Polyol synthesis of silver nanowires and their application for transparent electrodes fabrication

Мұқаба

Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Аннотация

Polyol synthesis of thin silver nanowires has been studied and their suitability for the formation of transparent electrodes has been shown. The influence of stepwise heating of the reaction system on the position and shape of the absorption band associated with the surface plasmon resonance of the formed silver nanostructures has been determined. Using X-ray diffraction analysis it was found that the material does not contain crystalline impurities and has a face-centered cubic lattice. According to the scanning and transmission electron microscopy data, the main fraction is represented by elongated nanostructures with 10–15 μm length (however, there are also structures with length up to 20 μm) characteristic for silver nanowires of arc-shaped type. It is shown that the Ag nanowires obtained are quite thin (diameter is about 35–45 nm). Also in the composition of the material some amount of microrods of 1–3 µm length is observed, the diameter of which grows from 70 to 150 nm with decreasing length. In smaller quantities there is also an admixture of zero-dimensional particles, which are polyhedrons of various complexity. Atomic force microscopy has been used to study the surface of the film based on the obtained silver nanowires and the diameter of individual nanowire has been estimated. The optical properties and surface resistivity of the films based on the obtained silver nanowires were examined. It was found that the increase in transmittance at 550 nm from 73.9 to 90.3% is accompanied by an increase in the resistance value from 25 to 146 Ω/sq.

Толық мәтін

Введение

Динамичное развитие современных устройств микроэлектроники [1, 2], фотовольтаики [3, 4], альтернативной энергетики [5, 6], оптики [7, 8], биосенсорики [9, 10] и медицины [11, 12] требует усовершенствования технологий создания прозрачных электродов, способных демонстрировать высокие показатели пропускания в УФ- и видимой области спектра, низкое поверхностное сопротивление и низкую шероховатость, термостойкость, а также механическую гибкость, что немаловажно при разработке гибких и носимых устройств. Наиболее широко используемые на сегодняшний день прозрачные электроды на основе системы In2O3–SnO2 (ITO) обладают низким поверхностным сопротивлением (~10 Ом/кв) и высоким пропусканием (>80%) в видимом диапазоне [13]. Тем не менее высокая стоимость индия, а также ограниченная устойчивость ITO-пленок к циклам сгибания/разгибания, которая выражается в растрескивании и снижении электропроводности электродов, снижают перспективы их дальнейшего эффективного использования при создании коммерчески доступных гибких электронных устройств [14]. В качестве достойной альтернативы электродам на базе ITO все чаще рассматривают серебряные нанопроволоки (Ag-НП), представляющие собой протяженные наноструктуры с высоким аспектным отношением (до нескольких тысяч [15]) и характеризующиеся низким сопротивлением (в том числе ~2.5 Ом/кв [14]), высоким оптическим пропусканием (до 91% [16]) и механической гибкостью (~1000 циклов сгибания/разгибания [17]). В различных исследовательских работах, посвященных тематике формирования прозрачных электропроводящих покрытий на основе серебряных нанопроволок, сообщается, что факторами, оказывающими определяющее влияние на оптические и электрофизические свойства итоговых электродов, являются микроструктура Ag-НП (аспектное отношение, однородность, шероховатость), их химическая чистота и устойчивость, а также равномерность распределения нанопроволок по поверхности подложки в процессе нанесения пленок [18–22]. Одним из наиболее востребованных и перспективных методов синтеза серебряных наноструктур с различной морфологией, в том числе в виде одномерных нанообъектов, является полиольный метод [23]. К преимуществам данного подхода можно отнести возможность управления морфологией и кинетикой процесса формирования нанопроволок, достижение высокого практического выхода целевого продукта за относительно непродолжительное время синтеза (как правило, менее 1 ч), а также доказанная эффективность с точки зрения масштабирования и интеграции в промышленное производство [17, 24]. Ранее было продемонстрировано [25–27], что температура является одним из ключевых параметров полиольного синтеза, влияющих на микроструктурные особенности его целевых продуктов. Такая закономерность обусловлена возрастанием восстановительной способности используемых в данном случае многоатомных спиртов с ростом температуры обработки реакционной системы. В работе [28] показано, что при использовании в качестве растворителя этиленгликоля процесс его конверсии до гликольальдегида, который является активным восстановителем, протекает при повышенных температурах (>150°С). Так, в диапазоне температур 130–150°С зачастую фиксируется образование серебряных наностержней, а температура 170°С в ряде случаев считается оптимальной для формирования нанопроволок с высоким аспектным отношением и значительным практическим выходом. Дальнейшее повышение температуры (до 190 и 200°С), как правило, негативно сказывается на формировании вытянутых Ag-наноструктур, приводя к снижению аспектного отношения и появлению значительного количества нульмерных частиц. При более низкой температуре (110°С) наблюдается формирование частиц серебра, имеющих близкую к сферической форму. Авторы работы [29] наблюдали схожую зависимость и выдвинули предположение, что относительно низкая температура обработки не обеспечивает систему достаточной энергией для активации специфических граней, требуемых для анизотропного роста нанопроволок. Несмотря на активное изучение влияния температурного фактора на кинетику и механизм полиольного синтеза Ag-НП, величины оптимальных температурных интервалов для формирования серебряных нанопроволок с высоким аспектным отношением у разных авторских коллективов существенно различаются [28, 30–33], что свидетельствует об актуальности проведения дополнительных исследований.

