A New Method for Determining the Size of a Synchrotron Radiation Beam in the Focus of a Compound Refractive Lens

Cover Page

Cite item

Full Text

Open Access Open Access
Restricted Access Access granted
Restricted Access Subscription Access

Abstract

A new method is proposed for determining experimentally the size of a synchrotron radiation beam in the focus of planar compound refractive lenses. The method consists in measuring the angular divergence of radiation after the focus using Bragg diffraction in a perfect crystal during its rotation. This method determines the beam size, which depends only on the focusing properties of the lenses in use, in contrast to other currently applied methods. The efficiency of the proposed approach has been experimentally demonstrated using nanofocusing planar silicon lenses as an example.

About the authors

M. S. Folomeshkin

National Research Centre “Kurchatov Institute”, 123182, Moscow, Russia; Shubnikov Institute of Crystallography, Federal Scientific Research Centre “Crystallography and Photonics,” Russian Academy of Sciences, 119333, Moscow, Russia

Email: folmaxim@gmail.com
Россия, Москва; Россия, Москва

V. G. Kohn

National Research Centre “Kurchatov Institute”, 123182, Moscow, Russia; Shubnikov Institute of Crystallography, Federal Scientific Research Centre “Crystallography and Photonics,” Russian Academy of Sciences, 119333, Moscow, Russia

Email: folmaxim@gmail.com
Россия, Москва; Россия, Москва

A. Yu. Seregin

National Research Centre “Kurchatov Institute”, 123182, Moscow, Russia; Shubnikov Institute of Crystallography, Federal Scientific Research Centre “Crystallography and Photonics,” Russian Academy of Sciences, 119333, Moscow, Russia

Email: folmaxim@gmail.com
Россия, Москва; Россия, Москва

Yu. A. Volkovsky

National Research Centre “Kurchatov Institute”, 123182, Moscow, Russia; Shubnikov Institute of Crystallography, Federal Scientific Research Centre “Crystallography and Photonics,” Russian Academy of Sciences, 119333, Moscow, Russia

Email: folmaxim@gmail.com
Россия, Москва; Россия, Москва

P. A. Prosekov

National Research Centre “Kurchatov Institute”, 123182, Moscow, Russia; Shubnikov Institute of Crystallography, Federal Scientific Research Centre “Crystallography and Photonics,” Russian Academy of Sciences, 119333, Moscow, Russia

Email: folmaxim@gmail.com
Россия, Москва; Россия, Москва

V. A. Yunkin

Institute of Microelectronics Technology and High Purity Materials, Russian Academy of Sciences, 142432, Chernogolovka, Moscow oblast, Russia

Email: folmaxim@gmail.com
Россия, Черноголовка

D. A. Zverev

Immanuel Kant Baltic Federal University, 236016, Kaliningrad, Russia

Email: folmaxim@gmail.com
Россия, Калининград

A. A. Barannikov

Immanuel Kant Baltic Federal University, 236016, Kaliningrad, Russia

Email: folmaxim@gmail.com
Россия, Калининград

A. A. Snigirev

Immanuel Kant Baltic Federal University, 236016, Kaliningrad, Russia

Email: folmaxim@gmail.com
Россия, Калининград

Yu. V. Pisarevsky

National Research Centre “Kurchatov Institute”, 123182, Moscow, Russia; Shubnikov Institute of Crystallography, Federal Scientific Research Centre “Crystallography and Photonics,” Russian Academy of Sciences, 119333, Moscow, Russia

Email: folmaxim@gmail.com
Россия, Москва; Россия, Москва

A. E. Blagov

National Research Centre “Kurchatov Institute”, 123182, Moscow, Russia; Shubnikov Institute of Crystallography, Federal Scientific Research Centre “Crystallography and Photonics,” Russian Academy of Sciences, 119333, Moscow, Russia

Email: folmaxim@gmail.com
Россия, Москва; Россия, Москва

M. V. Kovalchuk

National Research Centre “Kurchatov Institute”, 123182, Moscow, Russia; Shubnikov Institute of Crystallography, Federal Scientific Research Centre “Crystallography and Photonics,” Russian Academy of Sciences, 119333, Moscow, Russia; St. Petersburg State University, 199034, St.Petersburg, Russia

