Hexagonal borophene stabilized by mixed doping: structure, stability, electronic and mechanical properties
- 作者: Steglenko D.V.1, Gribanova T.N.1, Minyaev R.M.1
-
隶属关系:
- Southern Federal University
- 期: 卷 70, 编号 1 (2025)
- 页面: 73–80
- 栏目: ТЕОРЕТИЧЕСКАЯ НЕОРГАНИЧЕСКАЯ ХИМИЯ
- URL: https://journals.rcsi.science/0044-457X/article/view/286265
- DOI: https://doi.org/10.31857/S0044457X25010082
- EDN: https://elibrary.ru/CVNOSN
- ID: 286265
如何引用文章
全文:
详细
Using DFT calculations, the possibility of stabilizing the hexagonal honeycomb shape of borophene by mixed doping in the B6Ga2Mg4 system was showed, where a flat sheet of borophene is placed between two layers formed by magnesium and gallium atoms. B6Ga2Mg4 is a relatively soft material with metallic conductivity. Evaluation of the thermodynamic stability of this compound shows that melting will occur at temperatures above 1200 K.
全文:
Введение
В настоящее время двумерные (2D) материалы привлекают большое внимание в связи с их необычными физическими и химическими свойствами [1, 2]. Благодаря пониженной размерности и возможности дополнительной функционализации они приобретают такие улучшенные свойства, как снижение склонности к коагуляции, химическую устойчивость, технологичность [3], и могут найти применение в качестве электронных или оптоэлектронных устройств [4–7], в спинтронике [8, 9], а также в элементах солнечных батарей, катализаторах, аккумуляторах электрической энергии и сенсорных устройствах [3, 10, 11]. Особый интерес вызывают построенные из атомов бора двумерные системы, имеющие сотовую структуру [12–15], поскольку предполагается, что именно борная гексагональная подрешетка ответственна за сверхпроводимость в MgB2 [16–18]. Однако из-за отсутствия электронов на pz-орбиталях двумерный лист бора с сотовой структурой демонстрирует решеточную нестабильность, поэтому вопрос стабилизации гексагональной борной структуры имеет первостепенное значение.
Эффективным способом стабилизации нестандартных борных форм, таких как фуллерены, протяженные борные цепочки и др., является допирование, которое может осуществляться с использованием атомов как металлов, так и неметаллов [19–23]. Стабилизировать двумерную борную решетку с сотовой структурой можно посредством донирования электронной плотности на pz-орбитали путем ее допирования атомами щелочных и щелочноземельных металлов [24] или самодопирования [25]. Как показали исследования, полиморфные модификации двумерных борных листов, возникающие в случае самодопирования, могут обладать сверхпроводящими свойствами с температурой [26]. Модификации донорной системы позволяют регулировать свойства и устойчивость борофеновых производных, а исследование способов стабилизации двумерных борных листов с гексагональной решеткой открывает новые возможности для получения материалов с технологически полезными свойствами. Ранее [27] нами был предложен способ стабилизации гексагональной борной решетки путем двухстороннего допирования, где в качестве донора электронов рассматривался натрий. В настоящей работе представлено теоретическое исследование трехслойной системы B6Ga2Mg4 (рис. 1), в которой стабилизация плоского борофенового листа обеспечивается двухсторонним допированием в результате его расположения между двумя слоями смешанного состава, сформированными атомами Ga и Mg.
Рис. 1. Строение двумерной системы B6Ga2Mg4. Атомы бора, формирующие сотовую структуру, изображены зеленым цветом, атомы магния и галлия, находящиеся в апикальном положении, – оранжевым и светло-зеленым цветом соответственно: а – вид сверху, б – вид сбоку.