Таким образом, цель настоящей работы – исследование процесса полиольного синтеза серебряных нанопроволок в ходе ступенчатого нагрева реакционной системы, а также оценка их пригодности для формирования электродов с высоким уровнем оптической прозрачности в видимом диапазоне и низким поверхностным сопротивлением.

Экспериментальная часть

Синтез серебряных нанопроволок проводили полиольным методом при ступенчатом нагреве реакционной системы. На первом этапе готовили следующие растворы: 0.090 г поливинилпирролидона в 11 мл этиленгликоля, 0.045 г нитрата серебра в 1.5 мл этиленгликоля, раствор хлорида железа в этиленгликоле с концентрацией катионов железа 3 × 10–3 моль/л. Далее раствор поливинилпирролидона при перемешивании (интенсивность перемешивания составляла 80 RPM) нагревали на масляной бане до 150°С и добавляли к нему 0.625 мл раствора хлорида железа в качестве источника хлорид-анионов. Затем добавлением к реакционной системе раствора нитрата серебра инициировали процесс формирования первичных наночастиц серебра, в результате раствор приобретал желтый оттенок. Далее продолжали термообработку системы в течение 30 мин. После этого температуру реакционной системы повышали до 160°С и выдерживали в течение 30 мин. На следующем этапе аналогичным образом нагревали систему до 170°С и также проводили термообработку в течение 30 мин.

В процессе проведения полиольного синтеза каждые 30 мин из реакционной системы отбирали пробы объемом 0.5 мл и с помощью центрифугирования отделяли твердую фазу от маточного раствора. После удаления маточного раствора осадок диспергировали в этиловом спирте для очистки его от поливинилпирролидона с последующим отделением серебряных наноструктур. Для гомогенизации осадка в этиловом спирте систему подвергали обработке с помощью вортекса. Процедуру очистки металлических частиц повторяли трижды.

Для оценки оптических характеристик формируемых серебряных наноструктур использовали УФ-Вид-спектрофотометр СФ-56 (ОКБ “Спектр”), регистрируя спектры поглощения разбавленных в 50 раз дистиллированной водой проб, отбираемых через каждые 30 мин термообработки реакционной системы. Cпектры записывали в интервале длин волн 300–700 нм с разрешением 1 нм с использованием кварцевой кюветы толщиной 10 мм.

Пленки на основе полученных серебряных нанопроволок наносили на поверхность стеклянных подложек размером 25 × 10 × 1 мм капельным методом с использованием соответствующей дисперсной системы в среде этилового спирта (массовая доля Ag-НП составляла ~0.2%), варьируя объем пробы в интервале 7–20 мкл. Сушку сформированных пленок осуществляли при комнатной температуре (22 ± 2°С) в течение 10 мин. Поверхностное сопротивление пленок на основе Ag-НП измеряли с помощью лабораторного мультиметра и специализированной ячейки.

