KALIBROVKA SKANIRUYuShchEGO ZONDOVOGO MIKROSKOPA KEL'VINA I OPREDELENIE UROVNEY FERMI NANOKRISTALLOV SUL'FIDA SVINTsA

Cover Page

Cite item

Full Text

Open Access Open Access
Restricted Access Access granted
Restricted Access Subscription Access

Abstract

Калибровку величины работы выхода зондов для сканирующей микроскопии Кельвина, традиционно основанную на использовании высокоориентированного пиролитического графита, предлагается дополнять калибровкой по распространенному материалу – оксиду олова, легированному индием и фтором (ITO и FTO). Исследование проводится с использованием зондов с платиновым и золотым покрытиями. По результатам калибровки определяются положения уровня Ферми нанокристаллов сульфида свинца с лигандными оболочками 1,2-этандитиола и тетрабутиламмония йодида. Показано, что выбранные оксиды характеризуются стабильной величиной работы выхода, дополнительная калибровка по оксидам помогает надежнее установить абсолютное положение работы выхода зондов, а золотые зонды обеспечивают более стабильный результат. Выбранные оксиды можно использовать и как дополнение к калибровке по пиролитическому графиту, и самостоятельно.

About the authors

D. A. Onishchuk

Email: qrspeter@gmail.com

A. P. Litvin

Email: qrspeter@gmail.com

P. S. Parfenov

Author for correspondence.
Email: qrspeter@gmail.com

References

  1. Santos-Cruz J., Marasamy L., Manisekaran R., Mayén-Hernández S.A., De Moure-Flores F., Aruna-Devi R. // Mater& Lett. 2022. V. 312. P. 131719. https://doi.org/10.1016/j.matlet.2022.131719
  2. Advanced Microand Nanomaterials for Photovoltaics. Elsevier, 2019. P. 35.
  3. Wang J., Liu J., Yin H., Li S., Kuvondikov V., Ye L. // Mater. Chem. Front. 2023. V. 7. P. 4693–4706. https://doi.org/10.1039/D3QM00334E
  4. Yang B., Cang J., Li Z., Chen J. // Nanoscale Adv. 2024. V. 6. P. 1331. https://doi.org/10.1039/D3NA01063E
  5. Brown P.R., Kim D., Lunt R.R., Zhao N., Bawendi M.G., Grossman J.C., Bulović V. // ACS Nano. 2014. V. 8. P. 5863. https://doi.org/10.1021/nn500897c
  6. Парфенов П.С., Бухряков Н.В., Онищук Д.А., Бабаев А.А., Соколова А.В., Литвин А.П. // Физика и техника полупроводников. 2022. Т. 56. C. 236. https://doi.org/10.21883/FTP.2022.02.51968.9734
  7. Albaladejo‐Siguan M., Baird E.C., Becker‐Koch D., Li Y., Rogach A.L., Vaynzof Y. // Adv. Energy Mater. 2021. V. 11. P. 2003457. https://doi.org/10.1002/aenm.202003457
  8. Becker-Koch D., Albaladejo-Siguan M., Lami V., Paulus F., Xiang H., Chen Z., Vaynzof Y. // Sustainable Energy Fuels. 2020. V. 4. P. 108. https://doi.org/10.1039/C9SE00602H
  9. Fernández Garrillo P.A., Grévin B., Chevalier N., Borowik Ł. // Rev. Sci. Instruments. 2018. V. 89. P. 043702. https://doi.org/10.1063/1.5007619
  10. Miller E.M., Kroupa D.M., Zhang J., Schulz P., Marshall A.R., Kahn A., Lany S., Luther J.M., Beard M.C., Perkins C.L., Van De Lagemaat J. // ACS Nano. 2016. V. 10. P. 3302. https://doi.org/10.1021/acsnano.5b06833
