AUTOMATED TEM DIFFRACTION MAPPING SOFTWARE PACKAGE
- Autores: Karateev I.1, Ovcharov A.1, Karateeva K.1, Presnyakova N.1, Kamyshinsky R.2
-
Afiliações:
- National Research Centre “Kurchatov Institute,” Moscow, 123182 Russia
- Shubnikov Institute of Crystallography, Federal Scientific Research Centre “Crystallography and Photonics,”Russian Academy of Sciences, Moscow, 119333 Russia
- Edição: Volume 68, Nº 1 (2023)
- Páginas: 143-152
- Seção: ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ
- URL: https://journals.rcsi.science/0023-4761/article/view/137388
- DOI: https://doi.org/10.31857/S0023476123010113
- EDN: https://elibrary.ru/DOOODF
- ID: 137388
Citar
Resumo
The results of developing a software package for automated orientational mapping based on diffraction data are presented. The experimental module of the software is responsible for the communication with a microscope and acquisition of diffraction maps. The analytical module automatically processes and solves diffraction patterns obtained by transmission electron microscopy. The test data analysis has shown the diffraction mapping results to be consistent with the model data.
Palavras-chave
Sobre autores
I. Karateev
National Research Centre “Kurchatov Institute,” Moscow, 123182 Russia
Email: iakarateev@gmail.com
Россия, Москва
A. Ovcharov
National Research Centre “Kurchatov Institute,” Moscow, 123182 Russia
Email: iakarateev@gmail.com
Россия, Москва
K. Karateeva
National Research Centre “Kurchatov Institute,” Moscow, 123182 Russia
Email: iakarateev@gmail.com
Россия, Москва
N. Presnyakova
National Research Centre “Kurchatov Institute,” Moscow, 123182 Russia
Email: iakarateev@gmail.com
Россия, Москва
R. Kamyshinsky
Shubnikov Institute of Crystallography, Federal Scientific Research Centre “Crystallography and Photonics,”Russian Academy of Sciences, Moscow, 119333 Russia
Autor responsável pela correspondência
Email: iakarateev@gmail.com
Россия, Москва
Bibliografia
- Dethloff C., Gaganidze E., Aktaa J. // J. Nucl. Mater. 2014. V. 454. № 1–3. P. 323. https://doi.org/10.1016/j.jnucmat.2014.07.078
- Ho H., Zhu J., Kulovits A. et al. // J. Appl. Phys. 2014. V. 116. № 19. P. 193510. https://doi.org/10.1063/1.4902082
- Jesse S., Chi M., Belianinov A. et al. // Sci. Rep. 2016. V. 6. P. 26348. https://doi.org/10.1038/srep26348
- Adams B.L., Dingley D.J., Kunze K., Wright S.I. // Mater. Sci. Forum. 1994. V. 157–162. P. 31. https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.157-162.31
- Baek M.-S., Kim K.-S., Park T.-W. et al. // Mater. Sci. Eng. A. 2020. V. 785. P. 139375. https://doi.org/10.1016/j.msea.2020.139375
- Nowell M.M., Witt R.A., True B. // Microsc. Microanal. 2005. V. 11. № S02. P. 504. https://doi.org/10.1017/s143192760550672x
- Dingley D.J. // J. Microsc. 2004. V. 213. P. 214. https://doi.org/10.1111/j.0022-2720.2004.01321.x
- Bhattacharyya A., Eades J.A. // Scanning. 2009. V. 31. P. 114. https://doi.org/10.1002/sca.20150
- Wisniewski W., Rüssel C. // Scanning. 2016. V. 38. № 2. P. 164. https://doi.org/10.1002/sca.21251
- Nolze G., Hielscher R., Winkelmann A. // Cryst. Res. Technol. 2017. V. 52. № 1. P. 1600252. https://doi.org/10.1002/crat.201600252