Теоретическая часть
Расчеты в приближении двумерного бесконечного кристалла были выполнены с помощью программного пакета VASP (Vienna Ab initio Simulation Package) [28–31] с использованием функционала PBE [32] и псевдопотенциалов PAW (версия GW) [33, 34]. Во всех расчетах энергия плоских волн составляла 550 эВ, порог минимизации волновой функции был установлен на уровне 1 × 10–8 эВ, а остаточные градиенты на атомах были меньше 1 × 10–4 эВ/Å. Дискретизацию зоны Бриллюэна проводили по методу Монкхорста–Пэка [35] с автоматически генерируемой сеткой плотностью 15 × 15 × 1. Фононный спектр рассчитывали с помощью программы Phonopy [36] для суперъячейки размером 6 × 6 × 1. При расчетах зонной структуры дискретизация зоны Бриллюэна была увеличена до 31 × 31 × 1. Для снижения влияния соседних слоев друг на друга было установлено межслоевое расстояние >13 Å. Для оценки термической стабильности B6Ga2Mg4 были выполнены расчеты методом молекулярной динамики (МД) в приближении канонического (NVT) ансамбля при температурах 1000, 1200 и 1300 K. Для этого использовали суперъячейку размером 4 × 4 × 1, а дискретизация зоны Бриллюэна устанавливалась как 1 × 1 × 1. Во всех расчетах методом МД энергия плоских волн составляла 550 эВ. Температурный контроль осуществляли по схеме термостата Nosé [37]. Для визуализации исследуемых систем использовали программу Vesta [38]. Пространственную группу симметрии определяли с помощью программного пакета ISOTROPY (FINDSYM) [39].
Результаты и обсуждение
Как показывают результаты расчетов, оптимизированная кристаллическая структура имеет гексагональную сингонию и относится к пр. гр. P6/mmm (191). В табл. 1 приведены длины соответствующих векторов решетки Браве, координаты атомов в элементарной ячейке и позиции Вайкоффа для атомов галлия, магния и бора. На рис. 2 показано пространственное строение B6Ga2Mg4.
Рис. 2. Вид сверху и строение элементарной ячейки двумерной системы B6Ga2Mg4 (а), вид сбоку фрагмента поверхности (б).
Таблица 1. Расcчитанные параметры решетки Браве, координаты атомов и позиции Вайкоффа для B6Ga2Mg4
Вектора трансляции, Å | ||||
a = 5.2839 | c = 13.3784 | |||
атом | позиции Вайкоффа | координаты атомов | ||
x | y | z | ||
Ga | 2e | 0.00000 | 0.00000 | 0.64319 |
Mg | 4h | 0.33333 | 0.66666 | 0.62737 |
B | 6k | 0.33201 | 0.00000 | 0.50000 |
Базис решетки Браве составляют шесть атомов бора, два атома галлия и четыре атома магния со стехиометрическим соотношением 1 : 2 : 3 (Ga : Mg : B). Атомы бора формируют идеально плоскую гексагональную решетку, находящуюся между двумя гетероатомными слоями, в которых атомы галлия и магния расположены апикально с двух сторон относительно центров борных шестиугольников. Рассчитанные расстояния B–Ga и B–Mg составляют 2.598 и 2.453 Å. Борная решетка имеет два типа связей: длина связи между атомами бора, формирующими цикл, над которым расположен атом галлия, составляет 1.754 Å, а длины связей B–B, соединяющих борные циклы с апикальными атомами галлия, равны 1.775 Å (рис. 2). Такие экзоциклические связи B–B незначительно (0.025 Å) превышают сумму ковалентных радиусов атомов бора, а эндоциклические – фактически равны длине одинарной связи B–B (1.75 Å [40]). В то же время расстояния B–Ga и B–Mg превышают соответственно сумму ковалентных радиусов B–Ga на 0.468 Å (dcov = 2.130 Å) B–Mg на 0.213 Å (dcov = 2.224 Å). При этом расстояния между соседними атомами магния равны 3.051 Å, что превышает сумму ковалентных радиусов (dcov = 2.720 Å) на 0.331 Å. Расстояние Ga–Mg практически равно расстоянию Mg–Mg и составляет величину 3.058 Å, которая превышает сумму ковалентных радиусов (dcov = 2.61 Å) на 0.448 Å.