Кристаллическую структуру пленки на основе полученных серебряных нанопроволок исследовали методом рентгенофазового анализа (РФА) в диапазоне углов 2θ 20°–80° на дифрактометре Bruker D8 Advance (CuKα-излучение, λ = 1.5418 Å, Ni-фильтр, E = 40 кэВ, I = 40 мА) с разрешением 0.02°, время накопления сигнала в точке 0.3 с.

Особенности микроструктуры полученных нанопроволок были изучены с помощью растровой (РЭМ; двулучевой сканирующий электронно-ионный микроскоп FIB-SEM Tescan Amber, ускоряющее напряжение 2 кВ) и просвечивающей (ПЭМ; Jeol Jem-1011 с цифровой фотокамерой Orius Sc1000w) электронной микроскопии.

Атомно-силовую микроскопию (АСМ) полученных серебряных наноструктур, нанесенных на алюминиевую подложку капельным методом, проводили на микроскопе Solver-Pro (NT-MDT, Зеленоград, Россия). Все измерения выполняли на воздухе в полуконтактном режиме с использованием зонда серии ETALON HA_HR с радиусом скругления острия <35 нм и резонансной частотой 210 кГц.

Результаты и обсуждение

В связи с тем, что серебряные наноструктуры характеризуются поверхностным плазмонным резонансом (ППР), изучение взаимосвязи их микроструктурных и оптических свойств является важной задачей материаловедения. Поэтому для контроля процесса образования соответствующих наночастиц и их микроструктурной эволюции зачастую удобно использовать УФ-Вид-спектрофотометрию. Как видно из спектров поглощения отобранных в ходе полиольного синтеза проб (рис. 1а), ступенчатый нагрев реакционной системы, сопровождающийся выдержкой в течение 30 мин при соответствующей температуре, приводит к заметным изменениям положения и формы полосы поглощения, связанной с проявлением ППР. Так, для образца, полученного в результате термообработки при 150°С в течение 30 мин, наблюдается полоса поглощения с максимумом при 410 нм, связанная с поверхностным плазмонным резонансом первичных серебряных наночастиц [34]. Дальнейший нагрев системы и ее термообработка в течение 30 мин при 160°С приводят к существенным изменениям формы полосы поглощения, а также к увеличению ее интенсивности. В частности, максимум полосы поглощения смещается в более коротковолновую область спектра (до 377 нм) и появляется плечо около 354 нм, которые характерны для достаточно тонких Ag-НП и могут быть отнесены к поперечным модам ППР нанопроволок с пентагональным поперечным сечением. Таким образом, можно предположить, что на данном этапе начинается активное формирование серебряных нанопроволок. Тем не менее в спектре при длине волны >400 нм также наблюдается сигнал, свидетельствующий о сохранении существенного количества первичных серебряных наночастиц, что говорит о незавершенности процесса формирования серебряных нанопроволок. Повышение температуры до 170°С и дополнительная термообработка приводят к минимизации вклада от первичных наночастиц серебра, некоторому увеличению интенсивности основной полосы поглощения и еще более существенному увеличению интенсивности плеча около 354 нм. Форма полосы поглощения итоговой реакционной системы позволяет предположить, что основной процесс формирования Ag-НП был завершен, а дополнительное смещение максимума в коротковолновую область спектра (до 376 нм) говорит о том, что в ходе полиольного синтеза образовались достаточно тонкие нанопроволоки диаметром <50 нм [35].

 

Рис. 1. УФ-Вид-спектры поглощения реакционной системы после ее ступенчатой термообработки в течение 30 мин при различных температурах (а) и рентгенограмма пленки на основе сформированных серебряных нанопроволок (б)

 

