The temperature dependence of the characteristics of crystalline-silicon-based heterojunction solar cells


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

Temperature dependences of the photovoltaic characteristics of (p)a-Si/(i)a-Si:H/(n)c-Si singlecrystalline- silicon based heterojunction-with-intrinsic-thin-layer (HIT) solar cells have been measured in a temperature range of 80–420 K. The open-circuit voltage (VOC), fill factor (FF) of the current–voltage (I–U) characteristic, and maximum output power (Pmax) reach limiting values in the interval of 200–250 K on the background of monotonic growth in the short-circuit current (ISC) in a temperature range of 80–400 K. At temperatures below this interval, the VOC, FF, and Pmax values exhibit a decrease. It is theoretically justified that a decrease in the photovoltaic energy conversion characteristics of solar cells observed on heating from 250 to 400 K is related to exponential growth in the intrinsic conductivity. At temperatures below 200 K, the I–U curve shape exhibits a change that is accompanied by a drop in VOC. Possible factors that account for the decrease in VOC, FF, and Pmax are considered.

Об авторах

A. Sachenko

Lashkaryov Institute of Semiconductor Physics

Автор, ответственный за переписку.
Email: sach@isp.kiev.ua
Украина, Kyiv, 03028

Yu. Kryuchenko

Lashkaryov Institute of Semiconductor Physics

Email: sach@isp.kiev.ua
Украина, Kyiv, 03028

V. Kostylyov

Lashkaryov Institute of Semiconductor Physics

Email: sach@isp.kiev.ua
Украина, Kyiv, 03028

R. Korkishko

Lashkaryov Institute of Semiconductor Physics

Email: sach@isp.kiev.ua
Украина, Kyiv, 03028

I. Sokolovskyi

Lashkaryov Institute of Semiconductor Physics

Email: sach@isp.kiev.ua
Украина, Kyiv, 03028

A. Abramov

R&D Center for Thin-Film Technologies in Energetics, Ioffe Physical Technical Institute

Email: sach@isp.kiev.ua
Россия, St. Petersburg, 194064

S. Abolmasov

R&D Center for Thin-Film Technologies in Energetics, Ioffe Physical Technical Institute

Email: sach@isp.kiev.ua
Россия, St. Petersburg, 194064

D. Andronikov

R&D Center for Thin-Film Technologies in Energetics, Ioffe Physical Technical Institute

Email: sach@isp.kiev.ua
Россия, St. Petersburg, 194064

A. Bobyl’

Ioffe Physical Technical Institute

Email: sach@isp.kiev.ua
Россия, St. Petersburg, 194021

I. Panaiotti

Ioffe Physical Technical Institute

Email: sach@isp.kiev.ua
Россия, St. Petersburg, 194021

E. Terukov

R&D Center for Thin-Film Technologies in Energetics, Ioffe Physical Technical Institute; Ioffe Physical Technical Institute

Email: sach@isp.kiev.ua
Россия, St. Petersburg, 194064; St. Petersburg, 194021

A. Titov

Ioffe Physical Technical Institute

Email: sach@isp.kiev.ua
Россия, St. Petersburg, 194021

M. Shvarts

Ioffe Physical Technical Institute

Email: sach@isp.kiev.ua
Россия, St. Petersburg, 194021

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2016

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).