Для оценки динамической устойчивости двумерной борографеновой системы нами был рассчитан фононный спектр (рис. 3). Результаты расчетов показывают, что в фононном спектре отсутствуют дисперсионные кривые, лежащие в мнимой области, т.е. рассматриваемая структура является динамически устойчивой. На фононном спектре можно отметить отсутствие энергетической щели между акустическими и оптическими ветвями.
Рис. 3. Рассчитанные дисперсионные кривые фононного спектра вдоль пути Г–М–К–Г (а) и плотность фононных состояний (б) для B6Ga2Mg4.
Расчеты электронной зонной структуры B6Ga2Mg4 вдоль высокосимметричных направлений зоны Бриллюэна показывают, что такое соединение должно обладать металлическими свойствами (рис. 4). Так, здесь отсутствует запрещенная зона, а зона проводимости и валентная зона пересекают уровень Ферми (E = 0). Таким образом, аналогично двумерному натрий-допированному борофену [27] B6Ga2Mg4 также будет металлом. На рис. 5–7 представлены частичные плотности электронных состояний, сформированные атомами бора, галлия и магния.
Рис. 4. Электронная зонная структура B6Ga2Mg4 вдоль пути Г–М–K–Г (а) и плотность электронных состояний (б).
Как видно из рис. 5, в B6Ga2Mg4 зона, расположенная ниже уровня Ферми, сформирована главным образом p-орбиталями атомов бора. В меньшей степени здесь представлены p-орбитали атомов галлия (рис. 6). В то же время основной вклад от атомов магния в формирование зоны, лежащей выше уровня Ферми, приходится на s-орбитали, а вклад p-орбиталей совсем незначителен (рис. 7).
Рис. 5. Частичная плотность электронных состояний, образованная атомами бора. Вертикальной пунктирной линией отмечен уровень Ферми.
Рис. 6. Частичная плотность электронных состояний, образованных атомами галлия. Вертикальной пунктирной линией отмечен уровень Ферми.
Рис. 7. Частичная плотность электронных состояний, образованных атомами магния. Вертикальной пунктирной линией отмечен уровень Ферми.
Зона проводимости сформирована в основном p-орбиталями атомов бора и галлия, и вклады p-орбиталей этих атомов сопоставимы (рис. 5 и 6). В меньшей степени в формировании зоны проводимости участвуют s- и p-орбитали атомов магния.
С помощью DFT-расчетов нами был определен критерий механической устойчивости двумерного B6Ga2Mg4, а также модуль Юнга и коэффициент Пуассона, которые характеризуют меру жесткости и поперечной деформации при сжатии или растяжении твердого тела. В случае гексагональных систем необходимый и достаточный критерий механической устойчивости определяется следующим образом [41]: В двумерном случае приведенные выше неравенства для компонент тензора упругости принимают вид: . Рассчитанные значения упругих постоянных представлены в табл. 2. Для поперечно-изотропного материала модуль Юнга можно рассчитать по формуле: [42]. В случае двумерного поперечно-изотропного материала получаем: . Аналогичным образом коэффициент Пуассона определяется как [43, 44].
Из данных, представленных в табл. 2, видно, что рассчитанный модуль Юнга (Y2D) для B6Ga2Mg4 составляет 139.6 Н/м, что значительно ниже, чем для графена (340 ± 50 Н/м) [46, 47] и двумерного нитрида бора hex-BN (289 ± 24 Н/м) [49], однако сопоставимо с двумерным MoS2 (180 ± 60, 130 Н/м) [50, 51] и незначительно выше, чем у допированного натрием борофена B2Na2 [27] или монослоя силицена (62 Н/м) [52, 55]. По своим механическим свойствам B6Ga2Mg4 схож с двумерными B4P2 и B4As2, для которых Y2D = 42.5 и 130.4 Н/м соответственно [53]. Таким образом, теоретически предсказанный B6Ga2Mg4 – относительно мягкий материал. Низкое значение коэффициента Пуассона указывает на то, что при одноосном растяжении или сжатии поперечная деформация монослоя B6Ga2Mg4 будет сопоставимой с двумерным hex-BN.
