Исследование распределения интенсивности и энергии излучения импульсных рентгеновских трубок коаксиального типа с пиковыми напряжениями до 615 кВ
- 作者: Комарский А.А.1, Корженевский С.Р.1
-
隶属关系:
- Институт электрофизики Уральского отделения Российской академии наук
- 期: 编号 2 (2024)
- 页面: 110–118
- 栏目: ОБЩАЯ ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНАЯ ТЕХНИКА
- URL: https://journals.rcsi.science/0032-8162/article/view/266098
- DOI: https://doi.org/10.31857/S0032816224020155
- EDN: https://elibrary.ru/QSCKLB
- ID: 266098
如何引用文章
详细
Исследовано распределение интенсивности и энергии рентгеновского излучения в плоскости детектора для трех импульсных рентгеновских источников. Источники генерируют импульсы излучения наносекундной длительности с разными максимальными напряжениями: 90 кВ, 320 кВ и 615 кВ. Рентгеновские трубки данных источников выполнены в коаксиальном виде, автоэмиссионный катод представляет собой танталовый диск с внутренним отверстием, диаметр которого зависит от максимального напряжения источника, анод представляет собой заостренный вольфрамовый стержень диаметром 4 мм. За счет конструкции электродов, позволяющей сохранить относительно небольшое фокусное пятно при высоких напряжениях, распределение интенсивности излучения по площади детектора отличается от классического распределения Гаусса. Различие наблюдается для источников с максимальным напряжением выше 300 кВ. Возможность получать высокие энергии излучения позволяет применять данные источники для получения двухэнергетических рентгеновских изображений. Для эффективного использования двухэнергетической обработки исследована зависимость распределения излучения разной эффективной энергии по площади детектора.
全文:

作者简介
А. Комарский
Институт электрофизики Уральского отделения Российской академии наук
编辑信件的主要联系方式.
Email: aakomarskiy@gmail.com
俄罗斯联邦, 620110, Екатеринбург, ул. Амундсена, 106
С. Корженевский
Институт электрофизики Уральского отделения Российской академии наук
Email: sk@iep.uran.ru
俄罗斯联邦, 620110, Екатеринбург, ул. Амундсена, 106
参考
- Aichinger H., Dierker J., Joite-Barfuß S. et. al. Radiation Exposure and image quality in X-Ray diagnostic radiology. Springer Berlin, Heidelberg, 2012. P. 307.
- Староверов Н.Е., Грязнов А.Ю., Камышанская И.Г., Потрахов Н.Н., Холопова Е.Д. // Российский Технологический Журнал. 2021. Т. 9. С. 57. https://doi.org/10.32362/2500-316x-2021-9-6-57-63
- Бехтерев А.В., Лабусов В.А., Лохтин Р.А., Пьянов Д.А., Строков И.И., Храмов М.С. // Российский Электронный Журнал Лучевой Диагностики. 2019. Т. 9. С. 160. https://doi.org/10.21569/2222-7415-2019-9-1-160-176
- Brosi P., Stuessi A., Verdun F., Vock P., Wolf R. // Radiological Physics and Technology. 2011. V. 4. P. 148. https://doi.org/10.1007/s12194-011-0115-4
- Blinov N.N., Vasilyev A.Yu., Bessonov V.B., Gryaznov A.Yu., Zhamova K.K., Potrakhov E.N., Potrakhov N.N. // Biomedical Engineering. 2014. V. 48. P. 58. https://doi.org/10.1007/s10527-014-9418-1
- Jain A., Panse A., Bednarek D. et. al., // Proc. SPIE. 2014. V. 9033. https://doi.org/10.1117/12.2043057
- Сорокин В.Б., Луценко А.С., Генцельман В.Г. // Приборы и техника эксперимента. 2018. Т. 2. C. 38. https://doi.org/10.7868/S0032816218020088
- Потрахов Н.Н., Мазуров А.И., Гук К.К., Потрахов Ю.Н. Способ определения фокусного пятна рентгеновской трубки. Патент РФ RU 2717376 C1, 2020.
- Усачев Е.Ю., Гнедин М.М. Способ измерения размеров эффективного фокусного пятна микрофокусных рентгеновских трубок. Патент РФ RU 2674567 C1. 2018.
- Bircher B.A., Meli F., Küng A., Thalmann R. Proc. 10th Conference on Industrial Computed Tomography (iCT 2020), Wels, Austria, 2020. Special Issue of e-Journal of Nondestructive Testing. 2020. V. 25 (2). P. 1. https://doi.org/10.58286/25087
- Liu M., Yu H., Xi X., Tan S., Zhu L., Zhang Z., Li L., Chen J., Yan B. // Applied Optics. 2023. V. 62. P. 2784. https://doi.org/10.1364/AO.479467
- Rukin S.N., Tsyranov S.N. // Tech. Phys. Lett. 2000. V. 26. P. 824. https://doi.org/10.1134/1.1315507
- Lyubutin S.K., Pedos M.S., Ponomarev A.V., Rukin S.N., Slovikovsky B.G., Tsyryanov S.N., Vasiliev P.V. // IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation. 2011. V. 18. P. 1221. https://doi.org/10.1109/TDEI.2011.5976119
- Rukin S.N. // Rev. Sci. Instrum. 2020. V. 91. P. 011501. https://doi.org/10.1063/1.5128297
- Grishin D.M., Gubanov V.P., Korovin S.D., Lyubutin S.K., Mesyans G.A., Nikiforov A.V., Rostov V.V., Rukin S.N., Slovikovskii B.G., Ul’maskulov M.R., Sharypov K.A., Shpak V.G., Shunailov S.A., Yalandin M.I. // Tech. Phys. Lett. 2002. V. 28. P. 806. https://doi.org/10.1134/1.1519013
- Komarskiy A.A., Korzhenevskiy S.R., Ponomarev A.V., Komarov N.A. // Journal of X-Ray Science and Technology. 2021. V. 29. P. 567. https://doi.org/10.3233/XST-210873
- Komarskiy A.A., Korzhenevskiy S.R., Komarov N.A. // AIP Conference Proceedings. 2020. V. 2250. P. 020018. https://doi.org/10.1063/5.0013238
- Bauer C., Wagner R., Orberger B., Firsching M., Ennen A., Pina C.G., Wagner C., Honarmand M., Nabatian G., Monsef I. // Sensors. 2021. V. 21. P. 2455. https://doi.org/10.3390/s21072455
- Rebuffel V., Dinten J-M. // Insight Non-Destr. Test. Cond. Monit. 2007. V. 49. P. 589. https://doi.org/10.1784/insi.2007.49.10.589
- Komarskiy A.A., Korzhenevskiy S.R., Komarov N.A. // AIP Conference Proceedings. 2023. V. 2726. P. 020012. https://doi.org/10.1063/5.0134249
- Komarskiy A., Korzhenevskiy S., Ponomarev A., Chepusov A. // Sensors. 2023. V. 23. P. 4393. https://doi.org/10.3390/s23094393
补充文件
