Электронные состояния зоны проводимости пленок фторзамещенного фуран-фениленового соолигомера на поверхности кремния и оксида цинка

Обложка

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

Представлены результаты исследования низкоэнергетических вторичных электронных спектров пленок фторзамещенного фуран-фениленового соолигомера в энергетическом диапазоне от 5 до 20 эВ выше EF. Проведено термическое вакуумное осаждение пленок толщиной 8–10 нм на поверхности подложек кремния и послойно осажденного ZnO. Установлены взаиморасположение основных максимумов плотности электронных состояний в зоне проводимости исследованных пленок и характеристики пограничного потенциального барьера между пленками и поверхностями подложек. Проведены исследования топографии поверхности тонких пленок фторзамещенного фуран-фениленового соолигомера методом атомно-силовой микроскопии. Пленки на поверхности ZnO имеют зернистую структуру при диаметре зерна в плоскости поверхности ~100 нм. На поверхности кремния зерна имеют удлиненную форму, характерную для микровискеров.

Об авторах

А. С. Комолов

Санкт-Петербургский государственный университет

Email: a.komolov@spbu.ru
Санкт-Петербург, Россия

И. А. Пронин

Пензенский государственный университет

Пенза, Россия

Э. Ф. Лазнева

Санкт-Петербургский государственный университет

Санкт-Петербург, Россия

В. С. Соболев

Санкт-Петербургский государственный университет

Санкт-Петербург, Россия

Е. А. Дубов

Санкт-Петербургский государственный университет

Санкт-Петербург, Россия

А. А. Комолова

Санкт-Петербургский государственный университет

Санкт-Петербург, Россия

Е. В. Жижин

Санкт-Петербургский государственный университет

Санкт-Петербург, Россия

Д. А. Пудиков

Санкт-Петербургский государственный университет

Санкт-Петербург, Россия

С. А. Пшеничнюк

Институт физики молекул и кристаллов – обособленное структурное подразделение Уфимского федерального исследовательского центра РАН

