ВРЕМЕННЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ ОДНОЭЛЕКТРОННЫХ ФОТОУМНОЖИТЕЛЕЙ ФЭУ-175, ФЭУ-186 С ДЖИТТЕРОМ 0.4 нс

Cover Page

Cite item

Full Text

Open Access Open Access
Restricted Access Access granted
Restricted Access Subscription Access

Abstract

Представлены результаты исследований временных характеристик (счетных, распределений амплитуд одноэлектронных импульсов, разброса времени прохождения сигналов (джиттера) при воздействии излучением пикосекундных диодных лазеров в спектральном диапазоне 405–780 нм) быстродействующих фотоумножителей ФЭУ-175 и ФЭУ-186 производства АО ЦНИИ “Электрон” (Санкт-Петербург). ФЭУ-175 и ФЭУ-186 соответственно оснащены бищелочным и мультищелочным фотокатодами, их рабочий спектральный диапазон составляет 250–650 и 250–800 нм соответственно. Усиление сигналов обеспечивает 14‑динодная система умножения, при этом время нарастания импульсной характеристики ФЭУ не превышает 1.5 нс, а джиттер составляет около 0.4 нс. Данные ФЭУ могут использоваться в качестве фотодетекторов в одноквантовых кинетических спектрометрах с субнаносекундным разрешением и в других быстродействующих оптоэлектронных регистраторах.

About the authors

Ф. Ермалицкий

Институт прикладных физических проблем им. А.Н. Севченко БГУ

Author for correspondence.
Email: f.ermalitski@gmail.com
Беларусь, 220062, Минск, ул. Курчатова, 7

К. Ермалицкая

Белорусский государственный университет

Email: samtsov@mail.ru
Беларусь, 220050, Минск, просп. Независимости, 4

В. Лукьянов

ЦНИИ “Электрон”

Email: samtsov@mail.ru
Россия, 194223, , Санкт-Петербург, просп. Тореза, 68, Литер Р

А. Вязников

ЦНИИ “Электрон”

Email: samtsov@mail.ru
Россия, 194223, , Санкт-Петербург, просп. Тореза, 68, Литер Р

Р. Кирпиченко

ЦНИИ “Электрон”

Email: samtsov@mail.ru
Россия, 194223, , Санкт-Петербург, просп. Тореза, 68, Литер Р

Г. Мамаева

ЦНИИ “Электрон”

Email: samtsov@mail.ru
Россия, 194223, , Санкт-Петербург, просп. Тореза, 68, Литер Р

А. Радько

Институт прикладных физических проблем им. А.Н. Севченко БГУ

Email: samtsov@mail.ru
Беларусь, 220062, Минск, ул. Курчатова, 7

М. Самцов

Институт прикладных физических проблем им. А.Н. Севченко БГУ

Author for correspondence.
Email: samtsov@mail.ru
Беларусь, 220062, Минск, ул. Курчатова, 7

О. Филипова

ЦНИИ “Электрон”

Email: samtsov@mail.ru
Россия, 194223, , Санкт-Петербург, просп. Тореза, 68, Литер Р

References

  1. Demas J.N. Exited state lifetime measurements. NY., London: Academy Press, 1983. https://doi.org/10.1016/b978-0-12-208920-6.x5001-0
  2. Lakowicz J.R. Principles of fluorescence spectroscopy. 3rd ed. NY.: Springer, 2006. https://doi.org/10.1007/978-0-387-46312-4
  3. Hamamatsu. Photomultiplier tubes. Hamamatsu Photonics K.K. 2016.
  4. Ветохин С.С., Ермалицкий Ф.А., Мельников С.М., Суханин С.В., Шойтов М.А. // ПТЭ. 1998. № 2. P. 5.
  5. Ермалицкий Ф.А., Радько А.Е., Самцов М.П. // ПТЭ. 2020. № 6. С. 125. https://doi.org/10.31857/S0032816220060051
  6. Воропай Е.С., Ермалицкая К.Ф., Ермалицкий Ф.А., Радько А.Е., Ржеуцкий Н.В., Самцов М.П. // ПТЭ. 2022. № 1. С. 100. https://doi.org/10.31857/S0032816222010232
  7. Воропай Е.С., Ермалицкий Ф.А., Каплевский К.Н., Радько А.Е. // ПТЭ. 2016. № 4. С. 156. https://doi.org/10.7868/S0032816216040157
  8. Dendebera M., Chornodolskyy Ya., Gamernyk R., Antonyak O., Pashuk I., Myagkota S., Gnilitskyi I., Pankratov V., Vistovskyy V., Mykhaylyk V., Grinberg M., Voloshinovskii A. // Journal of Luminescence. 2020. V. 225. P. 117346. https://doi.org/10.1016/j.jlumin.2020.117346
  9. Белько Н.В., Самцов М.П., Тихомиров С.А., Буганов О.В. // Журнал прикладной спектроскопии. 2020. Т. 87. № 5. С. 752. https://doi.org/10.1007/s10812-020-01078-z

Supplementary files

Supplementary Files
Action
1. JATS XML
2.

Download (345KB)
3.

Download (1MB)
4.

Download (1MB)
5.

Download (1MB)
6.

Download (1MB)
7.

Download (37KB)
8.

Download (215KB)
9.

Download (53KB)

Copyright (c) 2023 Ф.А. Ермалицкий, К.Ф. Ермалицкая, В.Н. Лукьянов, А.Н. Вязников, Р.В. Кирпиченко, Г.А. Мамаева, А.Е. Радько, М.П. Самцов, О.А. Филипова

This website uses cookies

You consent to our cookies if you continue to use our website.

About Cookies