Effect of the Brij 30 porogen on the properties of sol–gel derived thin polymethylsilsesquioxane films


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

Thin polymethylsilsesquioxane films with Brij 30 porogen concentrations in the range ωsurf = 15.5–52.5 wt % have been produced by a sol–gel process. Their dielectric permittivity, refractive index, relative porosity, and shrinkage have been measured as functions of heat treatment temperature and porogen concentration.

Авторлар туралы

R. Nenashev

Moscow Technological University (MIREA)

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: nenashev@mirea.ru
Ресей, pr. Vernadskogo 78, Moscow, 119454

N. Kotova

Moscow Technological University (MIREA)

Email: nenashev@mirea.ru
Ресей, pr. Vernadskogo 78, Moscow, 119454

A. Vishnevskii

Moscow Technological University (MIREA)

Email: nenashev@mirea.ru
Ресей, pr. Vernadskogo 78, Moscow, 119454

K. Vorotilov

Moscow Technological University (MIREA)

Email: nenashev@mirea.ru
Ресей, pr. Vernadskogo 78, Moscow, 119454

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2016