ИЗМЕРЕНИЕ МАЛЫХ ПОТЕРЬ НА ПОЛЯРИЗАЦИЮ ПОЛУПРОВОДНИКОВОГО МАТЕРИАЛА В ГОТОВЫХ ДИОДАХ

Семенов Э. В.; Малаховский О. Ю.

doi:10.31857/S0032816223010226

ИЗМЕРЕНИЕ МАЛЫХ ПОТЕРЬ НА ПОЛЯРИЗАЦИЮ ПОЛУПРОВОДНИКОВОГО МАТЕРИАЛА В ГОТОВЫХ ДИОДАХ

Authors: Семенов Э.¹, Малаховский О.²
Affiliations:
1. Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники
2. АО “Научно-исследовательский институт полупроводниковых приборов”
Issue: No 2 (2023)
Pages: 122-128
Section: ЛАБОРАТОРНАЯ ТЕХНИКА
URL: https://journals.rcsi.science/0032-8162/article/view/138344
DOI: https://doi.org/10.31857/S0032816223010226
EDN: https://elibrary.ru/PWDAME
ID: 138344

Cite item

Full Text

Open Access
Restricted Access

Access granted
Restricted Access

Subscription Access

Abstract
About the authors
References
Supplementary files
Statistics

Abstract

Рассмотрен способ измерения потерь на поляризацию полупроводникового материала в области пространственного заряда готового диода. Показано, что измерение может быть выполнено методом сравнения с мерой емкостной добротности при помощи измерителей импеданса общего применения в лабораториях без стабилизации микроклимата и экранирования электромагнитных полей. Для исключения дрейфовой погрешности в этих условиях предлагается многократное регулярное переключение объекта измерения и меры. В результате тангенс угла потерь на поляризацию величиной 1.9 ⋅ 10^–4 удалось измерить с погрешностью ±16%.

About the authors

Э. Семенов

Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники

Author for correspondence.
Email: edwardsemyonov@narod.ru
Россия, 634050, Томск, просп. Ленина, 40

О. Малаховский

АО “Научно-исследовательский институт полупроводниковых приборов”

Email: edwardsemyonov@narod.ru
Россия, 634034, Томск, Красноармейская ул., 99а

References

Norwood M.H., Shatz E. // Proc. IEEE. 1968. V. 56. № 5. P. 788. https://doi.org/10.1109/PROC.1968.6408
Barrera J.S., Curby R.C., DeFevere D.C., Kwan F.S., Nevin L.J., Solomon R. // 6th European Microwave Conference. Rome, Italy, 14–17 September 1976. P. 14. https://doi.org/10.1109/EUMA.1976.332237
Poplavko Y.M. Electronic Materials. Principles and Applied Science. Oxford, United Kingdom: Elsevier, 2019. https://doi.org/10.1016/C2017-0-03281-0
Krupka J., Mouneyrac D., Hartnett J.G., Tobar M.E. // IEEE Trans. Microwave Theory and Techniques. 2008. V. 56. № 5. P. 1201. https://doi.org/10.1109/TMTT.2008.921652
Courtney W.E. // IEEE Trans. Microwave Theory and Techniques. 1977. V. 25. № 8. P. 697.
Малаховский О.Ю., Гущин С.М., Фотина Л.В., Скотников Н.В., Скробов Е.В. Патент РФ 165025 U1, МПК H01L 29/93 // Опубл. 27.09.2016. Бюл. № 27. https://new.fips.ru/Archive4/PAT/2016FULL/2016.09.27/DOC/RUNWU1/000/000/000/165/025/DOCUMENT.PDF
Baker-Jarvis J., Geyer R.G., Grosvenor J.H., Jr., Janezic M.D., Jones C.A., Riddle B., Weil C.M., Krupka J. // IEEE Trans. Dielectrics and Electrical Insulation. 1998. V. 5. № 4. P. 571.
Resonant Coaxial-Line. Model 34A. Instruction Manual. Boonton Electronics Corp. Parsippany, New Jersey, USA, 2002. http://ftb.ko4bb.com/manuals/23.106.56.14/ Boonton_34A_Resonant_Coaxial_Line_Manual.pdf
ГОСТ 18986.19–73. Варикапы. Метод измерения добротности. М.: ИПК Изд-во стандартов, 2004.
Семенов Э.В., Малаховский О.Ю. // Докл. Томск. гос. ун-та систем управления и радиоэлектроники. 2018. Т. 21. № 4. С. 11. https://doi.org/10.21293/1818-0442-2018-21-4-11-16
Yonekura T. // 10th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference. Hamamatsu, Japan, 10–12 May 1994. P. 1004. https://doi.org/10.1109/IMTC.1994.351935
Shi L., He Y., Li B., Wu Y., Huang Y., Cheng T. // IEEE Trans. Instrumentation and Measurement. 2019. V. 68. № 9. P. 3244. https://doi.org/10.1109/TIM.2018.2878073
Zhang L., Zhang D. // IEEE Trans. Instrumentation and Measurement. 2015. V. 64. № 7. P. 1790. https://doi.org/10.1109/TIM.2014.2367775
Wang C. // IEEE Trans. Instrumentation and Measurement. 2015. V. 64. № 7. P. 1994. https://doi.org/10.1109/TIM.2014.2377991
Zakrzewski J., Wróbel K. // IEEE Trans. Instrumentation and Measurement. 2002. V. 51. № 6. P. 1358. https://doi.org/10.1109/TIM.2002.808030
Morawski R.Z., Podgórski A., Sutkowski K. // IEEE Trans. Instrumentation and Measurement. 1992. V. 41. № 6. P. 881. https://doi.org/10.1109/19.199426
Janik D. // IEEE Trans. Instrumentation and Measurement. 1983. V. 32. № 1. P. 232. https://doi.org/10.1109/TIM.1983.4315048