Photosensitivity of pSi-n(Si2)1–xy(Ge2)x(ZnSe)y heterostructures with quantum dots


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

The spectral dependences of photosensitivity of pSi-n(Si2)1–xy(Ge2)x(ZnSe)y heterostructures and structural features of epitaxial film of (Si2)1–xy(Ge2)x(ZnSe)y solid solution were studied by atomic force microscopy. The peaks of sensitivity at photon energies of 1.60, 1.85, 2.40, and 2.54 eV due to ZnSe and Ge quantum dots in the solid solution layer were revealed.

Авторлар туралы

A. Saidov

Physics–Sun Scientific and Production Association, Institute of Physics and Technology

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: amin@uzsci.uz
Өзбекстан, Tashkent, 100084

Sh. Usmonov

Physics–Sun Scientific and Production Association, Institute of Physics and Technology

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: kvant@mail.ru
Өзбекстан, Tashkent, 100084

K. Amonov

Physics–Sun Scientific and Production Association, Institute of Physics and Technology

Email: kvant@mail.ru
Өзбекстан, Tashkent, 100084

M. Saidov

Physics–Sun Scientific and Production Association, Institute of Physics and Technology

Email: kvant@mail.ru
Өзбекстан, Tashkent, 100084

B. Kutlimuratov

Islam Karimov State Technical University

Email: kvant@mail.ru
Өзбекстан, Tashkent, 100095

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Allerton Press, Inc., 2017