Electron diffraction structure analysis of the amorphous polytetrafluoroethylene film

Cover Page

Cite item

Full Text

Open Access Open Access
Restricted Access Access granted
Restricted Access Subscription Access

Abstract

A thin amorphous film of fluoroplast (polytetrafluoroethylene) was obtained and studied by the electron diffraction structure analysis methods. The previously developed method of constructing the radial distribution function of atoms by the electron diffraction patterns from amorphous structures is applied, based on the determination of the normalization coefficient by varying the thermal parameter. The possibility of applying and necessary adaptations of this technique for the studied polytetrafluoroethylene samples are shown, taking into account its not quite usual amorphous structure due to the rigid spiral conformation of polymer chains …–CF2–…, which does not allow us to speak about the complete absence of the long-range order of the arrangement of atoms along the direction of the spiral axis. The measurements were carried out using the developed registration system on the electron diffraction camera EMR-102.

Full Text

Restricted Access

About the authors

A. K. Kulygin

Shubnikov Institute of Crystallography of Kurchatov Complex of Crystallography and Photonics of NRC “Kurchatov Institute”

Author for correspondence.
Email: avilovanatoly@mail.ru
Russian Federation, Moscow

N. V. Sadovskaya

Shubnikov Institute of Crystallography of Kurchatov Complex of Crystallography and Photonics of NRC “Kurchatov Institute”; Limited Liability Company “Arflon”

Email: avilovanatoly@mail.ru
Russian Federation, Moscow; Moscow

A. S. Avilov

Shubnikov Institute of Crystallography of Kurchatov Complex of Crystallography and Photonics of NRC “Kurchatov Institute”

Email: kuligin57@gmail.com
Russian Federation, Moscow

O. I. Vasin

Stemenko Krasnodar Higher Military School

Email: avilovanatoly@mail.ru
Russian Federation, Krasnodar

References

  1. Паншин Ю.А., Малкевич С.Г., Дунаевская Ц.С. Фторопласты. Л.: Химия, 1978. 232 с.
  2. Бузник В.М. Фторполимерные материалы. Томск: Изд-во НТЛ, 2017. 600 с.
  3. Clark E.S. // Polymer. 1999. V. 40. P. 4659.
  4. Фомин С.В. Индустрия фторопластов: реальность и перспективы / openauditorium.edunano.ru, вебинар от 18.09.2018.
  5. Bouznik V.M., Kirik S.D., Solovyov L.A., Tsvetnikov A.K. // Powder Diffraction. 2004. V. 19. № 3. P. 219.
  6. Bunn C.W., Howells E.R. // Nature. 1954. V. 174. P. 549.
  7. Хатипов С.А., Артамонов Н.А. // Рос. хим. журн. (Журн. Рос. хим. о-ва им. Д.И. Менделеева). 2008. Т. LII. № 3. С. 89.
  8. Острер С.Г. Фторполимеры в химической промышленности. Пермь, 2019. 398 с.
  9. Rigby H.A., Bunn C.W. // Nature. 1949. V. 164. P. 583.
  10. Prierce R.H.H. Jr., Clark E.S., Whitney J.F., Bryant W.M.D. Crystal Structure of Polytetrafluoroethylene. Abstract of Papers, 130th Meeting of the American Chemical Society. 1956. Sept. P. 9S.
  11. Clark E.S., Muus L.T. // Z. Kristallogr. 1962. B. 117. S. 119.
  12. Eby R.K., Clark E.S., Farmer B.L. et al. // Polymer. 1990. V. 31. № 12. P. 2227.
  13. Clark E.S. // J. Macromol. Sci. B. 2006. V. 45. № 2. P. 201.
  14. Clark E.S., Weeks J.J., Eby R.K. // ACS Symposium Ser. 1980. V. 141. P. 184.
  15. Лебедев Ю.А., Королев Ю.М., Поликарпов В.М. и др. // Кристаллография. 2010. Т. 55. № 4. С. 651.
  16. ГОСТ 8433-81 “Вещества вспомогательные ОП-7 и ОП-10”.
  17. Новикова В.В., Кулыгин А.К., Лепешов Г.Г., Авилов А.С. // Кристаллография. 2018. Т. 63. № 6. С. 876.
  18. Suwa T., Takeshita M., Machi S. // J. Appl. Polym. Sci. 1973. V. 17. № 11. P. 3253.
  19. Lehnert R.J., Hendra P.J., Everall N., Clayden N.J. // Polymer. 1997. V. 38. № 7. P. 1521.
  20. Кулыгин А.К., Кулыгин К.В., Авилов А.С. // Кристаллография. 2020. Т. 65. № 2. С. 325.
  21. LTR35 Многоканальный генератор-ЦАП сигналов и цифрового ввода-вывода. https://www.lcard.ru/products/ltr/ltr35
  22. PCIe-9834 4-CH 16-Bit 80 MS/s PCI Express Digitizer. https://www.adlinktech.com/Products/GPIB_Modular_Instruments/Digitizers_Oscilloscopes/PCIe-9834
  23. International Tables. Second Edition. 1994. Vol. C. Р. 257.
  24. Васин О.И., Гладышева Г.И., Дагман Э.Е. // Кристаллография. 1983. Т. 28. Вып. 3. С. 446.
  25. Васин О.И., Кулыгин А.К., Новикова В.В., Авилов А.С. // Кристаллография. 2019. Т. 64. № 5. С. 732.
  26. Васин О.И., Новикова В.В., Кулыгин А.К., Авилов А.С. // Поверхность. Рентген., синхротр. и нейтр. исслед. 2020. № 10. С. 105.
  27. Татаринова Л.И. Электронография аморфных веществ. М.: Наука, 1972. 104 с.
  28. O’Hagan D. // Chem. Soc. Rev. 2008. V. 37. № 2. P. 308.

Supplementary files

Supplementary Files
Action
1. JATS XML
2. Fig. 1.

Download (88KB)
3. Fig. 2.

Download (547KB)
4. Fig. 3.

Download (188KB)
5. Fig. 4.

Download (217KB)
6. Fig. 5.

Download (137KB)
7. Fig. 6.

Download (155KB)
8. Fig. 7.

Download (230KB)
9. Fig. 8.

Download (159KB)
10. Fig. 9.

Download (153KB)
11. Fig. 10.

Download (402KB)

Copyright (c) 2024 Russian Academy of Sciences

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».