Pattern analysis of fractal properties in multilayer systems with metamaterials


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

Fractal pattern analysis is performed for aperiodicmultilayer systems with metamaterials. Morphological features of pattern formation in optical characteristics of structures with different geometry are revealed having regard to the manifestation of the phase-compensation effect and presence of metamaterial layers.

Авторлар туралы

M. Davydova

Faculty of Physics

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: m_davydova@inbox.ru
Ресей, Leninskie Gory 1, str. 2, Moscow, 119991

P. Korolenko

Faculty of Physics; Lebedev Physical Institute

Email: m_davydova@inbox.ru
Ресей, Leninskie Gory 1, str. 2, Moscow, 119991; Leninskiy pr. 53, Moscow, 119991

S. Ryzhikov

Faculty of Physics

Email: m_davydova@inbox.ru
Ресей, Leninskie Gory 1, str. 2, Moscow, 119991

Yu. Ryzhikova

Faculty of Physics

Email: m_davydova@inbox.ru
Ресей, Leninskie Gory 1, str. 2, Moscow, 119991

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Allerton Press, Inc., 2016