Optical Diagnostics of WSe 2  Monolayers

K. A. Brekhov; K. A. Grishunin; N. A. Ilyin; A. P. Shestakova; S. D. Lavrov; E. D. Mishina

doi:10.1134/S106378501712015X

Optical Diagnostics of WSe₂ Monolayers

Авторы: Brekhov K.A.¹, Grishunin K.A.¹, Ilyin N.A.¹, Shestakova A.P.¹, Lavrov S.D.¹, Mishina E.D.¹
Учреждения:
1. Moscow Technological University
Выпуск: Том 43, № 12 (2017)
Страницы: 1112-1114
Раздел: Article
URL: https://journals.rcsi.science/1063-7850/article/view/206863
DOI: https://doi.org/10.1134/S106378501712015X
ID: 206863

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ
Доступ закрыт

Доступ предоставлен
Доступ закрыт

Только для подписчиков

Аннотация
Об авторах
Список литературы
Дополнительные файлы
Статистика

Аннотация

WSe₂ films have been studied by the method of second harmonic generation (SHG) in the 1200–1420 nm wavelength range at room temperature. Preliminary investigations of photoluminescence spectra and atomic force microscopy showed that the film consists of extended microcrystals and has a thickness of about 1 nm, which corresponds to a single monolayer. The SHG intensity spectrum showed the presence of a 1s (B)-exciton for 1.95-eV photon energy.