СВОЙСТВА ИНТЕРФЕЙСНЫХ СТРУКТУР НА ОСНОВЕ ОКСИДИРОВАННОГО СЕЛЕНИДА СВИНЦА
- Авторы: Тулина Н.А1, Россоленко А.Н1, Шмытько И.М1, Борисенко И.Ю2, Борисенко Д.Н1, Колесников Н.Н1
-
Учреждения:
- Институт физики твердого тела имени Ю.А. Осипьяна РАН
- Институт проблем технологии микроэлектроники и особо чистых материалов РАН
- Выпуск: № 5 (2025)
- Страницы: 92-98
- Раздел: Статьи
- URL: https://journals.rcsi.science/1028-0960/article/view/356816
- DOI: https://doi.org/10.7868/S3034573125050118
- ID: 356816
Цитировать
Аннотация
В настоящей работе были синтезированы однофазные монокристаллические образцы на основе селенида свинца. Разработаны способы создания поверхностного оксидированного селенида свинца с проводимостью, отличной от базового PbSe. С использованием оксидированного селенида свинца как функционального промежуточного слоя были сделаны гетерофазные образцы Ag/Pb3OSeO3/PbSe, демонстрирующие стабильные мемристивные характеристики. Полученные гетеропереходы исследовали на предмет обнаружения резистивных переключений, измеряли вольт-амперные характеристики, температурную зависимость сопротивления гетероперехода. Изменением внешних параметров — частоты, величины напряжения электрического поля, прикладываемого к гетероконтакту, — реализовали разные метастабильные состояния. Исследовали динамические эффекты, определили времена мемристивных переходов из одного метастабильного состояния в другое. Воспроизводимые характеристики в мемристорах на основе монокристаллов оксидированного селенида свинца наблюдали в течение несколько месяцев.
Об авторах
Н. А Тулина
Институт физики твердого тела имени Ю.А. Осипьяна РАН
Автор, ответственный за переписку.
Email: tulina@issp.ac.ru
Черноголовка, Россия
А. Н Россоленко
Институт физики твердого тела имени Ю.А. Осипьяна РАН
Email: tulina@issp.ac.ru
Черноголовка, Россия
И. М Шмытько
Институт физики твердого тела имени Ю.А. Осипьяна РАН
Email: tulina@issp.ac.ru
Черноголовка, Россия
И. Ю Борисенко
Институт проблем технологии микроэлектроники и особо чистых материалов РАН
Email: tulina@issp.ac.ru
Черноголовка, Россия
Д. Н Борисенко
Институт физики твердого тела имени Ю.А. Осипьяна РАН
Email: tulina@issp.ac.ru
Черноголовка, Россия
Н. Н Колесников
Институт физики твердого тела имени Ю.А. Осипьяна РАН
Email: tulina@issp.ac.ru
Черноголовка, Россия
Список литературы
- Klie R.F., Buban J.P., Valera M., Franceschetti A., Jooss C., Zhu Y. // Nature. 2005. V. 435. P. 475. https://doi.org/10.1038/ncomms4404
- Straumal B.B., Protasova S.G., Mazilkin A.A., Goerin E., Schütz G., Straumal P.B. and Baretzky B. // Beilstein J. Nanotechnol. 2016. V. 7. P. 1936. https://doi.org/10.3762/bjnano.7.185
- Hassan A.M., Khalaf A.F., Sayed Kh.S., Li H.H., Chen Y. // IEEE Trans. Nanotechnol. 2016. V. 15. P. 484. https://doi.org/10.1109/EMBC.2018.8512868
- Straumal B.B., Mazilkin A.A., Protasova S.G., Stakhanova S.V., Straumal P.B., Bulatov M.F., Tietze Th., Goering E., Baretzky B. // Rev. Adv.Mater. Sci. 2015. V. 93. Iss. 10–12. P. 41. https://doi.org/10.1080/14786435.2012.736693
