Raman spectroscopy of the interface between a thin nanostructured ZnO film and fullerene C60

E. A. Zakhidov; M. A. Zakhidova; A. M. Kokhkharov; Sh. K. Nematov; R. A. Nusretov; V. O. Kuvondikov; A. A. Saparbaev

doi:10.1134/S0030400X1704021X

Raman spectroscopy of the interface between a thin nanostructured ZnO film and fullerene C60

Авторы: Zakhidov E.A.¹, Zakhidova M.A.¹, Kokhkharov A.M.¹, Nematov S.K.¹, Nusretov R.A.¹, Kuvondikov V.O.¹, Saparbaev A.A.¹
Учреждения:
1. Institute of Ion-Plasma and Laser Technologies
Выпуск: Том 122, № 4 (2017)
Страницы: 607-614
Раздел: Condensed-Matter Spectroscopy
URL: https://journals.rcsi.science/0030-400X/article/view/165371
DOI: https://doi.org/10.1134/S0030400X1704021X
ID: 165371

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ
Доступ закрыт

Доступ предоставлен
Доступ закрыт

Только для подписчиков

Аннотация
Об авторах
Список литературы
Дополнительные файлы
Статистика

Аннотация

The resonance and nonresonance Raman scattering in the interface between a thin ZnO film with a well-developed nanostructured surface morphology and a layer of fullerene C60 molecules deposited on this film has been investigated. It is shown that the intensity of the interaction between the C60 molecules and ZnO film surface can be estimated based on the spectral scattering characteristics.