- Sun H., Adhyaksa G.W.P., Garnett E.C. // Adv. Energy Mater. 2020. V. 10. P. 2000364. https://doi.org/10.1002/aenm.202000364
- Humphreys F.J. // Scr. Mater. 2004. V. 51. № 8. P. 771. https://doi.org/10.1016/j.scriptamat.2004.05.016
- Migunov V., Ryll H., Zhuge X. et al. // Sci. Rep. 2015. V. 5. P. 14516. https://doi.org/10.1038/srep14516
- Kodjikian S., Klein H. // Ultramicroscopy. 2019. V. 200. P. 12. https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2019.02.010
- Ward M.R., Boyes E.D., Gai P.L. // J. Phys. Conf. Ser. 2014. V. 522. P. 012068. https://doi.org/10.1088/1742-6596/522/1/012068
- Williams D.B., Carter C.B. Transmission electron microscopy. 2nd ed. Boston, MA: Springer US, 2009. 775 p. https://doi.org/10.1007/978-0-387-76501-3
- Avilov A., Kuligin K., Nicolopoulos S. et al. // Ultramicroscopy. 2007. V. 107. № 6–7. P. 431. https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2006.09.006
- Ciston J., Deng B. Marks L.D. et al. // Ultramicroscopy. 2008. V. 108. № 6. P. 514. https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2007.08.004
- Каратеев И.А. Программа для ЭВМ “Программный модуль чтения и записи дифракционных карт формата cdmˮ: А.с. 2022611590. Правообладатель ФГБУ НИЦ “Курчатовский институтˮ. № 2022610617; заявл. 19.01.2022; опубл. 27.01.2022, бюл. № 2. 0.035 Мб.
- Каратеев И.А. программа для ЭВМ “Программа межмодульного трансфера кристаллографической информации формата .cif”: А. с. 2019664803. Правообладатель ФГБУ НИЦ “Курчатовский институт”. № 2019663532; заявл. 29.10.2019; опубл. 13.11.2019, бюл. № 11. 0.018 Мб.
- Каратеев И.А. Программа для ЭВМ “Модуль визуализации трехмерной структуры кристалла”: А. с. 2020613147. Правообладатель ФГБУ НИЦ “Курчатовский институт”. № 2020612059; заявл. 27.02.2020; опубл. 11.03.2020, бюл. № 3. 0.035 Мб.
- Каратеев И.А. Программа для ЭВМ “Программный модуль расчета картин электронной дифракции в кинематическом приближении”: А. с. 2021611215. Правообладатель ФГБУ НИЦ “Курчатовский институт”. № 2020668052; заявл. 30.12.2020; опубл. 25.01.2021, бюл. № 2. 0.029 Мб.
- Каратеев И.А. Программа для ЭВМ “Программный модуль считывания и записи файлов формата ser”: А. с. 2021611214. Правообладатель ФГБУ НИЦ “Курчатовский институт”. № 2020668050; заявл. 30.12.2020; опубл. 25.01.2021, бюл. № 2. 0.066 Мб.
- Каратеев И.А. Программа для ЭВМ “Программный модуль считывания и визуализации дифракционных карт”: А. с. 2021611216. Правообладатель ФГБУ НИЦ “Курчатовский институт”. № 2020668048; заявл. 30.12.2020; опубл. 25.01.2021, бюл. № 2. 0.032 Мб.
- Каратеев И.А. Программа для ЭВМ “Программный модуль расшифровки дифракционных карт”: А. с. 2022611673. Правообладатель ФГБУ НИЦ “Курчатовский институт”. № 2022610586; заявл. 19.01.2022; опубл. 31.01.2022, бюл. № 2. 0.041 Мб.
- Каратеев И.А. Программа для ЭВМ “Программный модуль поиска и численного описания дифракционных пиков на картинах электронной дифракции”: А. с. 2022611591. Правообладатель ФГБУ НИЦ “Курчатовский институт”. № 2022610619; заявл. 19.01.2022; опубл. 27.01.2022, бюл. № 2. 0.052 Мб.