Author for correspondence.
Email: folmaxim@gmail.com
Россия, Москва; Россия, Москва; Россия, Санкт-Петербург

References

  1. Snigirev A., Kohn V., Snigireva I., Lengeler B. // Nature. 1996. V. 384. P. 49. https://doi.org/10.1038/384049a0
  2. Yunkin V., Grigoriev M.V., Kuznetsov S. et al. // Proc. SPIE. 2004. V. 5539. P. 226. https://doi.org/10.1117/12.563253
  3. Snigirev A., Snigireva I., Grigoriev M. et al. // J. Phys.: Conf. Ser. 2009. V. 186. P. 012072. https://doi.org/10.1088/1742-6596/186/1/012072
  4. Snigirev A., Snigireva I., Kohn V. et al. // Phys. Rev. Lett. 2009. V. 103. P. 064801. https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.103.064801
  5. Snigirev A., Snigireva I., Lyubomirskiy M. et al. // Opt. Express. 2014. V. 22. P. 25842. https://doi.org/10.1117/12.2061616
  6. Nazmov V., Reznikova E., Snigirev A. et al. // Microsyst. Technol. 2005. V. 11. P. 292. https://doi.org/10.1007/s00542-004-0435-y
  7. Snigireva I., Polikarpov M., Snigirev A. // Synchrotron Radiat. News. 2022. V. 34. № 6. P. 12. https://doi.org/10.1080/08940886.2021.2022387
  8. Bjorling A., Kalbfleisch S., Kahnt M. et al. // Opt. Express. 2020. V. 28. № 4/17. P. 5069. https://doi.org/10.1364/OE.386068
  9. Schroer C.G., Kuhlmann M., Hunger U.T. et al. // Appl. Phys. Lett. 2003. V. 82. № 9. P. 1485. https://doi.org/10.1063/1.1556960
  10. Sorokovikov M., Zverev D., Yunkin V. et al. // Proc. SPIE. 2021. V. 11837. https://doi.org/10.1117/12.2594815
  11. Кон В.Г. // Письма в ЖЭТФ. 2002. Т. 76. № 10. С. 701.
  12. Кон В.Г. // ЖЭТФ. 2003. Т. 124. № 1. С. 234.
  13. Кон В.Г. // Поверхность. Рентген., синхротр. и нейтрон. исследования. 2009. № 5. С. 32.
  14. Kohn V.G. // J. Synchrotron Radiat. 2018. V. 25. P. 1634. https://doi.org/10.1107/S1600577518012675
  15. Kohn V.G., Folomeshkin M.S. // J. Synchrotron Radiat. 2021. V. 28. P. 419. https://doi.org/10.1107/S1600577520016495
  16. Кон В.Г. // Кристаллография. 2006. Т. 51. № 6. С. 1001.
  17. Authier A. Dynamical Theory of X-ray Diffraction. Oxford University Press, 2001. 661 p.
  18. Kohn V.G., Folomeshkin M.S. // Nanobiotechnol. Rep. 2022. V. 17. № 1. P. 126. https://doi.org/10.1134/S2635167622010086
  19. Kohn V.G. // J. Synchrotron Radiat. 2022. V. 29. P. 615. https://doi.org/10.1107/S1600577522001345
  20. Кон В.Г., Просеков П.А. Серегин А.Ю. и др. // Кристаллография. 2019. Т. 64. № 1. С. 29. https://doi.org/10.1134/S0023476119010144
  21. Press W., Teukolsky S., Vatterling W. et al. Numerical Recipes, The Art of Scientific Computing. Cambridge: Cambridge University Press, 2007. 1256 p.
  22. Snigirev A., Snigireva I., Grigoriev M. et al. // Proc. SPIE. 2007. V. 6705. P. 39. https://doi.org/10.1117/12.733609
  23. Koн B.Г. // http://kohnvict.ucoz.ru/jsp/1-crlpar.htm

Supplementary files

Supplementary Files
Action
1. JATS XML
2.

Download (151KB)
3.

Download (123KB)
4.

Download (107KB)
5.

Download (56KB)

Copyright (c) 2023 Russian Academy of Sciences

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».