Кристаллическая структура пленки на основе синтезированных Ag-НП, нанесенной на поверхность стеклянной подложки (объем пробы 20 мкм), была изучена с помощью РФА (рис. 1б). В результате для сформированной пленки зафиксировано два рефлекса, относящихся к кристаллографическим плоскостям (111) и (200) гранецентрированной кубической решетки серебра (пр. гр. Fm3¯m, JCPDS #99-0094). Следует отметить, что в литературе для подобных материалов наиболее распространен более широкий набор рефлексов. В связи с этим полученные нами серебряные нанопроволоки, по-видимому, характеризуются некоторой спецификой кристаллической структуры, когда рост кристаллов вдоль плоскостей (220), (311) и (222) ограничен. Данные результаты косвенно свидетельствуют о текстурировании материала и формировании анизотропных наноструктур. Об этом же говорит и увеличенное значение отношения интенсивностей сигналов (111) и (200), составившее 4.7 (по сравнению с теоретическим значением 2.5). Тем не менее результаты РФА не являются достаточным подтверждением формирования частиц с определенной микроструктурой, поэтому необходимо привлечение дополнительных методов. Зачастую серебряные нанопроволоки в процессе синтеза, хранения и использования подвергаются частичному окислению, что может приводить к ухудшению их электропроводности. В нашем случае, как видно из рентгенограммы, примесь оксида серебра не зафиксирована, а имеются сигналы только от металлических наноструктур.

Микроструктура полученных полиольным методом серебряных нанопроволок была изучена методом РЭМ. Так, микрофотографии (рис. 2а) свидетельствуют о формировании материала с целевой морфологией. Основная фракция представляет собой протяженные наноструктуры длиной 10–15 мкм характерной для Ag-НП дугообразной формы, что хорошо согласуется с результатами РФА. Помимо серебряных нанопроволок наблюдаются наностержни длиной 1–3 мкм, обладающие увеличенным по сравнению с нанопроволоками диаметром (~80 нм), а также небольшое количество нульмерных частиц. Согласно полученным результатам (рис. 2б), в ряде случаев серебряные нанопроволоки соединяются боковыми гранями, что в процессе термообработки реакционной системы, вероятно, может приводить к их рекристаллизации и образованию одномерных структур большего диаметра. Подобное объединение Ag-НП может сопровождаться появлением дефектов в кристаллической структуре и, следовательно, возникновением микронапряжений, в результате чего происходит разрушение крупной нанопроволоки. Поэтому, по-видимому, и формируются примеси, представляющие собой микростержни и нульмерные частицы размером 100–200 нм. При большем увеличении видно, что полученные серебряные нанопроволоки являются очень тонкими (диаметр составляет ~35–45 нм), что хорошо согласуется с результатами УФ-Вид-спектрофотометрии (положение максимума основной полосы поглощения при 376 нм свидетельствует о формировании тонких нанопроволок). Следует отметить, что в литературе зачастую сообщается о необходимости усложнения состава реакционной системы для образования серебряных нанопроволок диаметром <50 нм, которые являются предпочтительными для получения токопроводящих пленок, характеризующихся высокой электропроводностью и низким поглощением в видимом диапазоне электромагнитного спектра. В нашем случае образование тонких Ag-НП можно объяснить особенностями режима термообработки. Анализ поверхности сформированных одномерных наноструктур свидетельствует о том, что они обладают ограненными боковыми поверхностями, это наиболее заметно для наностержней, имеющих большее значение диаметра. Таким образом, особенности микроструктуры материала дополнительно свидетельствуют и о хорошо сформированной кристаллической структуре.

 

Рис. 2. Микроструктура полученных серебряных нанопроволок (по данным РЭМ)

 

Для более подробного анализа микроструктуры полученного материала использовали ПЭМ (рис. 3), ее результаты хорошо согласуются с данными РЭМ, в частности, образовавшиеся серебряные нанопроволоки в среднем имеют длину ~10–15 мкм, но встречаются и более длинные структуры (длиной до 20 мкм). Также в составе материала наблюдается некоторое количество микростержней длиной 1–3 мкм, диаметр которых увеличивается от 70 до 150 нм при уменьшении длины (рис. 3б, 3в). В меньшем количестве встречается примесь из нульмерных частиц, представляющих собой полиэдры различной сложности. Указанные примесные структуры (микростержни и нульмерные частицы) могут быть отделены от основной части серебряных нанопроволок путем фракционирования с целью достижения более высокой прозрачности соответствующих токопроводящих пленок. Результаты ПЭМ позволили более точно определить диаметр сформированных Ag-НП (рис. 3 г). Видно, что основное количество одномерных наноструктур характеризуется диаметром 35–45 нм, это подтверждают данные РЭМ и УФ-Вид-спектрофотометрии. Кроме того, результаты ПЭМ наглядно свидетельствуют о том, что Ag-НП имеют ограненные боковые поверхности, как это наблюдалось при изучении их микроструктуры методом РЭМ.

