Металлодиэлектрические зеркальные покрытия для квантовых каскадных лазеров с длиной волны излучения 4 – 5 мкм

Мұқаба

Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

Представлены результаты сравнения металлодиэлектрических зеркальных покрытий для квантовых каскадных лазеров (ККЛ) среднего ИК диапазона. Изготовлены образцы ККЛ с оптическими покрытиями Al2O3 – Ti – Au и SiO2 – Ti – Au и изучены их характеристики. Показано, что использование металлодиэлектрических зеркальных покрытий позволяет увеличиnь выходную оптическую мощность приборов до 93 % и снизить их пороговые токи в 1.25 раза.

Толық мәтін

Рұқсат жабық

Авторлар туралы

К. Подгаецкий

АО «НИИ "Полюс" им. М.Ф.Стельмаха»

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: podgaetskykonstantin@yandex.ru
Ресей, Москва, ул. Введенского, 3, корп.1, 117342

А. Лобинцов

АО «НИИ "Полюс" им. М.Ф.Стельмаха»

Email: podgaetskykonstantin@yandex.ru
Ресей, Москва, ул. Введенского, 3, корп.1, 117342

А. Данилов

АО «НИИ "Полюс" им. М.Ф.Стельмаха»

Email: podgaetskykonstantin@yandex.ru
Ресей, Москва, ул. Введенского, 3, корп.1, 117342

А. Иванов

АО «НИИ "Полюс" им. М.Ф.Стельмаха»

Email: podgaetskykonstantin@yandex.ru
Ресей, Москва, ул. Введенского, 3, корп.1, 117342

М. Ладугин

АО «НИИ "Полюс" им. М.Ф.Стельмаха»

Email: podgaetskykonstantin@yandex.ru
Ресей, Москва, ул. Введенского, 3, корп.1, 117342

А. Мармалюк

АО «НИИ «Полюс» им. М.Ф.Стельмаха»; Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»; Российский университет дружбы народов

Email: podgaetskykonstantin@yandex.ru
Ресей, Москва, ул. Введенского, 3, корп.1, 117342; Москва, Каширское ш., 31, 115409; Москва, ул. Миклухо-Маклая, 6, 117198

Е. Кузнецов

АО «НИИ "Полюс" им. М.Ф.Стельмаха»

Email: podgaetskykonstantin@yandex.ru
Ресей, Москва, ул. Введенского, 3, корп.1, 117342

В. Дюделев

Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе

Email: podgaetskykonstantin@yandex.ru
Ресей, С.-Петербург, Политехническая ул., 26, 194021

Д. Михайлов

Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе

Email: podgaetskykonstantin@yandex.ru
Ресей, С.-Петербург, Политехническая ул., 26, 194021

Д. Чистяков

Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе

Email: podgaetskykonstantin@yandex.ru
Ресей, С.-Петербург, Политехническая ул., 26, 194021

А. Бабичев

ООО «Коннектор Оптикс»; Санкт-Петербургский национальный университет информационных технологий, механики и оптики;

Email: podgaetskykonstantin@yandex.ru
Ресей, С.-Петербург, ул. Домостроительная, 16, литер Б, 194292; С.-Петербург, Кронверкский просп., 49, 197101

Е. Когновицкая

Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе

Email: podgaetskykonstantin@yandex.ru
Ресей, С.-Петербург, Политехническая ул., 26, 194021

А. Лютецкий

Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе

Email: podgaetskykonstantin@yandex.ru
Ресей, С.-Петербург, Политехническая ул., 26, 194021

С. Слипченко

Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе

Email: podgaetskykonstantin@yandex.ru
Ресей, С.-Петербург, Политехническая ул., 26, 194021

Н. Пихтин

Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе

Email: podgaetskykonstantin@yandex.ru
Ресей, С.-Петербург, Политехническая ул., 26, 194021

А. Гладышев

ООО «Коннектор Оптикс»

Email: podgaetskykonstantin@yandex.ru
Ресей, С.-Петербург, ул. Домостроительная, 16, литер Б, 194292

И. Новиков

ООО «Коннектор Оптикс»; Санкт-Петербургский национальный университет информационных технологий, механики и оптики

Email: podgaetskykonstantin@yandex.ru
Ресей, С.-Петербург, ул. Домостроительная, 16, литер Б, 194292; С.-Петербург, Кронверкский просп., 49, 197101

