Отправить статью по E-mail Влияние облучения на размер зерна и текстуру в пленках Мо и Та
- Авторы: Андрианов В.А.1, Бедельбекова К.А.2
-
Учреждения:
- Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова, НИИЯФ им. Д.В. Скобельцына
- Институт ядерной физики
- Выпуск: № 3 (2024)
- Страницы: 51–56
- Раздел: Статьи
- URL: https://journals.rcsi.science/1028-0960/article/view/259393
- DOI: https://doi.org/10.31857/S1028096024030087
- EDN: https://elibrary.ru/hfjinh
- ID: 259393
Цитировать
Открытый доступ
Доступ предоставлен
Только для подписчиков
Аннотация
Имплантация тяжелых ионов в металлические матрицы ведет к созданию высокой концентрации радиационных дефектов. Проведены рентгенодифракционные исследования фольг Mo и Та, имплантированных ионами 57Fe. Показано, что имплантация атомов Fe не оказывает заметного влияния на параметры решетки. Обнаружено, что облучение ведет к уширению дифракционных рефлексов и уменьшению размеров кристаллических зерен. Определено, что фольги Mo и Ta с ориентацией {100} сильно текстурированы. Облучение ионами Fe не оказывает заметного влияния на текстуру. Однако последующий отжиг при температуре 700°С ослабляет текстуру с облученной стороны фольг, не оказывая влияния на текстуру необлученной стороны.
Ключевые слова
Об авторах
В. А. Андрианов
Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова, НИИЯФ им. Д.В. Скобельцына
Автор, ответственный за переписку.
Email: andrva22@mail.ru
Россия, 119991, Москва
К. А. Бедельбекова
Институт ядерной физики
Email: andrva22@mail.ru
Казахстан, 050032, Алматы
Список литературы
- Григорьев Е.Г., Перлович Ю.А., Соловьев Г.И., Удовский А.Л., Якушин В.Л. Физическое материаловедение. Т. 4. Физические основы прочности. Радиационная физика твердого тела. Компьютерное моделирование / Ред. Калин Б.А. М.: МИФИ, 2008. 696 с.
- Вас Г.С. Основы радиационного материаловедения. Металлы и сплавы. М.: Техносфера, 2014. 992 с.
- Андрианов В.А., Бедельбекова К.А., Озерной А.Н., Верещак М.Ф., Манакова И.А., Дектерева А.С. // Поверхность. Рентген., синхротр. и нейтрон. исслед. 2020. № 4. С. 63. https://doi.org./10.31857/S1028096020040032
- Andrianov V.A., Bedelbekova K.A., Trigub A.L. // Vacuum. 2021. V. 193. Р. 110521. https://doi.org/10.1016/J.Vacuum.2021.110521
- Андрианов В.А., Бедельбекова К.А., Ерзинкян А.Л., Тригуб А.Л. // Поверхность. Рентген., синхротр. и нейтрон. исслед. 2022. № 7. С. 3. https://doi.org./10.31857/S1028096022070020
- Program SRIM. http://www.srim.org/
- Downey M.E., Eyre B.L. // Philosoph. Mag. 1965. V. 11. № 109. P. 53. http://doi.org./10.1080/14786436508211924/
- Лобанов М.Л., Юровских А.С., Кардонина Н.И., Русаков Г.М. Методы исследования текстур в материалах. Екатеринбург: Изд-во Урал. ун-та, 2014. 115 с.
- Уманский Я.С., Скаков Ю.А., Иванов А.Н., Расторгуев Л.Н. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия. М.: Металлургия, 1982. С. 584.
- Scherrer P. // Göttinger Nachrichten Gesell. 1918. V. 2. P. 98.
- Patterson A. // Phys. Rev. 1939. V. 56. № 10. P. 978. https://doi.org./10.1103/PhysRev.56.978
- Чижов П., Левин Э., Митяев А., Тимофеев А. Приборы и методы рентгеновской и электронной дифракции. Учебное пособие. М.: Московский физико-технический институт, 2011. 151 c.
Дополнительные файлы