Таблица 2. Рассчитанные значения констант эластичности (cij, Н/м), модуль Юнга (Y2D, в Н/м) и коэффициент Пуассона ν
Соединение | c11 | c12 | c66 | Y2D | ν |
Графен | 358.0[45] | 55.0[45] | 152.0[45] | ||
2D-hex-BN | 293.2[48] | 66.1[48] | 113.6[48] | 289 ± 24[49] | 0.218[48] |
2D-MoS2 | 140.0[50] | 40.0[50] | 50.0[50] | 0.290[50] | |
2D-B4P2 | 142.5[52] | 2.5[52] | 13.6[52] | 142.5[52] | 0.017[52] |
2D-B6Ga2Mg4 | 145.8 | 30.2 | 57.79 | 139.6 | 0.206 |
2D-B4As2 | 130.4[53] | 1.9[53] | 13.2[53] | 130.4[53] | 0.015[53] |
2D-B2Na2 | 107.1[27] | 8.36[27] | 49.35[27] | 106.4[27] | 0.078[27] |
Силицен | 71.3[54] | 23.2[54] | 24.1[54] | 62[55] | 0.325[54] |
В табл. 3 приведены рассчитанные значения энергии атомов бора, галлия, магния и двумерного B6Ga2Mg4. Для изолированных атомов спин-поляризованные DFT-расчеты проводили методом нарушенной симметрии.
Таблица 3. Рассчитанные значения энергии (в эВ) атомов бора, галлия, магния и двумерного B6Ga2Mg4. Энергия образования Ef1 в пересчете на формульную единицу (эВ), Ef2 в пересчете на атом (эВ/атом)
Соединение | B | Ga | Mg | B6Ga2Mg4 | Ef1, эВ | Ef2, эВ/атом |
Энергия, эВ | –0.337 | –0.277 | –0.001 | –50.148 | –47.57 | –3.96 |
Энергию образования рассчитывали по формуле:
,
где n = 1 в случае Ef1 и n = 12 в случае Ef2.
Как следует из табл. 3, предсказанный двумерный B6Ga2Mg4 должен представлять собой относительно стабильное соединение, термодинамическая стабильность которого выше, чем двумерного борофена, допированного натрием (3.54 эВ/атом) [27].
Для оценки термической стабильности было выполнено квантово-химическое моделирование процесса плавления листа B6Ga2Mg4 методом МД. Во всех расчетах методом МД шаг интегрирования составлял 3 фс, а полная траектория в фазовом пространстве – 10.5 пс (3500 шагов). Для моделирования процесса плавления использовали суперъячейку размером 4 × 4 × 1, содержащую 192 атома. Серия расчетов, проведенных при различных температурах, показала, что лист B6Ga2Mg4 сохраняет свою стабильность при 1200 K (рис. 8).
Рис. 8. Парная корреляционная функция (PCF), рассчитанная для двумерного B6Ga2Mg4 при различных температурах (а); фрагмент поверхности размером 4 × 4 × 1 при 1000 (б), 1200 (в) и 1300 K (г).
Для отслеживания процесса плавления была использована парная корреляционная функция, отражающая степень дальнего порядка в веществе [56]. При фазовом переходе твердое тело–жидкость пики, отвечающие наличию дальнего порядка, исчезают, что указывает на плавление [57], происходящее в двумерном листе B6Ga2Mg4 при 1300 K (рис. 8). Уширение и уменьшение пиков обусловлено ростом амплитуды тепловых колебаний, которые искажают структуру (рис. 8в), однако плавление не происходит (по крайней мере, при 1200 K).
Из графика парной корреляционной функции (рис. 8а) можно сделать вывод, что начало плавления наступает при температуре ~1300 K. На это указывают уширение и уменьшение пиков, что говорит о резком уменьшении дальнего порядка в твердом теле. Это также заметно и по значительному искажению структуры двумерного B6Ga2Mg4 (рис. 8г). При этом МД-моделирование при температурах 1000 и 1200 K в течение 10.5 пс показало, что несмотря на значительные искажения общая структура двумерного листа B6Ga2Mg4 сохраняется (рис. 8б, 8в). Отсюда можно сделать вывод, что термическая устойчивость B6Ga2Mg4 должна сохраняться до температуры ~1200 K. Таким образом, B6Ga2Mg4 является термически более устойчивым по сравнению с ранее изученным Na-допированным борофеном [27], который стабилен при температурах <200 K.