 

Рис. 3. Микроструктура полученных серебряных нанопроволок (по данным ПЭМ)

 

Поверхность пленки на основе полученных серебряных нанопроволок была изучена с использованием АСМ. Соответствующие топографические изображения (рис. 4а–4в) подтверждают характер микроструктуры материала, наблюдаемый с помощью электронной микроскопии. На изображении участка поверхности площадью 225 мкм2 видно (рис. 4а), что пленка представляет собой сеть из 3–5 слоев взаимно пересекающихся одномерных наноструктур длиной ~10 мкм, а максимальный перепад высот на указанной площади составляет ~450 нм, что сопоставимо с величиной данного параметра для чистой подложки. Таким образом, исследуемая пленка является достаточно тонкой и однородной. Как и ранее, в составе материала помимо Ag-нанопроволок присутствует некоторое количество микростержней, а также нульмерных частиц. Благодаря возможностям метода, которые заключаются в трехмерном сканировании исследуемой поверхности, были изучены микроструктурные особенности отдельной нанопроволоки (рис. 4в) и построен профиль вдоль поперечного сечения (рис. 4 г). Видно, что в данном случае наблюдается завышенное значение диаметра (~200 нм), обусловленное геометрическими характеристиками используемого зонда. Результаты измерений по оси z в данном случае являются более корректными, они позволили оценить диаметр отдельной серебряной нанопроволоки на уровне ~35 нм, что соответствует величине данного параметра, определенной методами РЭМ и ПЭМ. Из данных АСМ также следует, что за счет достаточно большой длины Ag-НП относительно небольшие дефекты рельефа подложки могут быть скомпенсированы и не окажут существенного негативного влияния на электрофизические свойства формируемой пленки.

 

Рис. 4. Микроструктура полученных серебряных нанопроволок (по данным АСМ) (а–в) и профиль поперечного сечения (выделено белой линией на соответствующем топографическом изображении) для единичной нанопроволоки (г)

 

Оптические свойства пленок на основе полученных серебряных нанопроволок, нанесенных капельным методом на поверхность стеклянных подложек, были изучены с применением УФ-Вид-спектрофотометрии (рис. 5а). Для используемых стеклянных подложек при уменьшении длины волны излучения <350 нм существенно растет поглощение, что характерно для подобных материалов. При этом пропускание при 550 нм для чистой подложки составляет 91.3%. Как видно из спектров, для всех пленок на основе Ag-НП наблюдается характерная полоса поглощения, относящаяся к плазмонному резонансу соответствующих одномерных наноструктур. При увеличении объема дисперсной системы, используемой для формирования пленки, уменьшается пропускание во всем исследуемом диапазоне длин волн. Следует отметить, что максимум основной полосы поглощения при увеличении используемого объема дисперсии заметно смещается в сторону бόльших длин волн – от 352 (для объема дисперсии 7 мкл) до 358 нм (20 мкл). Это же приводит к постепенному снижению пропускания и при 550 нм: 90.3 (7 мкл), 88.2 (10 мкл), 81.3 (15 мкл) и 73.9% (20 мкл). Для полученных таким образом пленок на основе серебряных нанопроволок выполнена оценка поверхностного сопротивления (Rs). Как видно из рис. 5б, увеличение пропускания при 550 нм (T550 нм) сопровождается ростом величины Rs по логарифмическому закону. Так, при T550 нм = 73.9% (объем дисперсной системы 20 мкл) значение поверхностного сопротивления составляет 25 Ом/кв. С ростом пропускания до 81.3% величина Rs также увеличивается, но остается на достаточно низком уровне (33 Ом/кв). Для пленки, характеризующейся пропусканием 88.2%, поверхностное сопротивление растет до 56 Ом/кв, а при T550 нм = 90.3% данный параметр составляет 146 Ом/кв. Указанные результаты по соотношению прозрачности и электропроводности пленок на основе полученных серебряных нанопроволок хорошо согласуются с литературой и свидетельствуют о соответствии указанных характеристик требованиям, предъявляемым к прозрачным токопроводящим пленкам [36].

