Surface-electrode ion trap development

Обложка

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

 

 

Об авторах

T. Abbasov

Skolkovo Institute of Science and Technology

Email: letters@kapitza.ras.ru

S. Zibrov

P. N. Lebedev Physical Institute Russian Academy of Sciences

Email: letters@kapitza.ras.ru

I. Sherstov

Skolkovo Institute of Science and Technology

Автор, ответственный за переписку.
Email: letters@kapitza.ras.ru

Список литературы

  1. W. Paul, O. Osberghaus, and E. Fischer, Forsch. ber. Wirtsch. Verkehrsminist. Nordrh.-Westfal. 415, 42 (1958).
  2. R. F. Wuerker, H. Shelton, and R. V. Langmuir, J. Appl. Phys. 30, 342 (1959).
  3. E. Fischer, Z. Phys. 156, 1 (1959).
  4. W. Neuhauser, M. Hohenstatt, P. E. Toschek, and H. Dehmelt, Phys. Rev. A 22, 1137 (1980).
  5. F. G. Major, V. N. Gheorghe, and G. Werth, Charged Particle Traps, Springer, Berlin (2010).
  6. T. Rosenband, D. B. Hume, P. O. Schmidt et al. (Collaboration), Science. 319, 1808 (2008).
  7. C. W. Chou, D. B. Hume, J. C. J. Koelemeij, D. J. Wineland, and T. Rosenband, Phys. Rev. Lett. 104, 070802 (2010).
  8. S. Seidelin, J. Chiaverini, R. Reichle et al. (Collaboration), Phys. Rev. Lett. 96, 253003 (2006).
  9. K. Khabarova, D. Kryuchkov, A. Borisenko, I. Zalivako, I. Semerikov, M. Aksenov, I. Sherstov, T. Abbasov, A. Tausenev, and N. Kolachevsky, Symmetry 10, 2213 (2022).
  10. R. Fritz, Frequency Standards: Basics and Applications, John Wiley & Sons, Weinheim (2006).
  11. C. E. Pearson, Theory and Application of Planar Ion Traps, Master thesis, University of Washington, Seattle (2006).
  12. J. Chiaverini, R. B. Blakestad, J. Britton, J. D. Jost, C. Langer, D. Leibfried, R. Ozeri, and D. J. Wineland, Quantum Information and Computation 5(6), 419 (2005).
  13. M. Niedermayr, Cryogenic surface ion traps, PhD thesis, University of Innsbruck, Innsbruck (2015).

© Российская академия наук, 2023

Данный сайт использует cookie-файлы

Продолжая использовать наш сайт, вы даете согласие на обработку файлов cookie, которые обеспечивают правильную работу сайта.

О куки-файлах