Comparison of flash-memory elements using materials based on graphene


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

Charge capture on flash-memory test structures with floating gates made of graphene (few-layer graphene) and its compounds (graphene oxide and partially fluorinated graphene) is investigated. A comparison of the memory window for different structures has shown the potential of using reduced graphene oxide, graphene with only a few layers, and fluorographene. For the first time, partially fluorinated graphene has been employed as a floating gate in flash-memory structures. Graphene-based materials are promising for 2D printing technologies and flexible electronics.

Об авторах

I. Antonova

Rzhanov Institute of Semiconductor Physics, Siberian Branch; Novosibirsk State University; Novosibirsk State Technical University

Автор, ответственный за переписку.
Email: antonova@isp.nsc.ru
Россия, Novosibirsk, 630090; Novosibirsk, 630090; Novosibirsk, 630073

I. Kotin

Rzhanov Institute of Semiconductor Physics, Siberian Branch

Email: antonova@isp.nsc.ru
Россия, Novosibirsk, 630090

O. Orlov

Scientific and Research Institute of Molecular Electronics

Email: antonova@isp.nsc.ru
Россия, Moscow, 124460

S. Devyatova

Rzhanov Institute of Semiconductor Physics, Siberian Branch

Email: antonova@isp.nsc.ru
Россия, Novosibirsk, 630090

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2017

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).