 

Рис. 5. УФ-Вид-спектры пропускания для стеклянной подложки и пленок на основе полученных серебряных нанопроволок (после вычитания сигнала от подложки) (а) и зависимость пропускания пленок при 550 нм от поверхностного сопротивления (б)

 

Таким образом, в результате проведенного исследования был изучен процесс полиольного синтеза тонких серебряных нанопроволок при ступенчатом нагреве реакционной системы, а также показана их пригодность для формирования прозрачных электродов с высокой прозрачностью в видимом диапазоне и низким поверхностным сопротивлением. Для повышения прозрачности образующихся пленок используемые серебряные нанопроволоки могут быть дополнительно очищены от присутствующих в некотором количестве микростержней и нульмерных частиц путем фракционирования.

Заключение

В ходе исследования изучен процесс синтеза тонких серебряных нанопроволок полиольным методом, а также показана их пригодность при формировании прозрачных электродов. Показано, что ступенчатый нагрев реакционной системы (150 → 160 → 170°С) приводит к заметным изменениям положения и формы полосы поглощения, связанной с проявлением поверхностного плазмонного резонанса образующихся серебряных наноструктур. С помощью РФА для полученных серебряных нанопроволок зафиксировано только два рефлекса, относящихся к кристаллографическим плоскостям (111) и (200) гранецентрированной кубической решетки серебра. При этом в составе материала не обнаружено каких-либо кристаллических примесей, в том числе оксида серебра. По данным РЭМ, основная фракция представляет собой протяженные наноструктуры длиной 10–15 мкм характерной для Ag-НП дугообразной формы. В ряде случаев серебряные нанопроволоки соединяются боковыми гранями, что в процессе термообработки реакционной системы, вероятно, может приводить к их рекристаллизации и образованию одномерных структур большего диаметра. Установлено, что полученные Ag-НП являются очень тонкими (диаметр ~35–45 нм), что хорошо согласуется с результатами УФ-Вид-спектрофотометрии. Результаты ПЭМ также свидетельствуют о том, что образовавшиеся серебряные нанопроволоки в среднем имеют длину ~10–15 мкм, но встречаются и более длинные структуры (длиной до 20 мкм). Также в составе материала присутствует некоторое количество микростержней длиной 1–3 мкм, диаметр которых увеличивается от 70 до 150 нм при уменьшении длины. В меньшем количестве встречается примесь из нульмерных частиц, представляющих собой полиэдры различной сложности. С помощью АСМ изучена поверхность пленки на основе полученных серебряных нанопроволок и проведена оценка диаметра отдельной серебряной нанопроволоки, который составил ~35 нм. Из результатов АСМ также следует, что за счет достаточно большой длины Ag-НП относительно небольшие дефекты рельефа подложки могут быть скомпенсированы и не окажут существенного негативного влияния на электрофизические свойства формируемой пленки. В рамках исследования изучены оптические свойства и поверхностное сопротивление пленок на основе полученных серебряных нанопроволок. Показано, что увеличение пропускания при 550 нм от 73.9 до 90.3% сопровождается ростом величины Rs от 25 до 146 Ом/кв. Полученные результаты по соотношению прозрачности и электропроводности пленок хорошо согласуются с литературой и свидетельствуют о соответствии указанных характеристик требованиям, предъявляемым к прозрачным токопроводящим пленкам.

Финансирование работы

Исследование выполнено при поддержке Российского научного фонда (грант № 23-79-10081), https://rscf.ru/project/23-79-10081/.

Конфликт интересов

Авторы заявляют, что у них нет конфликта интересов.