Заключение
С помощью квантово-химического моделирования методом DFT было изучено пространственное и электронное строение, проведена оценка динамической и термической стабильности, критерия механической устойчивости, рассчитаны модуль Юнга и коэффициент Пуассона для двумерного борного листа с сотовой структурой, допированного атомами магния и галлия. Полученные результаты показывают, что система B6Ga2Mg4 является устойчивой, обладает металлическими свойствами и высокой термической стабильностью. Результаты анализа механических свойств показывают, что такое соединение должно быть относительно мягким и походить на двумерный MoS2. Таким образом, смешанное допирование является эффективным способом стабилизации гексагональной структуры борофена, позволяющим направленно регулировать его устойчивость и свойства.
Финансирование работы
Работа выполнена в рамках ПЧ ГЗ “Теоретический дизайн, синтез и исследование новых полифункциональных органических, металлокомплексных, двух и трехмерных элементоорганических и неорганических структур и материалов для молекулярной электроники, спинтроники и медицинских целей” (FENW-2023-0017).
Конфликт интересов
Авторы заявляют, что у них нет конфликта интересов.
作者简介
D. Steglenko
Southern Federal University
编辑信件的主要联系方式.
Email: dvsteglenko@sfedu.ru
Institute of Physical and Organic Chemistry
俄罗斯联邦, Rostov-on-Don, 344090T. Gribanova
Southern Federal University
Email: dvsteglenko@sfedu.ru
Institute of Physical and Organic Chemistry
俄罗斯联邦, Rostov-on-Don, 344090R. Minyaev
Southern Federal University
Email: dvsteglenko@sfedu.ru
Institute of Physical and Organic Chemistry
俄罗斯联邦, Rostov-on-Don, 344090参考
- Novoselov K.S., Geim A.K., Morozov S.V. et al. // Science. 2004. V. 306. № 5696. P. 666. https://doi.org/10.1126/science.1102896
- Castro Neto A.H., Guinea F., Peres N.M.R. et al. // Rev. Mod. Phys. 2009. V. 81. № 1. P. 109. https://doi.org/10.1103/RevModPhys.81.109
- Yang X., Xu M., Qiu W. et al. // J. Mater. Chem. 2011. V. 21. № 22. P. 8096. https://doi.org/10.1039/c1jm10697j
- Wang Q.H., Kalantar-Zadeh K., Kis A. et al. // Nat. Nanotechnol. 2012. V. 7. № 11. P. 699. https://doi.org/10.1038/nnano.2012.193
- Radisavljevic B., Radenovic A., Brivio J. et al. // Nat. Nanotechnol. 2011. V. 6. № 3. P. 147. https://doi.org/10.1038/nnano.2010.279
- Chen Y.L., Analytis J.G., Chu J.-H. et al. // Science. 2009. V. 325. № 5937. P. 178. https://doi.org/0.1126/science.1173034
- Jariwala D., Sangwan V.K., Lauhon L.J. et al. // ACS Nano. 2014. V. 8. № 2. P. 1102. https://doi.org/10.1021/nn500064s
- Miao N., Xu B., Bristowe N.C. et al. // J. Am. Chem. Soc. 2017. V. 139. № 32. P. 11125. https://doi.org/10.1021/jacs.7b05133
- Kumar H., Frey N.C., Dong L. et al. // ACS Nano. 2017. V. 11. № 8. P. 7648. https://doi.org/10.1021/acsnano.7b02578
- Tan C., Cao X., Wu X.-J. et al. // Chem. Rev. 2017. V. 117. № 9. P. 6225. https://doi.org/10.1021/acs.chemrev.6b00558
- Xu M., Liang T., Shi M. et al. // Chem. Rev. 2013. V. 113. № 5. P. 3766. https://doi.org/10.1021/cr300263a
- Gribanova T.N., Minyaev R.M., Minkin V.I. et al. // Struct. Chem. 2020. V. 31. № 6. P. 2105. https://doi.org/10.1007/s11224-020-01606-9
- Kaneti Y.V., Benu D.P., Xu X. et al. // Chem. Rev. 2022. V. 122. № 1. P. 1000. https://doi.org/10.1021/acs.chemrev.1c00233
