From unified information space to unified manufacturing control


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

The paper analyzes the key trends of integrated manufacturing control based on overall process condition monitoring. The relationship between strategic goals and routine tasks executed at various supervision and control levels is discussed.

Авторлар туралы

L. Yakovis

State Polytechnic University

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: leonid@yakovis.com
Ресей, St. Petersburg

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2016