×

Авторлар туралы

N. Simonenko

Kurnakov Institute of General and Inorganic Chemistry of the Russian Academy of Sciences

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: n_simonenko@mail.ru
Ресей, Moscow, 119991

Т. Simonenko

Kurnakov Institute of General and Inorganic Chemistry of the Russian Academy of Sciences

Email: n_simonenko@mail.ru
Ресей, Moscow, 119991

Ph. Gorobtsov

Kurnakov Institute of General and Inorganic Chemistry of the Russian Academy of Sciences

Email: n_simonenko@mail.ru
Ресей, Moscow, 119991

P. Arsenov

Moscow Institute of Physics and Technology (National Research University)

Email: n_simonenko@mail.ru
Ресей, Dolgoprudny, Moscow Region, 141701

I. Volkov

Moscow Institute of Physics and Technology (National Research University)

Email: n_simonenko@mail.ru
Ресей, Dolgoprudny, Moscow Region, 141701

Е. Simonenko

Kurnakov Institute of General and Inorganic Chemistry of the Russian Academy of Sciences

Email: n_simonenko@mail.ru
Ресей, Moscow, 119991

Әдебиет тізімі

  1. Shukla D., Liu Y., Zhu Y. // Nanoscale. 2023. V. 15. № 6. P. 2767. https://doi.org/10.1039/D2NR05840E
  2. Zhang L., Song T., Shi L. et al. // J. Nanostructure Chem. 2021. V. 11. № 3. P. 323. https://doi.org/10.1007/s40097-021-00436-3
  3. Yang J., Yu F., Chen A. et al. // Adv. Powder Mater. 2022. V. 1. № 4. P. 100045. https://doi.org/10.1016/j.apmate.2022.100045
  4. Shen J.-J. // Synth. Met. 2021. V. 271. P. 116582. https://doi.org/10.1016/j.synthmet.2020.116582
  5. Zhao W., Jiang M., Wang W. et al. // Adv. Funct. Mater. 2021. V. 31. № 11. https://doi.org/10.1002/adfm.202009136
  6. Kiruthika S., Sneha N., Gupta R. // J. Mater. Chem. A. 2023. V. 11. № 10. P. 4907. https://doi.org/10.1039/D2TA07836H
  7. Huang L., Chen X., Wu X. et al. // Flex. Print. Electron. 2023. V. 8. № 2. P. 025021. https://doi.org/10.1088/2058-8585/acdb84
  8. Lee J., Lee Y., Ahn J. et al. // J. Mater. Chem. С. 2017. V. 5. № 48. P. 12800. https://doi.org/10.1039/C7TC04840H
  9. Wang Y., Kong J., Xue R. et al. // Nano Res. 2023. V. 16. № 1. P. 1558. https://doi.org/10.1007/s12274-022-4757-9
  10. Oh D.E., Lee C.-S., Kim T.W. et al. // Biosensors. 2023. V. 13. № 7. P. 704. https://doi.org/10.3390/bios13070704
  11. Jang J., Kim J., Shin H. et al. // Sci. Adv. 2021. V. 7. № 14. https://doi.org/10.1126/sciadv.abf7194
  12. Nguyen V.H., Papanastasiou D.T., Resende J. et al. // Small. 2022. V. 18. № 19. https://doi.org/10.1002/smll.202106006
  13. Elsokary A., Soliman M., Abulfotuh F. et al. // Sci. Rep. 2024. V. 14. № 1. P. 3045. https://doi.org/10.1038/s41598-024-53286-8
  14. Kumar D., Stoichkov V., Brousseau E. et al. // Nanoscale. 2019. V. 11. № 12. P. 5760. https://doi.org/10.1039/C8NR07974A
  15. Fan Z., Wang J., He L. et al. // Langmuir. 2023. V. 39. № 30. P. 10651. https://doi.org/10.1021/acs.langmuir.3c01264
  16. Preston C., Fang Z., Murray J. et al. // J. Mater. Chem. С. 2014. V. 2. № 7. P. 1248. https://doi.org/10.1039/C3TC31726A
  17. Zhu Y., Deng Y., Yi P. et al. // Adv. Mater. Technol. 2019. V. 4. № 10. https://doi.org/10.1002/admt.201900413
  18. Liao Q., Hou W., Zhang J. et al. // Coatings. 2022. V. 12. № 11. P. 1756. https://doi.org/10.3390/coatings12111756
  19. Shi L. // Micro Nano Lett. 2023. V. 18. № 1. https://doi.org/10.1049/mna2.12151