- Yadav S., Sadique M.A., Kaushik A. et al. // J. Mater. Chem. B. 2022. V. 10. № 8. P. 1146. https://doi.org/10.1039/d1tb02277f
- Wang Z.-Q., Lü T.-Y., Wang H.-Q. et al. // Front. Phys. 2019. V. 14. № 3. P. 33403. https://doi.org/10.1007/s11467-019-0884-5
- An J.M., Pickett W.E. // Phys. Rev. Lett. 2001. V. 86. № 19. P. 4366. https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.86.4366
- Kortus J., Mazin I.I., Belashchenko K.D. et al. // Phys. Rev. Lett. 2001. V. 86. № 20. P. 4656. https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.86.4656
- Choi H.J., Roundy D., Sun H. et al. // Nature. 2002. V. 418. № 6899. P. 758. https://doi.org/10.1038/nature00898
- Gribanova T.N., Minyaev R.M., Minkin V.I. // Chem. Phys. 2019. V. 522. P. 44. https://doi.org/10.1016/j.chemphys.2019.02.008
- Gribanova T.N., Minyaev R.M., Minkin V.I. // Struct. Chem. 2018. V. 29. № 1. P. 327. https://doi.org/10.1007/s11224-017-1031-y
- Gribanova T.N., Minyaev R.M., Minkin V.I. // Struct. Chem. 2017. V. 28. № 2. P. 357. https://doi.org/10.1007/s11224-016-0886-7
- Gribanova T.N., Minyaev R.M., Minkin V.I. // Mendeleev Commun. 2016. V. 26. № 6. P. 485. https://doi.org/10.1016/j.mencom.2016.11.008
- Steglenko D.V., Gribanova T.N., Minyaev R.M. // J. Phys. Chem. C. 2023. V. 127. № 31. P. 15533. https://doi.org/10.1021/acs.jpcc.3c02427
- John D., Nharangatt B., Chatanathod R. // J. Mater. Chem. C. 2019. V. 7. № 37. P. 11493. https://doi.org/10.1039/c9tc03628h
- Tang H., Ismail-Beigi S. // Phys. Rev. B. 2009. V. 80. № 13. P. 134113. https://doi.org/10.1103/PhysRevB.80.134113
- Penev E.S., Kutana A., Yakobson B.I. // Nano Lett. 2016. V. 16. № 4. P. 2522. https://doi.org/10.1021/acs.nanolett.6b00070
- Steglenko D.V., Gribanova T.N., Minyaev R.M. et al. // Russ. J. Inorg. Chem. 2023. V. 68. P. 60. https://doi.org/10.1134/s0036023622601477
- Kresse G., Hafner J. // Phys. Rev. B. 1993. V. 47. № 1. P. 558. https://doi.org/10.1103/PhysRevB.47.558
- Kresse G., Hafner J. // Phys. Rev. B. 1994. V. 49. № 20. P. 14251. https://doi.org/10.1103/PhysRevB.49.14251
- Kresse G., Furthmüller J. // Phys. Rev. B. 1996. V. 54. № 16. P. 11169. https://doi.org/10.1103/PhysRevB.54.11169
- Kresse G., Furthmüller J. // Comput. Mater. Sci. 1996. V. 6. №. 1. P. 15. https://doi.org/10.1016/0927-0256(96)00008-0
- Perdew J.P., Burke K., Ernzerhof M. // Phys. Rev. Lett. 1996. V. 77. № 18. P. 3865. https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.77.3865
- Blöchl P.E. // Phys. Rev. B. 1994. V. 50. № 24. P. 17953. https://doi.org/10.1103/PhysRevB.50.17953
- Kresse G., Joubert D. // Phys. Rev. B. 1999. V. 59. № 3. P. 1758. https://doi.org/10.1103/PhysRevB.59.1758
- Monkhorst H.J., Pack J.D. // Phys. Rev. B. 1976. V. 13. № 12. P. 5188. https://doi.org/10.1103/PhysRevB.13.5188
- Togo A., Tanaka I. // Scripta Mater. 2015. V. 108. P. 1. https://doi.org/10.1016/j.scriptamat.2015.07.021
- Nosé S. // J. Chem. Phys. 1984. V. 81. № 1. P. 511. https://doi.org/10.1063/1.447334
- Koichi M., Fujio I. // J. Appl. Crystallogr. 2011. V. 44. № 6. P. 1272. https://doi.org/10.1107/S0021889811038970
- Stokes H.T., Hatch D.M. // J. Appl. Crystallogr. 2005. V. 38. № 1. P. 237. https://doi.org/10.1107/S0021889804031528
- Emsley J. The elements. Oxford, 1991.
