Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования
ISSN 1028-0960 (Print)
Меню
Архив
Главная
О журнале
Редакция
Редакционная политика
Правила для авторов
О журнале
Выпуски
Поиск
Текущий выпуск
Архив
Контакты
Все журналы
Поиск
Поиск
Область поиска
Все
Авторы
Название
Резюме
Термины
Полный текст
Листать
выпуски
авторы
по заглавиям
другие журналы
Ключевые слова
ИК-спектроскопия
атомно-силовая микроскопия
компактный источник нейтронов
компьютерное моделирование
магнетронное распыление
микроструктура
морфология
морфология поверхности
наночастицы
нейтронная рефлектометрия
оксид цинка
оптические свойства
поверхность
растровая электронная микроскопия
рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия
синхротронное излучение
сканирующая зондовая микроскопия
структура
тонкие пленки
фазовый состав
численное моделирование
Пользователь
Имя пользователя
Пароль
Запомнить меня
Забыли пароль?
Регистрация
Подписка
Войти в систему, чтобы проверить подписку
Уведомления
Посмотреть
Подписаться
×
Поиск
Поиск
Область поиска
Все
Авторы
Название
Резюме
Термины
Полный текст
Листать
выпуски
авторы
по заглавиям
другие журналы
Ключевые слова
ИК-спектроскопия
атомно-силовая микроскопия
компактный источник нейтронов
компьютерное моделирование
магнетронное распыление
микроструктура
морфология
морфология поверхности
наночастицы
нейтронная рефлектометрия
оксид цинка
оптические свойства
поверхность
растровая электронная микроскопия
рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия
синхротронное излучение
сканирующая зондовая микроскопия
структура
тонкие пленки
фазовый состав
численное моделирование
Пользователь
Имя пользователя
Пароль
Запомнить меня
Забыли пароль?
Регистрация
Подписка
Войти в систему, чтобы проверить подписку
Уведомления
Посмотреть
Подписаться
Главная
>
Поиск
>
Информация об авторе
Информация об авторе
Завьялов, А. П.
Выпуск
Раздел
Название
Файл
№ 6 (2023)
Статьи
Приложение некоторых методик с использованием синхротронного излучения к изучению перспективного композитного термоэлектрика SrTiO
3
–TiO
2
№ 10 (2023)
Статьи
Приложение методик дифракции синхротронного излучения при оптимизации траектории спекания композитных керамик Al
2
O
3
–Ce:(Y,Gd)AG
Данный сайт использует cookie-файлы
Продолжая использовать наш сайт, вы даете согласие на обработку файлов cookie, которые обеспечивают правильную работу сайта.
О куки-файлах
TOP