X-Ray Diffraction Studies of Metallic Palladium-Based Foil Filters Using Synchrotron Radiation


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

This paper presents the results of the study of the long-term relaxation states of metallic palladium-based foil filters (Pd, 9.6 at %; Y and Pd, 5.3 at %; In, 0.5 at %; Ru) after hydrogenation (82 000 and 58 500 h, respectively) using X-ray diffraction and synchrotron radiation (SR). We analyzed the normalized integral intensities of diffraction maxima for two orders of reflections from coherent scattering regions (CSRs) along crystallographic directions [111] and [100].

Авторлар туралы

O. Akimova

Faculty of Physics, Moscow State University

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: akimova@physics.msu.ru
Ресей, Moscow, 119991

A. Veligzhanin

Russian Research Center “Kurchatov Institute”

Email: akimova@physics.msu.ru
Ресей, Moscow, 123182

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2018