Generation of a metal porous film by arc discharge


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

The copper wire vaporization method is applied to obtain porous copper film on a silicon surface. We determine the distribution of the surface clusters over the sizes and the density. The average size of the clusters under optimal conditions (at a distance of 2 mm from the discharge) is about 0.5 μm, and the deposition density is 3–5 clusters per squared μm.

Авторлар туралы

A. Dyrenkov

Joint Institute for High Temperature

Email: bmsmirnov@gmail.com
Ресей, Moscow, 125412

B. Smirnov

Joint Institute for High Temperature

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: bmsmirnov@gmail.com
Ресей, Moscow, 125412

D. Tereshonok

Joint Institute for High Temperature

Email: bmsmirnov@gmail.com
Ресей, Moscow, 125412

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2017