Energeticheskiy spektr valentnoy zony v kvantovykh yamakh hgte na puti ot 2d k 3d topologicheskomu izolyatoru

Мұқаба

Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

Для определения параметров энергетического спектра валентной зоны в квантовых ямах (QW) HgTe шириной (dQW) 20-200 нм измерены магнитополевые и температурные зависимости сопротивления и эффекта Холла. Сопоставление концентрации дырок, определенных из периода осцилляций Шубникова-де Гааза (SdH), и эффекта Холла показывает, что во всем диапазоне dQW кратность вырождения состояний потолка валентной зоны равна 2, а циклотронная масса, mh, определенная из температурной зависи-11 11 -211 -2 10 -2мости амплитуды осцилляций SdH, монотонно возрастает от 0.2m0 до 0.3m0 (m0 - масса свободного электрона) с ростом концентрации дырок, p, от 2 · 10 до 6 · 10 см . Проведено сопоставление с теоретическими зависимостями mh(p, dQW), рассчитанными в рамках 4-х зонной kP-модели. Эти расчеты предсказывают скачкообразный рост mh примерно в 2 раза за счет попарного слияния боковых экстремумов при увеличении концентрации дырок, который при dQW = 20 нм должен наблюдаться при p = (4-4.5) · 10 см и при p = 4 · 10 см в QW 200 нм. Это предсказание радикально отличается от экспериментальных зависимостей. Показано, что учет дополнительных факторов (электрическое поле вQW, величина деформации) не снимает противоречия между экспериментом и теорией. Это вызывает сомнения в том, что используемые kP расчеты адекватно описывают валентную зону при всех dQW.

Әдебиет тізімі

  1. L. G. Gerchikov and A. Subashiev, Phys. Status Solidi b 160, 443 (1990).
  2. X. C. Zhang, A. Pfeu er-Jeschke, K. Ortner, V. Hock, H. Buhmann, C. R. Becker, and G. Landwehr, Phys. Rev. B 63, 245305 (2001).
  3. E. G. Novik, A. Pfeu er-Jeschke, T. Jungwirth, V. Latussek, C. R. Becker, G. Landwehr, H. Buhmann, and L. W. Molenkamp, Phys. Rev. B 72, 035321 (2005).
  4. Y. Ren, Z. Qiao, and Q. Niu, Rep. Progr. Phys. 79(6), 066501 (2016); doi: 10.1088/0034-4885/79/6/066501.
  5. C. R. Becker, V. Latussek, G. Landwehr, and L. W. Molenkamp, Phys. Rev. B 68, 035202 (2003).
  6. S. Dvoretsky, N. Mikhailov, Yu. Sidorov, V. Shvets, S. Danilov, B. Wittman, and S. Ganichev, ElectronicMaterials 39, 918 (2010).
  7. G. Landwehr, J. Gerschu¨tz, S. Oehling, A. Pfeu er-Jeschke, V. Latussek, and C. R. Becker, Physica E 6, 713 (2000).
  8. X. C. Zhang, A. Pfeu er-Jeschke, K. Ortner, C. R. Becker, and G. Landwehr, Phys. Rev. B 65, 045324 (2002).
  9. K. Ortner, X. C. Zhang, A. Pfeu er-Jeschke, C. R. Becker, G. Landwehr, and L. W. Molenkamp, Phys. Rev. B 66, 075322 (2002).
  10. Z. D. Kvon, E. B. Olshanetsky, E. G. Novik, D. A. Kozlov, N. N. Mikhailov, I. O. Parm, and S. A. Dvoretsky, Phys. Rev. B 83, 193304 (2011).
  11. X. C. Zhang, A. Pfeu er-Jeschke, K. Ortner, V. Hock, H. Buhmann, C. R. Becker, and G. Landwehr, Phys. Rev. B 63, 245305 (2001).
  12. M. S. Zholudev, A. V. Ikonnikov, F. Teppe, M. Orlita, K. V. Maremyanin, K. E. Spirin, V. I. Gavrilenko, W. Knap, S. A. Dvoretskiy, and N. N. Mihailov, Nanoscale Res. Lett. 7, 534 (2012).
  13. G. M. Minkov, V. Ya. Aleshkin, O. E.Rut, A. A. Sherstobitov, A. V. Germanenko, S. A. Dvoretski, and N. N. Mikhailov, Physica E 116, 113742 (2020)
  14. E. L. Ivchenko, Optical Spectroscopy of Semiconductor Nanostructures, Alpha Science International, Harrow, UK (2005), p. 427.
  15. З. Д. Квоn, М. Л. Савченко, Д. А. Козлов, Е. Б. Ольшанецкий, А. С. Ярошевич, Н. Н. Михайлов, Письма в ЖЭТФ 112(3), 174 (2020).
  16. А. Ю. Кунцевич, Е. В. Тупиков, С. А. Дворецкий, Н. Н. Михайлов, М. Резников, Письма в ЖЭТФ 111(11), 750 (2020).
  17. G. M. Minkov, A. V. Germanenko, O. E.Rut, A. A. Sherstobitov, M. O. Nestoklon, S. A. Dvoretski, and N. N. Mikhailov, Phys. Rev. B 93, 155304 (2016).
  18. G. M. Minkov, V. Ya. Aleshkin, O. E.Rut, A. A. Sherstobitov, A. V. Germanenko, S. A. Dvoretski, and N. N. Mikhailov, Phys. Rev. B 96, 035310 (2017).

© Российская академия наук, 2023

Осы сайт cookie-файлдарды пайдаланады

Біздің сайтты пайдалануды жалғастыра отырып, сіз сайттың дұрыс жұмыс істеуін қамтамасыз ететін cookie файлдарын өңдеуге келісім бересіз.< / br>< / br>cookie файлдары туралы< / a>