- Mouhat F., Coudert F.-X. // Phys. Rev. B. 2014. V. 90. № 22. P. 224104. https://doi.org/10.1103/PhysRevB.90.224104
- Lubarda V.A., Chen M.C. // J. Mech. Mater. Struct. 2008. V. 3. № 1. P. 153. https://doi.org/10.2140/jomms.2008.3.153
- Wei X., Fragneaud B., Marianetti C.A. et al. // Phys. Rev. B. 2009. V. 80. № 20. P. 205407. https://doi.org/10.1103/PhysRevB.80.205407
- Cadelano E., Palla P.L., Giordano S. et al. // Phys. Rev. B. 2010. V. 82. № 23. P. 235414. https://doi.org/10.1103/PhysRevB.82.235414
- Klintenberg M., Lebègue S., Ortiz C. et al. // J. Phys.: Condens. Matter. 2009. V. 21. № 33. P. 335502. https://doi.org/10.1088/0953-8984/21/33/335502
- Lee C., Wei X., Kysar J.W. et al. // Science. 2008. V. 321. № 5887. P. 385. https://doi.org/10.1126/science.1157996
- Kudin K.N., Scuseria G.E., Yakobson B.I. // Phys. Rev. B. 2001. V. 64. № 23. P. 235406. https://doi.org/10.1103/PhysRevB.64.235406
- Peng Q., Ji W., De S. // Comput. Mater. Sci. 2012. V. 56. P. 11. https://doi.org/10.1016/j.commatsci.2011.12.029
- Falin A., Cai Q., Santos E.J.G. et al. // Nat. Commun. 2017. V. 8. № 1. P. 15815. https://doi.org/10.1038/ncomms15815
- Cooper R.C., Lee C., Marianetti C.A. et al. // Phys. Rev. B. 2013. V. 87. № 3. P. 035423. https://doi.org/10.1103/PhysRevB.87.035423
- Bertolazz S., Brivio J., Kis A. // ACS Nano. 2011. V. 5. № 12. P. 9703. https://doi.org/10.1021/nn203879f
- Steglenko D.V., Tkachenko N.V., Boldyrev A.I. et al. // J. Comput. Chem. 2020. V. 41. № 15. P. 1456. https://doi.org/10.1002/jcc.26189
- Fedik N., Steglenko D.V., Muñoz-Castro A. et al. // J. Phys. Chem. C. 2021. V. 125. № 31. P. 17280. https://doi.org/10.1021/acs.jpcc.1c02939
- Peng Q., Wen X., De S. // RSC Adv. 2013. V. 3. № 33. P. 13772. https://doi.org/10.1039/c3ra41347k
- Şahin H., Cahangirov S., Topsakal M. et al. // Phys. Rev. B. 2009. V. 80. № 15. P. 155453. https://doi.org/10.1103/PhysRevB.80.155453
- Ding J., Xu M., Guan P.F. et al. // J. Chem. Phys. 2014. V. 140. № 6. P. 064501. https://doi.org/10.1063/1.4864106
- Sun J., Liu P., Wang M. et al. // Sci. Rep. 2020. V. 10. № 1. P. 3408. https://doi.org/10.1038/s41598-020-60416-5
补充文件