  20. Hemmati S., Harris M.T., Barkey D.P. // J. Nanomater. 2020. V. 2020. P. 1. https://doi.org/10.1155/2020/9341983
  21. Duan X., Ding Y., Liu R. // Mater. Today Energy. 2023. V. 37. P. 101409. https://doi.org/10.1016/j.mtener.2023.101409
  22. Wang Y.H., Yang X., Du D.X. et al. // J. Mater. Sci. Mater. Electron. 2019. V. 30. № 14. P. 13238. https://doi.org/10.1007/s10854-019-01687-1
  23. Fahad S., Yu H., Wang L. et al. // J. Mater. Sci. 2019. V. 54. № 2. P. 997. https://doi.org/10.1007/s10853-018-2994-9
  24. Fiévet F., Ammar-Merah S., Brayner R. et al. // Chem. Soc. Rev. 2018. V. 47. № 14. P. 5187. https://doi.org/10.1039/C7CS00777A
  25. Zhang P., Wyman I., Hu J. et al. // Mater. Sci. Eng., B. 2017. V. 223. P. 1. https://doi.org/10.1016/j.mseb.2017.05.002
  26. Araki T., Jiu J., Nogi M. et al. // Nano Res. 2014. V. 7. № 2. P. 236. https://doi.org/10.1007/s12274-013-0391-x
  27. Bergin S.M., Chen Y.-H., Rathmell A.R. et al. // Nanoscale. 2012. V. 4. № 6. P. 1996. https://doi.org/10.1039/c2nr30126a
  28. Coskun S., Aksoy B., Unalan H.E. // Cryst. Growth Des. 2011. V. 11. № 11. P. 4963. https://doi.org/10.1021/cg200874g
  29. Sun Y., Gates B., Mayers B. et al. // Nano Lett. 2002. V. 2. № 2. P. 165. https://doi.org/10.1021/nl010093y
  30. Basarir F., De S., Daghigh Shirazi H. et al. // Nanoscale Adv. 2022. V. 4. № 20. P. 4410. https://doi.org/10.1039/D2NA00560C
  31. Kaili Z., Yongguo D., Shimin C. // J. Nanosci. Nanotechnol. 2016. V. 16. № 1. P. 480. https://doi.org/10.1166/jnn.2016.12158
  32. Lai X., Feng X., Zhang M. et al. // J. Nanoparticle Res. 2014. V. 16. № 3. P. 2272. https://doi.org/10.1007/s11051-014-2272-y
  33. Jiu J., Araki T., Wang J. et al. // J. Mater. Chem. A. 2014. V. 2. № 18. P. 6326. https://doi.org/10.1039/C4TA00502C
  34. Mao H., Feng J., Ma X. et al. // J. Nanoparticle Res. 2012. V. 14. № 6. P. 887. https://doi.org/10.1007/s11051-012-0887-4
  35. Lee E.-J., Chang M.-H., Kim Y.-S. et al. // APL Mater. 2013. V. 1. № 4. P. 042118. https://doi.org/10.1063/1.4826154
  36. Ha H., Amicucci C., Matteini P. et al. // Colloid Interface Sci. Commun. 2022. V. 50. P. 100663. https://doi.org/10.1016/j.colcom.2022.100663

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML
Жүктеу
2. Fig. 1. UV-Vis absorption spectra of the reaction system after its stepwise heat treatment for 30 min at different temperatures (a) and an X-ray diffraction pattern of the film based on the formed silver nanowires (b)

Жүктеу (149KB)
Метадеректер
3. Fig. 2. Microstructure of the obtained silver nanowires (according to SEM data)

Жүктеу (996KB)
Метадеректер
4. Fig. 3. Microstructure of the obtained silver nanowires (according to TEM data)

Жүктеу (712KB)
Метадеректер
5. Fig. 4. Microstructure of the obtained silver nanowires (according to AFM data) (a–c) and the cross-sectional profile (highlighted by a white line in the corresponding topographic image) for a single nanowire (d)

Жүктеу (439KB)
Метадеректер
6. Fig. 5. UV-Vis transmission spectra for the glass substrate and films based on the obtained silver nanowires (after subtracting the signal from the substrate) (a) and the dependence of the film transmission at 550 nm on the surface resistance (b)

Жүктеу (135KB)
Метадеректер

© Russian Academy of Sciences, 2024

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».