Smart-Camera–Based Linear Sizing


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

We consider issues related to constructing industrial linear-size monitoring devices using an optoelectronic system (OES) based on National Instruments (NI) smart cameras. A prototype of the experimental setup for measuring the width of a calibrated tunable monochromator slit has been developed. Algorithms have been investigated for measuring linear dimensions in the slit image using the techniques of differentiating the illuminance distribution, determining the best image boundary lines, and locating maxima on the curves of continuous-wavelet-transform (CWT) coefficients. The results of measuring linear dimensions using various algorithms are compared in cases where the image quality is affected by influencing factors. It is shown that the accuracy of linear sizing with a smart camera reaches 0.2 pel (1 μm in the range of 3 mm).

Авторлар туралы

A. Potapov

St. Petersburg Mining University

Email: manevich@es-servis.com
Ресей, St. Petersburg, 199106

V. Makhov

Mozhaysky’s Military-Space Academy

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: wmahov@gmail.ru
Ресей, St. Petersburg, 197198

Ya. Smorodinskii

Mikheev Institute of Metal Physics, Ural Branch, Russian Academy of Sciences; Ural Federal University

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: sm@imp.uran.ru
Ресей, Yekaterinburg, 620108; Yekaterinburg, 620002

E. Manevich

OOO Eskomstroimontazh-servis

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: manevich@es-servis.com
Ресей, St. Petersburg, 199178


© Pleiades Publishing, Ltd., 2019

Осы сайт cookie-файлдарды пайдаланады

Біздің сайтты пайдалануды жалғастыра отырып, сіз сайттың дұрыс жұмыс істеуін қамтамасыз ететін cookie файлдарын өңдеуге келісім бересіз.< / br>< / br>cookie файлдары туралы< / a>