Термоиндуцированное переключение намагниченности субмикронных Ni частиц, сформированных на монокристаллическом триборате лития

Обложка

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

В работе изучалось влияние термоиндуцированного магнитоупругого эффекта на поле переключения намагниченности субмикронных Ni частиц. Для этого частицы размерами 0.9 × 0.3 × 0.03 мкм были сформированы на поверхности подложки, изготовленной из монокристаллического трибората лития(LiB3O5). Было экспериментально показано, что за счет данной подложки можно существенно (более чем в полтора раза) снизить значение поля переключения частиц при изменении температуры образца с 30 до 45 ◦C. Наблюдаемое снижение поля переключения связано с наводимой в частицах магнитоупругой анизотропией за счет разности в термических коэффициентах расширения подложки по разным кристаллическим осям.

Об авторах

Д. А Бизяев

Казанский физико-технический институт им. Е. К. Завойского

А. П Чукланов

Казанский физико-технический институт им. Е. К. Завойского

Email: a.chuklanov@gmail.com

Н. И Нургазизов

Казанский физико-технический институт им. Е. К. Завойского

А. А Бухараев

Казанский физико-технический институт им. Е. К. Завойского

Список литературы

  1. M.H. Kryder, E.C. Gage, T.W. McDaniel, W.A. Challener, R.E. Rottmayer, G. Ju, Y.-T. Hsia, and M. F. Erden, Proceedings of the IEEE 96(11), 1810 (2008); doi: 10.1109/JPROC.2008.2004315.
  2. C. Vogler, C. Abert, F. Bruckner, D. Suess, and D. Praetorius, Appl. Phys. Lett. 108, 102406 (2016); doi: 10.1063/1.4943629.
  3. W.-H. Hsu and R.H. Victora, JMMM 563, 169973 (2022); doi: 10.1016/j.jmmm.2022.169973.
  4. Н.И. Нургазизов, Т.Ф. Ханипов, Д.А. Бизяев, А.А. Бухараев, А.П. Чукланов, ФТТ 56(9), 1756 (2014)
  5. N. I. Nurgazizov, T. F. Khanipov, D.A. Bizyaev, A.A. Bukharaev, and A.P. Chuklanov, Phys. Solid State 56(9), 1817 (2014); doi: 10.1134/S1063783414090212.
  6. А.П. Бабичев, Н.А. Бабушкина, А.М. Братковский и др. (Collaboration), Физические величины: Справочник, под ред. И.С. Григорьева, Е. З. Мейлихова, Энергоатомиздат. М. (1991), 1232 с.
  7. Y. Liu, Q. Zhan, G. Dai, Xi. Zhang, B. Wang, G. Liu, Zh. Zuo, X. Rong, H. Yang, Xi. Zhu, Y. Xie, B. Chen, and R.-W. Li, Sci. Rep. 4, 6925 (2014); doi: 10.1038/srep06925.
  8. D.A. Bizyaev, A.A. Bukharaev, N. I. Nurgazizov, A.P. Chuklanov, and S.A. Migachev, Phys. Status Solidi RRL 14(9), 2000256 (2020); doi: 10.1002/pssr.202000256.
  9. Р.В. Горев, О. Г. Удалов, ФТТ 61(9), 1614 (2019); doi: 10.21883/FTT.2019.09.48099.02N.
  10. N.A. Usov, C.-R. Chang, and Z.-H. Wei, J. Appl. Phys. 89, 7591 (2001); doi: 10.1063/1.1357133.
  11. А.А. Бухараев, А.К. Звездин, А.П. Пятаков, Ю.К. Фетисов, УФН 188, 1288 (2018); doi: 10.3367/UFNr.2018.01.038279
  12. A.A. Bukharaev, A.K. Zvezdin, A.P. Pyatakov, and K. Fetisov, Phys.-Uspekhi 61, 1175 (2018); doi: 10.3367/UFNe.2018.01.038279.
  13. S. Bandyopadhyay, J. Atulasimha, and A. Barman, Appl. Phys. Rev. 8, 041323 (2021); doi: 10.1063/5.0062993.
  14. Н.И. Нургазизов, Д.А. Бизяев, А.А. Бухараев, А.П. Чукланов, В.Я. Шур, А.Р. Ахматханов, ФТТ 65(6), 955 (2023); doi: 10.21883/FTT.2023.06.55650.07H.
  15. К.П. Белов, Магнитострикционные явления и их технические приложения, Наука, М. (1987), 160 с.
  16. V. L. Mironov and O. L. Ermolaeva, Journal of Surface Investigation: X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques 3(5), 840 (2009); doi: 10.1134/S1027451009050292.
  17. N. D'Souza, M. S. Fashami, S. Bandyopadhyay, and J. Atulasimha, Nano Lett. 16, 1069 (2016); doi: 10.1021/acs.nanolett.5b04205.
  18. J. De Venta, S. Wang, T. Saerbeck, J.G. Ramirez, I. Valmianski, and I.K. Schuller, Appl. Phys. Lett. 104, 62410 (2014); doi: 10.1063/1.4865587.
  19. R. F. Need, J. Lauzier, L. Sutton, B. J. Kirby, and J. de la Venta, APL Mater. 7, 101115 (2019); doi: 10.1063/1.5118893.
  20. V. Gorige, A. Swain, K. Komatsu, M. Itoh, and T. Taniyama, Phys. Status Solidi RRL 11, 1700294 (2017); doi: 10.1002/pssr.201700294.

© Российская академия наук, 2023

Данный сайт использует cookie-файлы

Продолжая использовать наш сайт, вы даете согласие на обработку файлов cookie, которые обеспечивают правильную работу сайта.

О куки-файлах