PHASE COMPOSITION, STRUCTURE, AND MAGNETIC PROPERTIES OF Cd1–хZnхTe SOLID SOLUTIONS AT LOW Zn CONCENTRATIONS

Capa

Citar

Texto integral

Acesso aberto Acesso aberto
Acesso é fechado Acesso está concedido
Acesso é fechado Somente assinantes

Resumo

Polycrystalline Cd1–хZnхTe (x = 0.005, 0.03, 0.05) ingots have been obtained by the modified Obreimov–Shubnikov method. The selected single-crystal blocks are studied applying the X-ray diffraction analysis, measurement of electrical characteristics, and magnetometry. The concentration dependence of changes in the magnetic and electrical properties of crystals is investiga11ted. It is established that at Zn concentrations of x = 0.03 and 0.05 ferromagnetic ordering is observed in clusters (inclusions) containing iron and/or nickel at 2 K, which is not observed for Cd1–хZnхTe (x = 0.005) samples.

Sobre autores

P. Podkur

Shubnikov Institute of Crystallography, Federal Scientific Research Centre “Crystallography and Photonics,” Russian Academy of Sciences, Moscow, 119333 Russia; MIREA—Russian Technological University, Moscow, Russia

Email: volch2862@gmail.com
Россия, Москва; Россия, Москва

I. Volchkov

Shubnikov Institute of Crystallography, Federal Scientific Research Centre “Crystallography and Photonics,” Russian Academy of Sciences, Moscow, 119333 Russia

Email: volch2862@gmail.com
Россия, Москва

M. Pavlyuk

Shubnikov Institute of Crystallography, Federal Scientific Research Centre “Crystallography and Photonics,” Russian Academy of Sciences, Moscow, 119333 Russia

Email: volch2862@gmail.com
Россия, Москва

V. Kvartalov

Shubnikov Institute of Crystallography, Federal Scientific Research Centre “Crystallography and Photonics,” Russian Academy of Sciences, Moscow, 119333 Russia

Email: volch2862@gmail.com
Россия, Москва

R. Morgunov

Institute of Problems of Chemical Physics, Russian Academy of Sciences, Chernogolovka, Moscow oblast, 142432 Russia

Email: volch2862@gmail.com
Россия, Черноголовка

V. Kanevskii

Shubnikov Institute of Crystallography, Federal Scientific Research Centre “Crystallography and Photonics,” Russian Academy of Sciences, Moscow, 119333 Russia