- Panin G.N. // Electronics. 2022. V. 11. P. 619. https://doi.org/10.3390/electronics11040619
- Wang W., Panin G.N., Fu X., Zhang L., Ilanchezhiyan P., Pelenovich V.O., Fu D., Kang T.W. // Sci. Rep. 2016. V. 6. P. 31224. https://doi.org/10.1038/srep31224
- Fu X., Zhang L., Cho H.D., Kang T.W., Fu D., Lee D., Lee S.W., Li L., T. Qi Q., Chan A.S., Yunusov Z.A., Panin G.N. // Small. 2019. V. 15. Iss. 45. P. 1903809. https://doi.org/10.1002/smll.201903809
- Fu X., Li T., Cai B., Miao J., Panin G.N., Ma X., Wang J., Jiang X., Li Q., Dong Y., Hao Ch., Sun J., Xu H., Zhao Q., Xia M., Song B., Chen F., Chen X., Lu W., Hu W. // Light Sci. Appl. 2023. V. 12. P. 39. https://doi.org/10.1038/s41377-023-01079-5
- Yin J., Tan Zh., Hong H., Jinxiong Wu, Hongtao Yuan, Liu Y., Chen Ch., Tan C., Yao F., Li T., Chen Y., Liu Zh., Liu K., Peng H. // Nature Comm. 2018. V. 9. P. 3311. https://doi.org/10.1038/s41467-018-05874-2
- Равич Ю.Н., Ефимова Б.А., Смирнов Н.А. Методы исследования полупроводников в применении к халькогенидам свинца PbTe, PbSe и PbS. М.: Наука, 1968. 383 с.
- Kasivan V., Dashevsky Z., Schwarz C.M., Flitsiyan E., Chernyak L., Khokhlov D. // JAP. 2012. V. 112. P. 086101. https://doi.org/10.1063/1.4759011
- Зимин С.П., Амиров И.Н., Наумов В.В. // ФГП. 2016. Т. 50. С. 1146. https://doi.org/10.21883/PJTF.2018.12.46288.17277
- Sun X., Gao K., Pang X., Yang H., Volinsky A.A. // Thin Solid Films. 2015. V. 592. P. 59. https://doi.org/10.1016/j.tsf.2015.09.009
- Peng H., Song J.-H., Kanatzidis M.G., Freeman A.J. // Phys. Rev. B. 2011. V. 84. P. 125207. https://doi.org/10.1103/PhysRevB.84.125207
- Поповкин Е.А., Симонов Ю.П. // Журнал неорганической химии. 1965. Т. 10. С. 1636.
- Sheldrick G.M. // Structural Chemistry. 2015. V. 71. P. 3. https://doi.org/10.1107/S2053229644024218
- Wang Ch., Wu H., Gao B., Zhang T., Yang Y., Wang H.Q. // Microelectronic Engineering. 2017. V. 187–188. P. 121. https://doi.org/10.1016/j.mec.2017.11.003
- Zahoor F., Zulkifit T.Z.A., Khanday F.A. // Nanoscale Res. Lett. 2020. V. 15. P. 90. https://doi.org/10.1186/s11671-020-03299-9
- Szot K., Speier W., Bihlmayer G., Waser R. // Nat. Mater. 2006. V. 5. P. 312.
- Wase R., Ditmann R., Statkov G., Szot K. // Adv. Mater 2009. V. 21. 2632. https://doi.org/10.1002/adma.200900375
- Yang J.J., Pickett M.D., Li X., Ohlberg D.A., Stewart D.R., Williams R.S. // Nat. Nanotechnol. 2008. V. 3. P. 429. https://doi.org/10.1038/nnano.2008.160
- Marchewka A., Waser R., Menze S. // International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2015. P. 297.
- Tulina N.A., Ivanov A.A. // J. Supercond. Novel Magn. 2020. V. 33. P. 2279. https://www.doi.org/10.1007/s10948-019-05383-3
- Tulina N.A., Borisenko I.Yu., Siroikin V.V. // SSC. 2013. V. 17. P. 48. https://www.doi.org/10.17073/1609-3577-2019-4-246-252
Дополнительные файлы


