Микроструктурный анализ поверхности имплантатов, удаленных в связи с периимплантитом

Актуальность. Практика протезирования на имплантатах показывает довольно высокий процент удаленных имплантатов за указанный период. Причинами могут быть как недостаточная гигиена тканей вокруг имплантатов, так и их перегрузка. Независимо от причины, происходит резорбция костной ткани с вершины альвеолярного отростка (части) челюсти вглубь контакта с имплантатом в сочетании с хроническим воспалением периимплантатных мягких тканей. Удаление имплантата в таких случаях показано при резорбции костной ткани на ½ длины имплантата. Микроструктурный анализ поверхности имплантатов редко отражается в публикациях, поскольку высокоразрешающая микроскопия возможна только для удаленных имплантатов.

Цель — анализ данных микроскопии и спектрометрии поверхности имплантатов, удаленных по поводу периимплантита.

Материалы и методы. Анализ поверхности пяти удаленных в связи с периимплантитом имплантатов проводился методом растровой электронной микроскопии в режиме высокого вакуума с электронно-зондовым микрорентгеноспектральным анализом элементного состава. Использовался однолучевой сканирующий электронный микроскоп FEI Teneo VolumeScope с детектором для выполнения энергодисперсионного анализа XFlash 6/30. Исследование проводилось в технопарке «Сколково».

Результаты. Проведенный микроскопический и спектрометрический анализ в сопровождении микрофотографий и спектрограмм пришеечной части имплантата в зонах сохранения костной ткани, присутствия соединительной ткани и области раскрытой поверхности имплантата демонстрируют процесс дезинтеграции имплантата вследствие периимплантита.

Заключение. Дезинтеграция имплантата вследствие периимплантита сопровождается процессом деминерализации и резорбции костной ткани (местами до поверхности имплантата, местами с сквозными дефектами до поверхности имплантата) и ее замены соединительной тканью.