Л. Карачинский

ООО «Коннектор Оптикс»; ; Санкт-Петербургский национальный университет информационных технологий, механики и оптики

Email: podgaetskykonstantin@yandex.ru
Ресей, С.-Петербург, ул. Домостроительная, 16, литер Б, 194292; С.-Петербург, Кронверкский просп., 49, 197101

А. Егоров

ООО «Коннектор Оптикс»; Санкт-Петербургский национальный исследовательский академический университет им. Ж.И.Алфёрова РАН

Email: podgaetskykonstantin@yandex.ru
Ресей, С.-Петербург, ул. Домостроительная, 16, литер Б, 194292; С.-Петербург, ул. Хлопина, 8, корп. 3, литер А, 194021

Г. Соколовский

Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе

Email: podgaetskykonstantin@yandex.ru
Ресей, С.-Петербург, Политехническая ул., 26, 194021

Әдебиет тізімі

  1. Isensee K., Kröger-Lui N., Petrich W. Analyst., 143, 5888 (2018).
  2. Rakiс' A.D., Taimre T., Lim Y.L., et al. Appl. Phys. Rev., 6, 021320 (2019).
  3. Абрамов П.И., Бударин А.С., Кузнецов Е.В., Скворцов Л.А. ЖПС, 87, 515 (2020) [J. Appl. Spectrosc., 87, 515 (2020)].
  4. Yang Q., Manz C., Bronner Q., et al. Appl. Phys. Lett., 90, 121134 (2007).
  5. Bandyopadhyay N., Bai Y., Tsao S., et al. Appl. Phys. Lett., 101, 241110 (2012).
  6. Ulbrich N., Scarpa G., Sigl A., Roßkopf J., Bohm G., Abstreiter G., Amann M.C. Electron. Lett., 37, 1341 (2001).
  7. Scarpa G., Ulbrich N., RoOkopf J., Sigl A., Bohm G., Abstreiter G., Amann M.-C. IEE Proc.: Optoelectron., 149, 201 (2002).
  8. Gmachl C., Sergent A.M., Tredicucci A., Capasso F., et al. IEEE Photonics Technol. Lett., 11, 1369 (1999).
  9. Farmer C.D., Stanley C.R., Ironside C.N., Garcia M. Electron. Lett., 38, 1443 (2002).
  10. Page H., Collot P., Rossi A., Ortiz V., Sirtori C. Semicond. Sci. Technol., 17, 1312 (2002).
  11. Slivken S., Yu J.S., Evans A., David J., Doris L., Razeghi M. IEEE Photonics Technol. Lett., 16, 744 (2004).
  12. Matsuoka Y., Semtsiv M.P., Peters S., Masselink W.T. Opt. Lett., 43, 4723 (2018).
  13. Schmitt P., Felde N., Döhring T., et al. Opt. Mater. Express, 12, 545 (2022).
  14. Бабичев А.В., Гладышев А.Г., Дюделев В.В. и др. Письма в ЖТФ, 46, 35 (2020) [Tech. Phys. Lett., 46, 442 (2020)].
  15. Дюделев В.В., Михайлов Д.А., Бабичев А.В. и др. Квантовая электроника, 50, 720 (2020) [Quantum Electron., 50, 720 (2020)].
  16. Furman Sh.A., Tikhonravov A.V. Basics of Optics of Multilayer Systems (Gif-sur-Yvette, France: Editions Frontieres, 1992).
  17. Yu J.S., Slivken S., Evans A., Razeghi M. Appl. Phys. A, 93, 405 (2008).

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML
2. Fig.1. Calculated dependences of the reflection coefficient of a metal-dielectric mirror with fixed thicknesses of titanium and gold sublayers on the thickness of the dielectric layer at a wavelength of 4.5 μm.

Жүктеу (93KB)
3. Fig.2. Calculated dependences of the reflection coefficient of a metal-dielectric mirror with a fixed thickness of titanium and dielectric layers (200 nm) on the thickness of the gold layer at a wavelength of 4.5 µm.

Жүктеу (62KB)
4. Fig.3. Calculated dependences of the reflection coefficient of a metal-dielectric mirror with a fixed dielectric thickness (200 nm) with variations in the total thickness of metal coatings.

Жүктеу (90KB)
5. Fig.4. Watt-ampere characteristics of QCLs without optical coating and with applied mirror coating SiO2 – Ti – Au (a) and Al2O3 – Ti – Au (b).

Жүктеу (110KB)

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).