КОНТУРНЫЙ МЕТОД ТОМОГРАФИЧЕСКОГО СКАНИРОВАНИЯ С ИДЕНТИФИКАЦИЕЙ ДЕФЕКТОВ ПРИ ПОМОЩИ КОМПЬЮТЕРНОГО ЗРЕНИЯ
- Authors: Оздиев А.1, Сырямкин В.1
-
Affiliations:
- Национальный исследовательский Томский государственный университет
- Issue: No 4 (2023)
- Pages: 108-115
- Section: ОБЩАЯ ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНАЯ ТЕХНИКА
- URL: https://journals.rcsi.science/0032-8162/article/view/138439
- DOI: https://doi.org/10.31857/S0032816223030084
- EDN: https://elibrary.ru/ISEWTY
- ID: 138439
Cite item
Abstract
Исследование крупногабаритных объектов является одной из самых распространенных проблем рентгеновского томографического сканирования, решение которой требует применения более мощных источников излучения, сложной дорогостоящей мехатроники, а также детекторных устройств большого размера, что, несомненно, ведет к кратному удорожанию самой рентгеновской установки. В данной статье представлен один из возможных методов решения данной проблемы, суть которого заключается в сканировании объектов по их контуру. Такой подход способен сильно сократить стоимость комплектующих рентгеновской установки. В то же время подход обладает существенным ограничением: наличием большого числа артефактов, которые не позволяют с достаточной достоверностью детектировать дефекты. Данную проблему предложено решить при помощи машинного обучения.
About the authors
А. Оздиев
Национальный исследовательский Томский государственный университет
Email: svi_tsu@mail.ru
Россия, 634050, Томск, просп. Ленина, 36
В. Сырямкин
Национальный исследовательский Томский государственный университет
Author for correspondence.
Email: svi_tsu@mail.ru
Россия, 634050, Томск, просп. Ленина, 36
References
- Hiller J., Maisl M., Reindl L.M. // Measurement Science and Technology. 2012. V. 23. P. 085404. https://doi.org/10.1088/0957-0233/23/8/085404
- Zhao G., Qin S. // Sensors (Switzerland). 2018. V. 18. https://doi.org/10.3390/s18082524
- Sperrin M., Winder J. Scienti c Basis of the Royal College of Radiologists Fellowship. IOP Publishing, 2014. P. 2−50.
- Zwanenburg E., Williams M., Warnett J. // Measurement Science and Technology. V. 33. № 1. https://doi.org/10.1088/1361-6501/ac354a
- De Chiffre L., Carmignato S., Kruth J.-P., Schmitt R., Weckenmann A. // CIRP Annals – Manufacturing Technology. 2014. V. 63. P. 655. https://doi.org/10.1016/j.cirp.2014.05.011
- Cervantes G.A. Technical Fundamentals of Radiology and CT. IOP Publishing, 2016. P. 11−15.
- Herman G.T. Chap. Computerized Tomography. UK, Basingstoke: Macmillan Press Ltd., 2002. P. 192.
- Ozdiev A., Afornu B., Sednev D. // Research in Nondestructive Evaluation. 2019. V. 30. Iss. 3. P. 179. https://doi.org/10.1080/09349847.2018.1498960
- Wenming Guo, Huifan Qu, Lihong Liang // 14th International Conference on Natural Computation, Fuzzy Systems and Knowledge Discovery (ICNC-FSKD). Huangshan, China, July 28-30, 2018. IEEE. 2018. doi 20https://doi.org/10.1109/ICNC-FSKD45631.2018
- Ozdiev A. // Key Engineering Materials. 2017. V. 743. P. 445. doi: 10.4028/ href='www.scientific.net/KEM.743.445' target='_blank'>www.scientific.net/KEM.743.445
- Ozdiev A., Kryuchkov Y., Kroning H. // MATEC Web Conf. V International Forum for Young Scientists “Space Engineering”. 2017. V. 102. Article Number 01029. P. 4. https://doi.org/10.1051/matecconf/201710201029
- https://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/7984661