yanov A., Tertyshnik A., Vopilkin E., Krayev S. // Sensors Actuators A: Phys. 2020. V. 316. P. 112385. https://doi.org/10.1016/j.sna.2020.112385
- Volkov P., Goryunov A., Luk’yanov A., Tertyshnik A., Baidakova N., Luk’yanov I. // Optik. 2013. V. 124. № 15. P. 1982. https://doi.org/10.1016/j.ijleo.2012.06.043
- Volkov P., Lukyanov A., Goryunov A., Semikov D., Vopilkin E., Kraev S., Okhapkin A., Tertyshnik A., Arkhipova E. // Sensors. 2021. V. 21. № 21. P. 7343. https://doi.org/10.3390/s21217343
Дополнительные файлы