Уфа, Россия

К. С. Беккер

Новосибирский институт органической химии им. Н.Н. Ворожцова СО РАН

Новосибирск, Россия

М. С. Казанцев

Новосибирский институт органической химии им. Н.Н. Ворожцова СО РАН

Новосибирск, Россия

Ф. Д. Акбарова

Физико-технический институт АН РУз

Ташкент, Узбекистан

У. Б. Шаропов

Физико-технический институт АН РУз

Ташкент, Узбекистан

Список литературы

  1. Sosorev A.Y., Nuraliev M.K., Feldman E.V. et al. // Phys. Chem. Chem. Phys. 2019. V. 21. P. 11578. https://doi.org/10.1039/C9CP00910H
  2. Nenashev G.V., Aleshin A.N., Ryabko A.A. et al. // Solid State Commun. 2024. V. 388. P. 115554. https://doi.org/10.1016/j.ssc.2024.115554
  3. Shaposhnik P.A., Trul A.A., Poimanova E.Yu. et al. // Org. Electron. 2024. V. 129. P. 107047. https://doi.org/10.1016/j.orgel.2024.107047
  4. Koskin I.P., Becker Ch.S., Sonina A.A. et al. // Adv. Funct. Mater. 2021. V. 31. P. 2104638. https://doi.org/10.1002/adfm.202104638
  5. Mannanov A.A., Kazantsev M.S., Kuimov A.D. et al. // J. Mater. Chem. C. 2019. V. 7. P. 60. https://doi.org/10.1039/C8TC04151B
  6. Kazantsev M.S., Frantseva E.S., Kudriashova L.G. et al. // RSC Adv. 2016. V. 6. P. 92325. https://doi.org/10.1039/C6RA23160H
  7. Hill I.G., Schwartz J., Kahn A. // Org. Electron. 2000 V. 1. P. 5. https://doi.org/10.1016/S1566-1199(00)00002-1
  8. Krzywiecki M., Smykala S., Kurek J. et al. // Phys. Chem. Chem. Phys. 2022. V. 24. P. 11828. http://doi.org/10.1039/D2CP00844K
  9. Komolov A.S., Akhremtchik S.N., Lazneva E.F. // Spectrochim. Acta. A. 2011. V. 798. P. 708. https://doi.org/10.1016/j.saa.2010.08.042
  10. Sharopov U.B., Abdusalomov A., Kakhramonov A. et al. // Vacuum. 2023. V. 213. P. 112133. https://doi.org/10.1016/j.vacuum.2023.112133
  11. Frankenstein H., Leng C.Z., Losego M.D. et al. // Org. Electron. 2019. V. 64. P. 37. https://doi.org/10.1016/j.orgel.2018.10.002
  12. Walter T.N., Lee S., Zhang X. et al. // Appl. Surf. Sci. 2019. V. 480. P. 43. https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2019.02.182
  13. Pronin I.A., Plugin I.A., Kolosov D.A. et al. // Sens. Actuators. A. 2024. V. 377. P. 115707. https://doi.org/10.1016/j.sna.2024.115707
  14. Cauduro A.L.F., dos Reis R., Chen G. et al. // Ultramicroscopy. 2017. V. 183. P. 99. https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2017.03.025
  15. Комолов А.С., Дубов Е.А., Убович М. и др. // Изв. РАН. Сер. физ. 2025. Т. 89. Вып. 3. C. 392. https://doi.org/10.31857/S0367676525030094
  16. Komolov A.S., Moeller P.J. // Appl. Surf. Sci. 2005. V. 244. P. 573. https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2004.10.122
  17. Комолов А.С., Пронин И.А., Лазнева Э.Ф. и др. // Кристаллография 2024. Т. 69. № 4. С. 670. https://doi.org/10.31857/S0023476124040139
  18. Pshenichnyuk S.A., Asfandiarov N.L., Rahmeev R.G. et al. // J. Chem. Phys. 2024. V. 161. P. 114303. https://doi.org/10.1063/5.0232036
  19. Pshenichnyuk S.A., Modelli A., Lazneva E.F. et al. // J. Phys. Chem. A. 2016. V. 120. P. 2667. https://doi.org/10.1021/acs.jpca.6b02272
  20. Garcia-Basabe Y., Pedrozo-Penafiel M.J., Figueredo I.S. et al. // J. Phys. Chem. C. 2025. V. 129. P. 8783. https://doi.org/10.1021/acs.jpcc.5c01259
  21. Komolov A., Schaumburg K., Moeller P.J. et al. // Appl. Surf. Sci. 1999. V. 142. P. 591. https://doi.org/10.1016/S0169-4332(98)00924-6
  22. Hwang J., Wan A., Kahn A. // Mater. Sci. Eng. R. Rep. 2009. V. 64. P. 1. https://doi.org/10.1016/j.mser.2008.12.001
  23. Pronin I.A., Averin I.A., Karmanov A.A. et al. // Nanomaterials. 2022. V. 12. P. 1924. https://doi.org/10.3390/nano12111924
  24. Komolov A.S., Lazneva E.F., Akhremtchik S.N. // Appl. Surf. Sci. 2010. V. 256. P. 2419. https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2009.10.078
  25. Bartos I. // Progr. Surf. Sci. 1998. V. 59. P. 197. https://doi.org/10.1016/S0079-6816(98)00046-X
  26. Komolov A.S., Moeller P.J., Aliaev Y.G. et al. // J. Mol. Struct. 2005. V. 744–747. P. 145. http://doi.org/10.1016/j.molstruc.2005.01.047
  27. Sharopov U.B., Kaur K., Kurbanov M.K. et al. // Silicon. 2022. V. 14. P. 4661. https://doi.org/10.1007/s12633-021-01268-0
  28. Sharopov U.B., Kaur K., Kurbanov M.K. et al. // Thin Solid Films. 2021. V. 735. P. 138902. https://doi.org/10.1016/j.tsf.2021.138902
  29. Sharopov U., Gopparov U., Rashidov K. et al. // Radiat. Eff. Defects Solids. 2023. V. 178. P. 539. https://doi.org/10.1080/10420150.2022.2133716
  30. Komolov A.S., Lazneva E.F., Gerasimova N.B. et al. // J. Electron. Spectrosc. Relat. Phenom. 2019. V. 235. P. 40. https://doi.org/10.1016/j.elspec.2019.07.001
  31. Shu A.L., McClain W.E., Schwartz J. et al. // Org. Electron. 2014. V. 15. P. 2360. https://doi.org/10.1016/j.orgel.2014.06.039
  32. Braun S., Salaneck W., Fahlman M. // Adv. Mater. 2009. V. 21. P. 1450. https://doi.org/10.1002/adma.200802893

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML
Скачать

© Российская академия наук, 2025

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».