  11. Kulis P., Butikova J., Polyakov B., Marcins G., Pervenecka J., Pudzs K., Tale I. // IOP Conf. Ser.: Mater. Sci. Eng. 2012. V. 38. P. 012048. https://doi.org/10.1088/1757-899X/38/1/012048
  12. Lee M., Wang L., Zhang D., Li J., Kim J., Yun J.S., Seidel J. // Adv. Mater. 2024. V. 36. P. 2407291. https://doi.org/10.1002/adma.202407291
  13. Salerno M., Dante S.// Materials. 2018. V. 11. P. 951. https://doi.org/10.3390/ma11060951
  14. Di Franco C., Piscitelli M., Macchia E., Scandurra C., Catacchio M., Torsi L., Scamarcio G. // J. Mater. Chem. C. 2024. V. 12. P. 73. https://doi.org/10.1039/D3TC03110A
  15. Zisman W.A. // Rev. Sci. Instruments. 1932. V. 3. № 7. P. 367. https://doi.org/10.1063/1.1748947
  16. Surface Science Tools for Nanomaterials Characterization / Ed. by C.S.S.R. Kumar. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2015. P. 117.
  17. Nonnenmacher M., O’Boyle M.P., Wickrama­singhe H.K. // Appl. Phys. Lett. 1991. V. 58. P. 2921. https://doi.org/10.1063/1.105227
  18. Glatzel T., Gysin U., Meyer E. // Microscopy. 2022. V. 71. P. i165. https://doi.org/10.1093/jmicro/dfab040
  19. Chang J., Xiao J., Lin Z., Zhu H., Xu Q.-H., Zeng K., Hao Y., Ouyang J. // J. Mater. Chem. A. 2016. V. 4. P. 17464. https://doi.org/10.1039/C6TA05350E
  20. Glatzel T., Rusu M., Sadewasser S., Lux-Steiner M.C.// Nanotechnology. 2008. V. 19. P. 145705. https://doi.org/10.1088/0957-4484/19/14/145705
  21. Liscio A., Palermo V., Müllen K., Samorì P. // J. Phys. Chem. C. 2008. V. 112. P. 17368. https://doi.org/10.1021/jp806657k
  22. Kim C., Bae C., Ryu K., Lee B., Shin H. // Solid State Phenomena. 2007. V. 124-126. P. 607. https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/SSP.124-126.607
  23. Tani T. // J. Soc. Photographic Science Technol. Jpn. 2015. V. 78. P. 16. https://doi.org/10.11454/photogrst.78.16
  24. Mechatronics / Ed. by R. Jabloński, T. Březina. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2011. P. 227.
  25. Castanon E.G., Fernández Scarioni A., Schu­macher H.W., Spencer S., Perry R., J.A., Clifford C.A., Corte-León H. // J. Phys. Commun. 2020. V. 4. P. 095025. https://doi.org/10.1088/2399-6528/abb984
  26. Hines M.A., Scholes G.D. // Adv. Mater. 2003. V. 15. P. 1844. https://doi.org/10.1002/adma.200305395
  27. Lu K., Wang Y., Liu Z., Han L., Shi G., Fang H., Chen J., Ye X., Chen S., Yang F., Shulga A.G., Wu T., Gu M., Zhou S., Fan J., Loi M.A., Ma W. // Adv. Mater. 2018. V. 30. P. 1. https://doi.org/10.1002/adma.201707572
  28. Kwon N., Song S.H., Jin J., Kim S., Kim K., Hwang G.W., Yi Y., Oh S.J., Koch N., Kim Y.-H., Hwang D.K., Park S. // Appl. Surface Science. 2024. V. 664. P. 160235. https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2024.160235
  29. Garrett J. // Zenodo. Garrettj403/SciencePlots. 2023. https://doi.org/10.5281/ZENODO.4106649

Supplementary files

Supplementary Files
Action
1. JATS XML
Download

Copyright (c) 2025 Russian Academy of Sciences

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).