Autor responsável pela correspondência
Email: volch2862@gmail.com
Россия, Москва

Bibliografia

  1. Owens A., Peacock A. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A. 2004. V. 531. P. 18. https://doi.org/10.1016/j.nima.2004.05.071
  2. Takeda S. Experimental study of a Si/CdTe semiconductor Compton camera for the next generation of gamma-ray astronomy / Ph. D. Thesis. University of Tokyo. 2009.
  3. Hubbell J.H., Seltzer S.M. Tables of X-Ray Mass Attenuation Coefficients and Mass Energy-Absorption Coefficients from 1 keV to 20 MeV for Elements Z = 1 to 92 and 48 Additional Substances of Dosimetric Interest // National Institute of Standards and Technology. 2004. NISTIR 5632. https://doi.org/10.18434/T4D01F
  4. Del Sordo S., Abbene L., Caroli E. et al. // Sensors. 2009. V. 9 № 5. P. 3491. https://doi.org/10.3390/s90503491
  5. Duarte D.D. Edge effects in a pixelated CdTe radiation detector / Ph. D. Thesis. University of Surrey. 2016. https://doi.org/10.13140/RG.2.2.20470.86081
  6. Chaouai Z., Daniel G., Martinez J.M. et al. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A. 2022. V. 1033. P. 166670. https://doi.org/10.1016/j.nima.2022.166670
  7. Clements N., Richtsmeier D., Hart A., Bazalova-Carter M. // J. Instrumentation. 2022. V. 17. P. 1004. https://doi.org/10.1088/1748-0221/17/01/P01004
  8. Brombal L., Donato S., Brun F. et al. // J. Synchrotron Radiat. 2018. V. 25. P. 1068. https://doi.org/10.1107/S1600577518006197
  9. Chen Y., Wang X., Song Q. et al. // AIP Adv. 2018. V. 8. P. 105113. https://doi.org/10.1063/1.5052027
  10. Krucker S., Benz A.O., Hurfordal G.J. et al. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A. 2013. V. 732. P. 295. https://doi.org/10.1016/j.nima.2013.05.050
  11. Krause L., Tolborg K., Gronbech T.B.E. et al. // J. Appl. Cryst. 2020. V. 53. P. 635. https://doi.org/10.1107/S1600576720003775
  12. Павлюк М.Д. Дис. “Детекторные кристаллы на основе CdTe и Cd1 – xZnxTe для прямого счета рентгеновских и гамма-квантов”… канд. физ.-мат. наук. М.: ФНИЦ “Кристаллография и фотоника” РАН, 2020.
  13. Шалдин Ю.В., Вархульска И., Рабаданов М.Х., Комарь В.К. // Физика и техника полупроводников. 2004. Т. 38. С. 300.
  14. Raiss A.A., Sbai Y., Bahmad L., Benyoussef A. // J. Magn. Magn. Mater. 2015. V. 385. P. 295. https://doi.org/10.1016/j.jmmm.2015.02.077
  15. Goumrhar F., Bahmad L., Mounkachi O., Benyoussef A. // J. Magn. Magn. Mater. 2017. V. 428. P. 368. https://doi.org/10.1016/j.jmmm.2016.12.041
  16. Chavan K.T., Chandra S., Kshirsagar A. // Mater. Today Commun. 2022. V. 30. P. 103104. https://doi.org/10.1016/j.mtcomm.2021.103104
  17. Allahgholi A., Becker J., Delfs A. et al. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A. 2019. V. 942. P. 1. https://doi.org/10.1016/j.nima.2019.06.065
  18. Zerrai A., Cherkaoui K., Marrakchi G. et al. // J. Cryst. Growth. 1999. V. 197. P. 646. https://doi.org/10.1016/S0022-0248(98)00763-5
  19. Marbeuf A., Druilhe R., Triboulet R., Patriarche G. // J. Cryst. Growth. 1992. V. 117. P. 10. https://doi.org/10.1016/0022-0248(92)90707-P
  20. Аветисов И.Х. Дис. “Физико-химические основы технологии кристаллических халькогенидов кадмия и цинка с контролируемой стехиометрией” … д-ра физ.-мат. наук. М.: РХТУ им. Д.И. Менделеева, 2011.
  21. Косяченко А.А., Склярчук В.М., Склярчук О.В., Маслянчук О.Л. // Физика и техника полупроводников. 2011. Т. 45. С. 1323.
  22. Prokesch M., Szeles C. // J. Appl. Phys. 2006. V. 100. P. 014503. https://doi.org/10.1063/1.2209192
  23. Кондрик А.И. // Функциональная микроэлектроника. 2004. № 6. С. 17.
  24. Pavlyuk M.D., Subbotin I.A., Kanevsky V.M., Artemov V.V. // J. Cryst. Growth. 2017. V. 457. P. 112. https://doi.org/10.1016/j.jcrysgro.2016.06.046
  25. Ivanov Yu.M. // J. Cryst. Growth. 1998. V. 194. P. 309. https://doi.org/10.1016/S0022-0248(98)00620-4
  26. Павлюк М.Д., Каневский В.М., Иванов Ю.М. // Журн. неорган. химии. 2013. Т. 58. С. 1082. https://doi.org/10.7868/S0044457X13080187
  27. Кондрик А.И., Ковтун Г.П. // Материалы электроники. 2019. № 4–5. С. 43. https://doi.org/10.15222/TKEA2019.5-6.43
  28. Ivanov Yu.M., Artemov V.V., Kanevsky V.M. et al. // Eur. Phys. J. Appl. Phys. 2004. V. 27. P. 371. https://doi.org/10.1051/epjap:2004086
  29. Комарь В.К., Наливайко Д.П., Герасименко А.С. и др. // Поверхность. Рентген. синхротр. и нейтр. исследования 2002. Т. 3. С. 94.

Arquivos suplementares

Arquivos suplementares
Ação
1. JATS XML
Baixar
2.

Baixar (815KB)
Metadados
3.

Baixar (165KB)
Metadados
4.

Baixar (91KB)
Metadados
5.

Baixar (217KB)
Metadados
6.

Baixar (240KB)
Metadados

Declaração de direitos autorais © Russian Academy of Sciences, 2023

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».